Wybrane zagadnienia podstawowych problemów współczesnej metrologii oraz technologii i konstrukcji systemów i urządzeń pomiarowo-kontrolnych : raport roczny; Grupa tematyczna VII, Opracowanie metod i aparatury do nieniszczącej kontroli materiałów i wyrobów

INSTYTUT ELEKTRONIKI POLITECHNIKI ŚLĄSKIEJ ZAKŁAD PODSTAW ELEKTRONIKI

44-101 Gliwice, ul. Pstrowskiego 16 — tel. 31-76-27

CENTRALNY PROGRAM BADAŃ PODSTAWOWYCH

NR 02. 20

WYBRANE ZAGADNIENIA PODSTAWOWYCH PROBLEMÓW WSPÓŁCZESNEJ METROLOGII ORAZ TECHNOLOGII I KONSTRUKCJI SYSTEMÓW

I URZĄDZEŃ POMIAROWO-KONTROLNYCH

GRUPA VH

OPRACOWANIE METOD I APARATURY DO NIENISZCZĄCEJ KONTROLI

MATERIAŁÓW I WYROBÓW

Temat nr VII. 02

KONDUKTOMETRIA WIROPRĄDOWA WSPOMAGANA KOMPUTEROWO

Kierownik tematu: prof, dr inż. Stanisław MALZACHER

19 .9.0

i'

'POLITECHNIKI WARSZAWSKA

CENTRALNY PROGRAM BADAN PODSTAWOWYCH 0 2 . 2 0 ^•

Wybrane zagadnienia podstawowych problemów współczesnej metrologii oraz technologii

i konstrukcji systemów i urządzeń pomiarowo-kontrolnych

R A P O R T R O C Z N Y GRUPA TEMATYCZNA 711

OPRACOWANIE METOD I APARATURY DO NIENISZCZĄCEJ KONTROLI MATERIAŁÓW I WYROBÓW

Kierownik grupy tematycznej:prof.dr hab.Zdzisław Pawłowski Nr tematu:VII.02

Nazwa tematu !

KONDUKTOMETRIA WIROPRĄDOWA WSPOMAGANA KOMPUTEROWO Kierownik tematu:prof.dr inż.Stanisław Malzacher

Nr etapu/rok opracowania:5/1990 - część I Nazw-a etapu:

Przenośne wiroprądowe konduktometry przemysłowe /cz.I/.

Oprogramowanie,badanie i uruchomienie konduktometru z automatycznym doborem częstotliwości /cz.II/.

Warszawa - Gliwice I - 71.1990

ZG P o l. SI. z. 456-85 2500

W Y D Z IA Ł AUTOM ATYKI, ELEKTRONIKI I INFORM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I Zakład Podstaw Elektroniki

Wykonawcy Y-go etapu /część 1/ - 1990 r.

Główni wykonawcy:

1 . Prof.dr inż»Stanisław Malzacher /Kierownik tematu/

2 o Dr inż.Leszek Dziczkowski /z-ca kierownika tematu/

Współpraca:

3. Dr inż.Jerzy Mazur

4-. Mgr inż.Maria Dziczkowska 3* Mgr inż.Piotr Zastawnik 6 . Mgr inż.Maria Wrzuszczak

f

oraz Janina Czapla,Teresa Rokita,Krystyna Żyła,Joanna Kozina,Czesław Ziober i inni

SPIS TREŚCI

str.

- Wprowadźenie do raportu rocznego z V etapu

część I ... IY 2 7 . Wiroprądowe konduktometry przemysłowe ... 1

2 7 .1 . Wybór koncepcji przenośnego konduktometru

wiroprądowego dla celów przemysłowy ch. 1 27.2. Zasada działania konduktometru kompana-

cyjnego , ... 3 2 7 .3 . Wyniki badań konduktometrów komparacyj-

nycń o... -13

27.4. Dokumentacja konduktometru KW-2 ... 2^

Literatura ... 47

ZG P o l. Sl. z. 456-85 2500

W YD ZIAŁ AU TO M ATYKI, ELEKTRONIKI I INFORM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki ^{I V}

WPROWADZENIE DO RAPORTU ROCZNEGO Z V ETAPU (Część I)

Ze względu na treść zawartą w programie etapu V-go pracy p t “Konduktometria wiroprądowa wspomagana komputerowo" i w raporcie z tego etapu,nadano mu tytuł roboczy:"Przenośne wi- roprądowe konduktometry przemysłowe ( część I ) . Oprogramowa­

nie,badanie i uruchomienie konduktometru z automatycznym do­

borem częstotliwości (część II ) ” .

