• Nie Znaleziono Wyników

KATEDRA METROLOGII ELEKTRONICZNEJ I FOTONICZNEJ

BORKOWSKI ANDRZEJ

1365. Trojanowski S., BORKOWSKI A.: Termometr z tranzystorem jako czujnikiem temperatu-ry. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 261-262, 1 rys. biblio-gr. 4 poz.

BORKOWSKI JÓZEF S

1366. BORKOWSKI J. S., MROCZKA J.: Multifrequency signal analysis of the optic sensor in the LIDFT method. Metrol. Meas. Syst. 2004 vol. 11 nr 4 s. 377-384, 6 rys. bibliogr. 11 poz.

1367. BORKOWSKI J. S., MROCZKA J.: Wagowa estymacja zmiennych w czasie parametrów układu RC w dziedzinie częstotliwości dla pobudzeń okresowych. W: Metrologia w proce-sie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 591-594, 2 rys. bibliogr. 2 poz.

ƒ Komunikacja procesorów sygnałowych TMS320 z komputerem PC. [Współaut.] zob. poz. 1409

ƒ System przetwarzania i wizualizacji sygnałów szybkozmiennych wykorzystujący procesor sygnałowy. [Współaut.] zob. poz. 1368

GŁOMB GRZEGORZ

1368. GŁOMB G., BORKOWSKI J. S., MROCZKA J.: System przetwarzania i wizualizacji sygnałów szybkozmiennych wykorzystujący procesor sygnałowy. Pomiary Autom. Kontr. 2004 z. 7/8 s. 32-34, 2 rys. bibliogr. 6 poz.

1369. GŁOMB G., MROCZKA J.: Oprogramowanie do pomiarów prędkości przepływu metodą obrazową PTV. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 271-274, 2 rys. bibliogr. 7 poz.

ƒ Komunikacja procesorów sygnałowych TMS320 z komputerem PC. [Współaut.] zob. poz. 1409

GRONCZYŃSKI JAROSŁAW

1370. GRONCZYŃSKI J.: Stabilność rekursywnych struktur filtrów o skończonej odpowiedzi impulsowej. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kon-gresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Me-trologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 301-304, 4 rys. bibliogr. 2 poz.

JABŁOŃSKI IRENEUSZ

1371. JABŁOŃSKI I., MROCZKA J.: Analiza metrologiczna techniki przerywanego przepływu w badaniach właściwości układu oddechowego. W: Metrologia w procesie poznania. Kon-gres Metrologii. KM. Materiały konKon-gresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 595-598, 4 rys. bibliogr. 18 poz.

1372. JABŁOŃSKI I., MROCZKA J.: Ocena przydatności techniki przerwaniowej w pomiarze nieliniowych charakterystyk układu oddechowego. W: Modelowanie i pomiary w medycy-nie. Materiały VI sympozjum pod red. Janusza Gajdy. Krynica, 9-13 maja 2004. Kraków: Wydaw. Katedry Metrologii AGH 2004 s. 57-66, 14 rys. 2 tab. bibliogr. 29 poz. Summ. JAGIELNICKI RYSZARD

1373. JAGIELNICKI R.: Modelowanie empirycznych charakterystyk impedancyjnych sypkich substancji organicznych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 703-706, 8 rys. bibliogr. 4 poz.

JANICZEK JANUSZ

1374. JANICZEK J.: Komparatorowy przetwornik analogowo-cyfrowy dla mikrokontrolerów rodziny MSP430. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 395-398, 4 rys. bibliogr. 5 poz.

1375. JANICZEK J.: Miernik przepływu i objętości. W: Metrologia w procesie poznania. Kon-gres Metrologii. KM. Materiały konKon-gresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 275-278, 2 rys. bibliogr. 8 poz.

1376. JANICZEK J.: Stanowisko do badania wybranych parametrów przetworników analogowo-cyfrowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kon-gresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Me-trologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 399-402, 4 rys. bibliogr. 5 poz.

1377. JANICZEK J.: Stanowisko uruchomieniowe dla mikrokontrolerów rodziny MSP430. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektro-nicznej i FotoElektro-nicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 403-406, 2 rys. bibliogr. 8 poz. 1378. JANICZEK J.: Układ do pomiaru masy. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres

Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 279-282, 1 rys. bibliogr. 4 poz.

1379. JANICZEK J., WOŹNIAK M.: Mikrokontrolery rodziny MSP430 w przyrządach pomia-rowych. Pomiary Autom. Robot. 2004 R. 7 nr 5 s. 21-23, 1 rys. bibliogr. 6 poz.

