W Problemy pomiaru charakterystyki spektralnej optycznej krotnicy przeplotowej UDWDM



Streszczenie—W prezentowanej pracy przedstawiono metodę pomiaru właściwości optycznych przeplotowych krotnic światłowodowych przeznaczonych dla systemów z ultra gęstym (3.125 GHz) zwielokrotnieniem falowym.

Słowa kluczowe — Zwielokrotnienie falowe, optyczne krotmice

przeplotowe.

I. WSTĘP

E współczesnych systemach światłowodowych pasywne elementy optyczne odgrywają znaczącą rolę. Wśród nich na szczególną uwagę zasługują przyrządy optyczne, których charakterystyki zależą od długości fali. Komponenty tego typu są niezbędne do realizacji sieci fotonicznych z zastosowaniem multipleksji falowej.

Pomiary spektralne filtrów optycznych, krotnic falowych oraz optycznych krotnic transferowych najczęściej realizowane są z wykorzystaniem analizatorów widma stosując jako źródło światła przestrajalne lasery lub szerokopasmowe źródła ASE.

Podjęte badania miały na celu opracowanie metodyki pomiaru oryginalnych konstrukcji optycznych krotnic przeplotowych przeznaczonych do systemów z ultra gęstym zwielokrotnieniem falowym.

Komercyjnie dostępne krotnice przeplotowe posiadają zwykle odstępy międzykanałowe wynoszące 50 lub 25 GHz. Pomiar właściwości spektralnych takich elementów może być zrealizowany za pomocą standardowych systemów pomiarowych.

Na Rys. 1 – 2 przedstawiono charakterystyki przykładowej krotnicy. Pomiary wykonano analizatorem widma wykorzystując szerokopasmowe źródło ASE.

Jan Lamperski, Katedra Systemów Telekomunikacyjnych i Optoelektroniki, Politechnika Poznańska, ul. Polanka 3, 60-965 Poznań, (Tel.: +48-61-6653809; e-mail: jlamper@et.put.poznan.pl).

Rys. 1. Charakterystyka krotnicy (dolna krzywa) oraz widmo źródła ASE (krzywa górna).

Rys. 2. Szczegóły charakterystyki spektralnej krotnicy.

II. POMIAR KROTNIC PRZEPLOTOWYCH DLA SYSTEMÓW UDWDM

Rozdzielczość klasycznych analizatorów widma nie jest wystarczająca do realizacji pomiarów krotnic przeznaczonych dla systemów, w których odstępy pomiędzy optycznymi częstotliwościami nośnymi wynoszą kilka GHz (Rys. 3). W związku z tym do pomiarów wykorzystano własną konstrukcję analizatora widma wysokiej rozdzielczości wykorzystującego przestrajalny elaton Fabry-Perot (Rys. 4).

Problemy pomiaru charakterystyki spektralnej

optycznej krotnicy przeplotowej UDWDM

Jan Lamperski

W

Rys. 3. Rezultaty próby pomiaru krotnicy UDWDM klasycznym analizatorem widma.

Rys. 4. Głowica pomiarowa analizatora Fabry-Perot..

Dla systemów UDWDM zaproponowano zastosowanie krotnic, których konstrukcja bazuje na konfiguracji Macha-Zehndera (Rys. 5).

Rys. 5. Krotnica przeplotowa w konfiguracji interferometru Mach-Zehndera. Charakterystyczna częstotliwość przeplotu tego typu krotnicy zależy od różnicy czasu propagacji (różnicy długości włókien) gałęzi górnej i dolnej.

Wyniki pomiarów charakterystyk spektralnych światłowodowej krotnicy M-Z pokazano na Rys. 6-7.

Rys. 6. Charakterystyka krotnicy w szerokim zakresie częstotliwości.

Rys. 6. Fragment charakterystyki krotnicy ograniczony filtrem optycznym. W drugim przypadku liczba obserwowanych pików pomiarowych ograniczona była wąskopasmowym filtrem Bragga.

III. WNIOSKI

Uzyskane wyniki potwierdzają możliwość pomiaru i precyzyjnego zestrojenia budowanych krotnic przeplotowych przeznaczonych do zastosowania w systemach UDWDM.

LITERATURA

[1] K. Perlicki, Pomiary w optycznych systemach telekomunikacyjnych, WKŁ, 2002.