Niniejsza część I obejmuje okres sprawozdawczy pierwszego półrocza 1 990 i jest związana z opracowaniem trzech modeli przenośnego konduktometru przemysłowego,z bezpośrednim analo-

t

gowym odczytem konduktywności,zwanego również ze względu na wykorzystywaną zasadę działania - konduktometrem komparacyj- nym. Konduktometry te w zamierzeniu wykonawców tematu VII.02 mają stanowić obiekty umożliwiające praktyczne sprawdzenie przydatności metody pośredniego skalowania przy użyciu wspo­

maganego komputerowo konduktometru z automatycznym doborem częstotliwości.Ponadto stanowią one przedmiot praktycznego wdrożenia do produkcji.ich małoseryjną produkcją zamierza za­

jąć się Zakład Doświadczalny Elektroniki i Mechaniki rrecyzyj- nej Politechniki Śląskiej ,który w chwili obecnej przeprowa­

dza wstępne rozeznanie rynku.

7/spomniane konduktometry przemysłowe zostały ostatecznie zrealizowane w bieżącym roku,w pierwszej połowie V-go etapu;

dwa pierwsze modele były już jednak gotowe do prób w 1989 Jeden z modeli był również demonstrowany na wystawie aparatu­

ry naukowej w Moskwie w ubiegłym roku.

W celu przeprowadzenia badań zrealizowano trzy kolejne mo­

dele konduktometrów przemysłowych o następujących oznacze­

ZG POl. SI. Z. 456-86 2500

niach: KW-0, KW-1 i KW-2. Są to modele konduktometrów wiroprą- dowych z cewką stykową,odczytem analogowym i zasilaniem sie­

ciowym (lub na żądanie bateryjnym ) .Dwa ostatnie modele mają opracowaną pełną dokumentację techniczną,będącą, również częś­

cią składową niniejszego raportu.Modele te zostały poddane uproszczonym próbom typu i badaniom laboratoryjnym.Najważniej-

sze wyniki tych badań zostały zamieszczone .również w niniej­

szym raporcie.

Gały materiał opracowania niniejszej I-ej części raportu z V~go etapu pracy jest zawarty w jednym,27-ym rozdziale raportu.

Zgodnie z zasadą wprowadzoną w poprzednich raportach,numeracja ta stanowi kontynuację numeracji rozdziałów w raportach z czte­

rech pierwszych etapów pracy.

ZG P o l. Sl. z. 456-86 2500

- 1 -

27. WIROPRĄDOWE KONDUKTOHETRY PRZEMYSŁOWE

27 . 1 . Wybór koncepcji przenośnego konduktometru

wiroprądowego dla celów przemysłowych

W procesie realizacji tematu "Konduktometria wiroprą- dowa wspomagana komputerowo" ( CPBP 02.20-VII.02 ) pow­

stał problem znalezienia obiektu - w postaci prostego konduktometru wiropradowego - na którym można byłoby

sprawdzać prz?/datność metody pośredniego skalowania przy użyciu wspomaganego komputerowo konduktometru z automat?,-

f

cznym doborem częstotliwości [iJ . W tym celu rozpatrzo­

no różne firmowe rozwiązania konduktometrów wiroprado- wych,których parametry mogły stanowić podstawę opracowa­

nia. Parametry tycb konduktometrów zastawiono w tabl.27.1.