KASPRZAK BOGDAN

1380. KASPRZAK B., MROCZKA J., PĘKALA J.: Warstwowa architektura sieciowych syste-mów pomiarowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Mate-riały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Ka-tedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 411-414, 2 rys. bibliogr. 5 poz.

KONDRACIUK MARCIN

1381. KONDRACIUK M., MROCZKA J.: Sposób wyznaczenia rozkładu wielkości cząstek w metodzie turbidymetryczno-sedymentacyjnej. W: Metrologia w procesie poznania. Kon-gres Metrologii. KM. Materiały konKon-gresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 599-602, 4 rys. bibliogr. 7 poz.

MROCZKA JANUSZ

1382. Barzykowski J., Domańska A., Kujawińska M., MROCZKA J., Osowski S., Polański Z., Tlaga W., Turzeniecka D., Winiecki W.: Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane. Warszawa: WNT 2004, 573 s. rys. tab.

Bibliogr. przy rozdz.

1383. MROCZKA J., Kabza Z., Bartodziej G., Górecki K., Szmajda M., Polok N., Santarius P., Galvas J., Novosad B., Drapela J.: Analyza rusivych vlivu v napajeci siti nemocnicniho komplexu. Elektrotech. Praxi 2004 R. 14 cis. 3/4 s. 46-48, 6 rys. 2 tab. bibliogr. 2 poz. 1384. MROCZKA J., WYSOCZAŃSKI D.: Modelowanie parametrów optycznych erytrocytów.

W: Modelowanie i pomiary w medycynie. Materiały VI sympozjum pod red. Janusza Gaj-dy. Krynica, 9-13 maja 2004. Kraków: Wydaw. Katedry Metrologii AGH 2004 s. 137-141, 9 rys. bibliogr. 13 poz. Summ.

ƒ A transient state analysis of gas exchange in a human body. [Współaut.] zob. poz. 1393 ƒ Analiza metrologiczna techniki przerywanego przepływu w badaniach właściwości układu

oddechowego. [Współaut.] zob. poz. 1371

ƒ Analiza wpływu zjawiska rozpraszania światła w pomiarze spektrofotometrycznym. [Współaut.] zob. poz. 1394

ƒ Digital correction of nonlinear sensor dynamics by means of neural networks. [Współaut.] zob. poz. 1395

ƒ Fazowa anemometria dopplerowska w pomiarach właściwości fizycznych ośrodka wielo-fazowego. [Współaut.] zob. poz. 1410

ƒ Metoda estymacji zmiennych w czasie właściwości układu oddechowego wykorzystująca aprioryczną wiedzę o systemie. [Współaut.] zob. poz. 1390

ƒ Model dyfuzji fotonów w diagnostyce krwi. [Współaut.] zob. poz. 1404 ƒ Model symulacyjny sztucznej wentylacji pacjenta. [Współaut.] zob. poz. 1391

ƒ Multifrequency signal analysis of the optic sensor in the LIDFT method. [Współaut.] zob. poz. 1366

ƒ Nieparametryczne odtwarzanie sygnałów pomiarowych z wykorzystaniem sztucznych sieci neuronowych. [Współaut.] zob. poz. 1396

ƒ Ocena przydatności techniki przerwaniowej w pomiarze nieliniowych charakterystyk ukła-du oddechowego. [Współaut.] zob. poz. 1372

ƒ Oprogramowanie do pomiarów prędkości przepływu metodą obrazową PTV. [Współaut.] zob. poz. 1369

ƒ Parametry optyczne erytrocytów w badaniach utlenowania i ciśnienia osmotycznego krwi. [Współaut.] zob. poz. 1411

ƒ Rekurencyjne algorytmy estymacji parametrów układu oddechowego w czasie sztucznej wentylacji. [Współaut.] zob. poz. 1392

ƒ Sposób wyznaczenia rozkładu wielkości cząstek w metodzie turbidymetryczno-sedymentacyjnej. [Współaut.] zob. poz. 1381

ƒ System komputerowy do kalibracji medycznych czujników ciśnienia i przepływu. [Współ-aut.] zob. poz. 1413

ƒ System komputerowy do pomiaru właściwości układu oddechowego techniką wymuszo-nych oscylacji niskoczęstotliwościowych. [Współaut.] zob. poz. 1412

ƒ System komputerowy do pomiaru właściwości układu oddechowego techniką wymuszo-nych oscylacji wysokoczęstotliwościowych. [Współaut.] zob. poz. 1414

ƒ System przetwarzania i wizualizacji sygnałów szybkozmiennych wykorzystujący procesor sygnałowy. [Współaut.] zob. poz. 1368

ƒ Wagowa estymacja zmiennych w czasie parametrów układu RC w dziedzinie częstotliwo-ści dla pobudzeń okresowych. [Współaut.] zob. poz. 1367

MUCIEK ANDRZEJ

1385. MUCIEK A.: A method for precision RMS measurements of periodic signals using inter-grative samples. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 309-312, bi-bliogr. 3 poz.

