Temat projektu/pracy dyplomowej
inżynierskiej (jęz. pol.)
Elipsometryczna i reflektometryczna ocena cienkich struktur diamentowych domieszkowanych borem
Temat projektu/pracy dyplomowej
inżynierskiej (jęz. ang.)
Ellipsometry and reflectometry study of thin boron-doped diamond structures
Opiekun pracy dr inż. Robert Bogdanowicz Konsultant pracy
Cel pracy Podstawowym zadaniem do zrealizowania będą badania cienkich warstw diamentowych z użyciem technik elipsometrycznych oraz reflektometrycznych.
Ocena parametrów optycznych oraz grubości warstw.
Zadania do wykonania 1. Studia literaturowe dotycząca właściwości optycznych diamentu 2. Badanie reflektometryczne warstw – ocena grubości i reflektancji
3. Pomiary elipsometryczne warstw – modelowanie i określenie współczynnika załamania oraz absorpcji
4. Analiza i opracowanie wyników badań
Źródła [1]. E. D. Palik ed. Handbook of Optical Constants of Solids. Academic Press, New York (1985) [2]. H. G. Tomkins, Spectroscopic ellipsometry and Reflectometry. Wiley, New York (1999).
[3]. H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, . Wiley, New York (2007).
[4]. [2]. J. Stotter, J. Zak, Z. Behler, Y. Show, and G.M. Swain, Optical and Electrochemical Properties of Optically Transparent, Boron-Doped Diamond Thin Films Deposited on Quartz, Analytical Chemistry, (2002).
Liczba wykonawców 1
Uwagi Praca finansowana w ramach projektu naukowego NCBiR Lider