Jako podstawowy zakres pomiarowy przyjęto najczęściej' spotykany i najbardziej interesujący metalurgię kolorową zakres pomiarowy konduktywności od około 5 MS/m do około 60 MS/m, co odpowiada grupie metali od ołowiu,poprzez sto­

py miedzi (brąz,mosiądz) »aluminium i jego stopy aż do czystej miedzi elektrolitycznej.Założono również,że uk­

ład pomiarowy musi być na tyle elastyczny ab?/- mógł być łatwo przystosowany również do badania metali o mniejszej konduktywności np. od około 1 'MS/m (tantal), a także, do celów defektoskopii po odpowiednim przestrojeniu.

Kolejnymi warunkami,które musiały być spełnione była pro­

stota konstrukcji przyrządu,jego względna taniość,łatwość obsługi i możliwość produkcji seryjnej.

>

produ­

centa

rowy kondukty- wności

Badane metale

i stopy czość ność tliwośó

prądu za­

silania c ewki

alne unie­

sienie sau dy („lift­

off”)

odczy­

tu

Uwagi

1 2 5 A 5 6 7 8 9 10

1

NORTEC NDT - 5A USA 26 - 65% LiCS

Al,Mg prasowa­

ne i walcowane oraz różne ich

0,5% LICS i 0 ,5% 3LC£ 60 kHz 0,075 mm anal. Konduktometr

NORTEC NDT - 1 7 USA 2 A - 6 5 % IACS

stopy

0,5% IACS + 1% IACS 62,5 kHz

f

0, 1 25 mm

0,3% B.CS cyfr. ^{t t}

SIGMATEST 2.067-060 RFN 5 - 6 2 MS/m Od ołowiu do srebra

0,1 MS/m pocz.zakr.

0,25 MS/m koniec zak.

1 % 60 kHz 0,15 mm anal. ^{1 t}

SIC-MATEST 2.067-061 RFN 8 - 107% IACS Od brązu krze­

mowego do srebra ok.0,5%

LACS

1 %. 60 kHz ^- anal. ^{t t}

SIGMATSST 2.067-062 RFN 0,016-0, 2pJlm Od srebra do ołowiu

- 1 % 60 kHz 0,1 mm Cu

0,15 mm stopy op.J

anal.

Miernik re- zystywności

SIGMATEST 2.067-500 RFN 0,5-5,5 MS/m

Od stopów oporo­

wych do ołowiu i stali austen.

0,05 MS/m pocz.zakr.

0,1 MS/m koniec zak.

1 % 500 kHz ^- anal. Konduktometr

SIGMATEST 2.067-501 RFN 1 - 9,7% L1CS

Od tytanu do chromu (stopy

oporowe)

ok.0,25%

IACS

1 % 500 kHz ^- anal. ^{t t}

SIGMATEST 2.0 67-502 R F N 0,18— 2 pJ2m Od brązu do sto­

pów Sn, Bi,Pb

- 1 % 500 kHz ^- anal.

Miernik re- zystywności

B3 - 21 H ZSRR

__________

1 - 8 MS/m Od manganu do tantalu

- 5% 1 MHz 0,1 mm anal. Konduktometr

- 3 -

Założenia te wydaje się spełniać układ pomiarowy zaproponowa­

ny przez autorów w ramach tematu CPBP 02.20-VII.02 pod naz­

wą "komparacyjnego konduktometru wiroprądowego ze wskazaniem analogowym".

27.2. Zasada działania konduktometru komparacyjnego W konduktometrii wiroprądowej mogą być wykorzystywane dwie różne grupy przetworników indukcyjnościowych w posta­

ci cewek przelotowych dla przedmiotów walcowych i cewek stykowych o bardziej uniwersalnym zastosowaniu.Konstrukcja tych ostatnich może*być różna;spotyka się np. cewki poje­

dyncze, różnicowe lub w układzie transformatorowym.W przypa­

dku cewek pojedynczych,zresztą- o różnej budowie - np.bez- rdzeniowych lub rdzeniowych - zbliżenie,zasilanej prądem zmiennym o podwyższonej częstotliwości,cewki na małą i sta­