1386. MUCIEK A.: Metoda precyzyjnej rekonstrukcji sygnałów okresowych z próbek integra-cyjnych. Pomiary Autom. Robot. 2004 R. 7 nr 7/8 s. 104-107, bibliogr. 4 poz. Summ. 1387. MUCIEK A.: On determination of polynomials approximating measurement results. W:

Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektro-nicznej i FotoElektro-nicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 37-40, bibliogr. 5 poz.

1388. Zygarlicki J., MUCIEK A.: Komputerowy system do monitorowania analizy i archiwizacji sygnałów EKG. Zesz. Nauk. POpol. 2004 nr 297, Elektr. z. 54 s. 5-30, 15 rys. bibliogr. 9 poz. Summ.

PĘKALA JANUSZ

1389. PĘKALA J.: Sieciowy serwer pomiarowy zgodny ze specyfikacją VXI-11. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fo-tonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 63-66, 3 rys. bibliogr. 3 poz.

ƒ Warstwowa architektura sieciowych systemów pomiarowych. [Współaut.] zob. poz. 1380 POLAK ADAM

1390. POLAK A., MROCZKA J.: Metoda estymacji zmiennych w czasie właściwości układu oddechowego wykorzystująca aprioryczną wiedzę o systemie. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 577-580, 3 rys. bibliogr. 6 poz.

1391. POLAK A., MROCZKA J.: Model symulacyjny sztucznej wentylacji pacjenta. W: Metro-logia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Ja-nusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 603-606, 5 rys. bibliogr. 12 poz. 1392. POLAK A., MROCZKA J., Pukacz A.: Rekurencyjne algorytmy estymacji parametrów

układu oddechowego w czasie sztucznej wentylacji. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 607-610, 6 rys. bibliogr. 11 poz.

1393. POLAK A., WYSOCZAŃSKI D., MROCZKA J.: A transient state analysis of gas ex-change in a human body. Metrol. Meas. Syst. 2004 vol. 11 nr 4 s. 321-332, 4 rys. 2 tab. bi-bliogr. 26 poz.

ƒ Nieparametryczne odtwarzanie sygnałów pomiarowych z wykorzystaniem sztucznych sieci neuronowych. [Współaut.] zob. poz. 1396

ƒ Symulacja wyboczenia kanalika oddechowego podczas wytężonego wydechu. [Współaut.] zob. poz. 376

ƒ System komputerowy do pomiaru właściwości układu oddechowego techniką wymuszo-nych oscylacji niskoczęstotliwościowych. [Współaut.] zob. poz. 1412

ƒ System komputerowy do pomiaru właściwości układu oddechowego techniką wymuszo-nych oscylacji wysokoczęstotliwościowych. [Współaut.] zob. poz. 1414

RUBASZEWSKI IGOR

1394. RUBASZEWSKI I., MROCZKA J.: Analiza wpływu zjawiska rozpraszania światła w pomiarze spektrofotometrycznym. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrolo-gii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 665-668, 4 rys. bibliogr. 7 poz.

1395. RUBASZEWSKI I., MROCZKA J.: Digital correction of nonlinear sensor dynamics by means of neural networks. Metrol. Meas. Syst. 2004 vol. 11 nr 4 s. 333-343, 7 rys. bibliogr. 16 poz.

1396. RUBASZEWSKI I., POLAK A., MROCZKA J.: Nieparametryczne odtwarzanie sygnałów pomiarowych z wykorzystaniem sztucznych sieci neuronowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 325-328, 5 rys. bibliogr. 3 poz.

STĘPIEŃ ANDRZEJ F

1397. STĘPIEŃ A. F.: Blok sterowania nadajników mocy z interfejsem CAN. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fo-tonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 431-433, 1 tab. bibliogr. 3 poz.

1398. STĘPIEŃ A. F.: Drukowanie kodu EAN13 na drukarce termicznej. W: Metrologia w pro-cesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mrocz-ki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicz-nej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 439-442, 2 rys. 5 tab. bibliogr. 2 poz.

1399. STĘPIEŃ A. F.: Moduł pomiarowy z szeregową wymianą danych. W: Metrologia w pro-cesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mrocz-ki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicz-nej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 435-438, 3 rys. bibliogr. 4 poz.