łą odległość do powierzchni metalu,którego kondukty/mość chcemy zmierzyć,powoduje - wzbudzenie prądów wirowych w ob­

jętości metalu blisko jego powierzchni (efekt naskórkowoś- ci ) .Sytuację powyższą ilustruje rys.2?.la. Oddziały1;anie wtórnego strumienia magnetycznego pochodzącego od prądów wirowych na strumień pierwotny,pochodzący od cewki,powoduje w rezultacie powstanie znanego zjawiska będącego rezulta­

tem wzajemnego sprzężenia polem magnetycznym dwóch obwodów prądu zmiennego.Uważając cewkę za obwód pierwotny o induk­

cy jności ■ i rezystancji , a badany metal za obwód wtórny o indukcyjności L^ i rezystancji możemy uk­

ład "cewka stykowa - badany metal" zastąpić układem jak na

Am

Rys.27.1. Obwód zastępczy układu „cewka stykowa - materiał badany":

a) schematyczne przedstawienie układu „cewka stykowa - materiał badany" ; b)interpretacja elektryczna - dwuobwo- dowy schemat zastępczy układu; c) schemat zastępczy jedno- obwodowy

- 5 -

rys.27. 1 b i c . W wyniku takiego sprzężenia otrzymujemy znane związki

E' = E1 + E ^ 2 = E 1 +

Li = L1 - L2 / 7 = L1 - R

gdzie R^ - wypadkowa,podwyższona rezystancja cewki,w wyni- ku sprzężenia indukcyjnościowego;

L' - wypadkowa, obniżona indukcyjność cewki w wyniku sprzężenia indukcyjnościowego;

przy czym. 2 2 2

\

i?2 d) L2

— 0 0 jest przekładnią napięciową

£o M

sprzężenia między cewką stykową i badanym metalem, a M jest współczynnikiem indukcyjności wzajemnej w tym układzie.

O / O

Wielkości R^> = R2/ P i Iv, = ^2/ ^ stanowią zastępczą rezystancję i indukcyjność metalu (reaktancję indukcyjnoś- ciową metalu ) , przeniesione na stronę pierwotną układu to znaczy wniesione z różnym znakiem do cewki stykowej.Oczywiś-

/

cie informacja o poszukiwanej konduktywności jest zawarta w zastępczej rezystancji R^, i zastępczej indukcyjności I/, . Zmiana konduktywności powoduje więc w rezultacie zmianę R^

i L' ,a ściślej R' i ¿yl/j czyli składowych impedancji 2jp cewki stykowej "obciążonej1’ badanym metalem. Mierząc obydwie składowe dla różnych badanych metali,przy założeniu że pozo­

stają niezmienione - częstotliwość prądu zasilającego cewkę stykową,sama cewka i jej odległość od powierzchni badanego materiału,zaś jej grubość jest znacznie (co najmniej ^-krot­

nie) większa od głębokości wnikania prądów w metal dla danej

częstotliwości - otrzymujemy w rezultacie znany wykres ilu­

strujący zależność tych składowych od konduktywności (rys.

27.2 ) .

ł

Problem pomiarowy zmierzający do znalezienia opisaną me­

todą konduktywności badanego metalu sprowadza się więc do

Rys.2 7 »2. Normowane składowe impedancji coL'

cewki stykowej "obciążonej" badanym materiałem, w funkcji konduktywności i grubości ( f=60 kHzj wg Förstera [2 ]

pomiaru składowych, impedancji, "obciążonej" metalem, cewki stykowej: R' i cjŁ' oraz odpowiednim skalowaniu.Dla tego celu,zgodnie z rozwiązaniami klasycznymi,wybrano metodę zerową,różnicową. Dwie,niby-rezonansowe gałęzie indukcyjno- ściowo-pojemnościowe,tworzące pseudo-mostek jak na rys.2 7 .3 , pozwalają na wyskalowanie jednego z elementów doprowadzają­

cych układ do stanu zerowego napięcia wyjściowego,wprost w jednostkach konduktywności.Obie gałęzie: nieparzysta z prą­

dem 1 ^ i parzysta z prądem pracują w istocie w wa-

D

Rys.27.3« Typowy układ różnicowo-zerowy (pseudo-mostek) do pomiaru konduktywności: G - generator prądu zmień nego; W - wskaźnik zera; - pojemność nastawna, skalowana w jednostkach kondukty/ności

runkach odstrojenia od rezonansu.Biorąc pod uwagę wykres przedstawiony na rys.2 7 . 2 możemy zauważyć,że przejście od materiału o dużej konduktywności (np.miedzi) do materiału o mniejszej konduktywności (np.ołowiu ) pociąga za sobą zna­

czną zmianę składowej urojonej ( ćjL' « ) mniejszą nato­

miast zmianę składowej rzeczywistej ( P' ) . Pozwala to wnio­

skować, że proces doprowadzania układu różnicowego do równo­

wagi można przedstawić w uproszczeniu jak na rys.2 7 .4-.

Gałąź pomiarowa ("nieparzysta) z prądem 1^ znajduje się za­

wsze w stanie oddalonym od rezonansu, zwłaszcza przy ’’pustej"

cewce stykowej , to jest oddalonej na tyle od badanego metalu by wpływ jego mógł być pominięty. Przyłożenie lub

zbliżenie cewki na stałą odległość do metalu o małej kondu­

ktywności (np.ołowiu ) powoduje,że indukcyjność L' .staje się nieznacznie mniejsza od indukcyjności i wynosi np. L'(Pb) .Stanowi temu odpowiada pewne,zresztą niewiel­

kie,napięcie na cewce: U'(Pb) . Jeżeli z kolei cewkę zbli­

żymy do metalu o dużej konduktywności,a więc np. miedzi spowoduje to tym razem znaczne zmniejszenie indukcyjności wypadkowej L' np. do wartości L' (Cu) i w następstwie powiększenie się napięcia na cewce do wartości U'(CuJ , w wyniku znacznego zbliżenia się do rezonansu. Warto zauwa­

żyć, że sytuacja taka może mieć miejsce tylko wzdłuż prawego zbocza krzywej rezonansowej U'= f (L' )- ( r y s .2 7 .4-a ) . Chcąc sprowadzić układ do równowagi musimy zmienić napięcie na cewce porównawczej L2 np.przez zmianę pojemności w ga­

łęzi parzystej mostka z prądem I2 , czyli odpowiednie do-

f u ' Q )

. / / \

g a ł ą ź p o m i a - / \

r o w a z p r ą - 7 <

d e m j

/

/

1 /

/

J /

✓

( C u )

\

J t C u A

V p b )

K

U ( P b l \

i \ ; ^ ł i

l T b )

g a ł ą ź p o r d w n a j / _ \ \ j

w ^ z a z p r ą d e m \

/

/

' /

/ L

/

/ ~ ~ l

/ y

C u ) + ¿ ^ 2

—

I \

\ ~ a C 4 b i s

f c u A /

■ T p ) )

u f P K K r

f — C 4

ł - i m i n L ' 1 m C w \ C 4 m j n C 4 m a x

1 - 1 ( C u ) 1 ^ 1 ( P b ) • C 4 ( C u ) ^ 4 ( P b )

Rys.27.^• Uproszczony obraz procesu doprowadzania układu pseudo-mostka do równowagi przez wykorzystanie zboczy charakterystyk rezo­

nansowych obu gałęzi: a gałąź pomiarowa; b gałąź porównaw - cza

strojenie tej gałęzi. Tak więc np. dla miedzi uzyskamy na­

stawę pojemności min = C^(Cu) ', a dla ołowiu odpowie­

dnio • = C4 max = C^(Pb) .Pozwala to w zasadzie na odczyt mierzonej konduktywności wprost ze skali nastawy pojemności

jak np. w konduktometrach typu "SIGMATSST".