1400. Kaźmierczak P., STĘPIEŃ A. F.: Moduł pomiarowy z interfejsem USB. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fo-tonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 415-418, 1 tab. bibliogr. 6 poz.

1401. Mazur J., STĘPIEŃ A. F., Szczupakowski M.: Implementacja standardu CANopen dla C51. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongreso-we. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 419-422, bibliogr. 4 poz.

1402. Mazur J., STĘPIEŃ A. F., Szczupakowski M.: Implementacja standardu CANopen w mo-dułach pomiarowych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Mate-riały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Ka-tedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 423-426, 1 rys. bibliogr. 4 poz.

1403. Ozon T., STĘPIEŃ A. F.: Kontrolery z interfejsem USB. W: Metrologia w procesie po-znania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wro-cław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wy-dział Elektroniki PWroc. 2004] s. 427-430, bibliogr. 6 poz.

SZCZEPANOWSKI REMIGIUSZ

1404. SZCZEPANOWSKI R., MROCZKA J.: Model dyfuzji fotonów w diagnostyce krwi. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektro-nicznej i FotoElektro-nicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 543-546, 3 rys. 2 tab. bibliogr. 6 poz.

ŚWIERCZYŃSKI ZBIGNIEW

1405. ŚWIERCZYŃSKI Z.: Wykorzystanie algorytmów FFT i IFFT na procesorach DSP rodzi-ny ADSP-218x firmy Analog Devices. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Me-trologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 1. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 337-340, 4 rys. bibliogr. 4 poz.

1406. ŚWIERCZYŃSKI Z.: Zastosowanie metod estymacji harmonicznych do ekstrakcji często-tliwości dominującej składowej w sygnałach EGG. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 547-550, 2 rys. 1 tab. bibliogr. 6 poz.

1407. ŚWIERCZYŃSKI Z., Grzelka P., Chruściel M., KABACIK P.: Optymalizowanie sterowa-nia pomiarami anten w polu bliskim. W: Metrologia w procesie poznasterowa-nia. Kongres Metro-logii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 581-584, 3 rys. bibliogr. 7 poz.

1408* ŚWIERCZYŃSKI Z., MAZUR J.: Application of SVM in computer aided gastric diagno-stic system. Biocybern. Biomed. Eng. 2004 vol. 11 nr 4 s. 19-30, 3 rys. 3 tab. bibliogr. 13 poz.

WOJTASZEK TOMASZ

1409. WOJTASZEK T., GŁOMB G., BORKOWSKI J. S.: Komunikacja procesorów sygnało-wych TMS320 z komputerem PC. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrolo-gii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 447-450, 4 rys. 2 tab. bibliogr. 7 poz.

1410. WOJTASZEK T., MROCZKA J.: Fazowa anemometria dopplerowska w pomiarach wła-ściwości fizycznych ośrodka wielofazowego. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 673-676, 3 rys. bibliogr. 13 poz.

WOŹNIAK MARIA

ƒ Mikrokontrolery rodziny MSP430 w przyrządach pomiarowych. [Współaut.] zob. poz. 1379

WYSOCZAŃSKI DARIUSZ

1411. WYSOCZAŃSKI D., MROCZKA J., Onofri F.: Parametry optyczne erytrocytów w bada-niach utlenowania i ciśnienia osmotycznego krwi. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 551-554, 8 rys. bibliogr. 10 poz.

1412. WYSOCZAŃSKI D., POLAK A., MROCZKA J.: System komputerowy do pomiaru wła-ściwości układu oddechowego techniką wymuszonych oscylacji niskoczęstotliwościo-wych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongreso-we. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 611-614, 2 rys. biblio-gr. 14 poz.

1413. WYSOCZAŃSKI D., RAWA R., MROCZKA J.: System komputerowy do kalibracji me-dycznych czujników ciśnienia i przepływu. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongresowe. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 615-618, 3 rys. bibliogr. 9 poz.

ƒ A transient state analysis of gas exchange in a human body. [Współaut.] zob. poz. 1393 ƒ Modelowanie parametrów optycznych erytrocytów. [Współaut.] zob. poz. 1384

WYSOCZAŃSKI GERARD

1414. WYSOCZAŃSKI G., POLAK A., MROCZKA J.: System komputerowy do pomiaru wła-ściwości układu oddechowego techniką wymuszonych oscylacji wysokoczęstotliwościo-wych. W: Metrologia w procesie poznania. Kongres Metrologii. KM. Materiały kongreso-we. Pod red. Janusza Mroczki. Wrocław, 6-9.09.2004. T. 2. [Wrocław: Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej. Wydział Elektroniki PWroc. 2004] s. 619-622, 3 rys. biblio-gr. 9 poz.