Opisany układ różnicowy (pseudo-mostek) jest złożony z dwóch odstrojonych,szeregowych obwodów rezonansowych,stanowiących gałęzie:nieparzystą i parzystą.Są to obwody takie same ale nie te same.Bieg ich krzywych rezonansowych może się między sobą różnić,co wpływa oczywiście na dokładność pomiaru.Aby

9

zwiększyć "przyleganie” tych krzywych przeprowadza się ich kalibrację,wykonując pomiar dla próbek wzorcowych odpowiada­

jących w przybliżeniu początkowi i końcowi zakresu kondukty­

wności mierzonych przez przyrząd.W tym celu krzywą rezonanso­

wą gałęzi parzystej,z cewką wzorcową (kompensacyjną) Lg i przestrajanym kondensatorem ,przemieszczamy w górę lub w dół zmieniając dobroć obwodu przy pomocy dodatkowej rezy­

stancji P2 bocznikującej cewkę Ig oraz w lewo lub w pra­

wo zmieniając wartość dodatkowej pojemności ,boczni­

kując ej główną pojemność ( rys.27.4 b).

Warto zauważyć,że odcinek zbocza charakterystyk'obwodów rezonansowych wykorzystywanych w konduktometrze powinien być możliwie liniowy,dzięki czemu w przybliżeniu również liniowa pozostaje skala kondensatora C^. Jest to sprzeczne z dążno­

ścią do pokrycia zakresem pomiarowym dużej rozpiętości mie­

rzonych konduktywności.W rezultacie, w wyniku dążności do pe­

wnego kompromisu skala jest zwykle łagodnie nieliniowa.

- 11 -

W omawianym przez nas przypadku dla przeprowadzenia pomia-

/

ru konduktywności wykorzystano prawe zbocza dwóch krzywych rezonansowych obwodów szeregowych.Nic nie stoi na przeszkodzie- wykorzystania tylko lewych zboczy lub kombinacji prawych i

lewych.Kombinacje takie mogą być wykorzystane dla pewnych do­

datkowych celów np.kompensacji wpływu odległości ( "lift off"), uzyskania-przyrządu do wykrywania wad powierzchniowych (defe­

ktoskop) itp.

Dokonywanie odczytu na skali elementu r ó wnow aż ą c e go mostek nie jest wygodne.Czynność ta jest długotrwała,zwłaszcza że przed pomiarem musi być przeprowadzona kalibracja wstępna.

Z tego względu bardziej korzystna,jak należy sądzić,jest me­

toda wychyłowa,a szczególnie zasada automatycznej komparacji.

Metoda komparacyjna polega na pośrednim porównaniu (kompara-

♦

cjl) przy pomocy komparatora,mierzonej wielkości prądu zmien­

nego - np. napięcia - z prądem lub napięciem stałym,które to wielkości stają się miarą napięcia zmiennego lub wielkości pośrednio z nim związanej,jak w naszym przypadku konduktyw- ności. Ażeby dwa napięcia różnego rodzaju ( zmienne i stałe) mogły być ze sobą porównane,należy je wpierw przetworzyć;

V.

np. wystarczy przekształcić mierzone napięcie zmienne w na­

pięcie stałe.

Idea konduktometru wiroprądowego wykorzystującego kompara- cyjną metodę pomiarową jest przedstawiona na rys.2 7 .5 *

Generator przebiegów sinusoidalnych (1) o stałej częstotli­

wości ,wybranej w granicach 60 do 100 kHz,zasila dwa szerego­

w y obwody (2 ) i (^) »stanowiące w istocie gałąź

nieparzystą i* parzystą układu różnicowego z rys.2 7 .3 .Pierwszy z nich - obwód pomiarowy - jest przestrajany stykową cewką pomiarową ,dla której składowe impedancji ( rezystancja i reaktancja indukcyjnościowa ) zmieniają się m.in.w zależności

Rys.27.3. Zasada działania konduktometru wiroprądowego z wykorzystaniem komparacyjnej metody pomia­

rowe j .

- 13 -

od wartości mierzonej konduktywności. Drugi obwód - porówna- wczy,ze stałą indukcyjnością - jest przestrajany poje­

mnością do chwili uzyskania równości amplitud napięć na obu cewkach ( pomiarowej i porównawczej L2 ) .Róż­

nica amplitud napięć między obydwiema cewkami jest mierzona po przetworzeniu (ą) napięcia zmiennego na stałe,przez od­

powiednio czuły układ pomiarowy (5) • Wartość pojemności w gałęzi porównawczej ( parzystej ), dla której to wartości nastąpiło zrównanie amplitud napięć..jest związana określoną

zależnością funkcyjną z mierzoną konduktywnością.Rolę zmien­

nej pojemności spełnia dioda pojemnościowa,a przestrajające ją napięcie jest miarą szukanej konduktywności.Napięcie to -jest czerpane z części ( 6 )wspomnianego obwodu pomiarowego.

Korzystając ze schematu przedstawionego na rys.27.3 moż­

na go przedstawić również w postaci dogodnej do ułożenia równania przetwarzania konduktometru komparacy jnego.Taki uproszczony schemat blokowy przedstawiono na rys.27.6 . Za­

łożono w nim,że zmiana konduktywności badanego materiału wpływa tylko na zmianę składowej urojonej impedancji cewki pomiarowej,a więc tylko na zmianę L' i w rezultacie na U'.

Zagadnienie to nie hędzie rozpatrywane w niniejszym rapor­

cie i będzie przedmiotem oddzielnej publikacji.

27.3» Wyniki badań konduktornetrów komparacyjnych

Jak wspomniano we wstępie w ramach tematu zostały opra­

cowane trzy modele konduktometrów komparacyjnych: KW-O,

0 - 1 i KW— 2. Modele te były poddane próbom i badaniu przy zastosowaniu wzorców konduktywności.W szczególności zostały '

Rys.27.6 . Uproszczony schemat blokowy wiroprądowego kon- duktometru komparacyjnego

wykonane badania wpływu odległości cewki stykowej od po­

wierzchni badanego elementu na błąd pomiaru tzw.efekt

%

„lift - off" .Badania te przeprowadzono dla trzech róż­

nych próbek miedź,aluminium i brąz przy wykorzystaniu konduktometru komparacyjnego KU- 0 i kontrolnego konduk- tometru Förstera.Wyniki badań przedstawiono w postaci wy­

kresów na rys i 27.7*

W podobny sposób przeanalizowano również wpływ odległości krawędzi cewki stykowej od krawędzi badanego elementu;wy­

niki tych prób przedstawiono na rys.2 7 .8 .

\

- 1 5 -

Rys.27.7♦ Wykres przedstawiający błąd pomiaru kondukty- wności wynikający z uniesienia cewki stykowej nad badanym elementem: a) konduktometr KW-0 ; b) konduktometr kontrolny Fdrstera

Byś.27.8 . Wykres przedstawiający błąd pomiaru konduktyw- ności wynikający ze zbliżenia cewki pomiarowej do krawędzi badanego elementu: a konduktometr KW- 0 ; b konduktometr kontrolny Fdrstera

Z analizy przedstawionych wykresów wynika,że w przypadku uniesienia cewki ponad przedmiot na odległość nie prze­

kraczającą ok.0 , 2 mm błąd pomiaru mieści się w granicach i 5 % dla najczęściej spotykanych metali kolorowych.

Uwaga ta dotyczy zarówno konduktometru KW- 0 jak i kon­

trolnego konduktometru Fdrstera.Jeśli chodzi o błąd wy­

nikający ze zbliżenia cewki do krawędzi przedmiotu bada­

nego, to przyrząd Fdrstera wykazuje mniejszy błąd ze wzglę­

du na mniejszą średnicę cewki.

Wygląd zewnętrzny konduktometru KW- 0 przedstawiono na rys.2 7 . 9 zaś konduktometrów KW- 1 i KW- 2 na rys.2 7 .1 0 .

- 17 -

Rys.27.9- Widok przedprototypowego konduktometru prze­

mysłowego działającego na zasadzie metody komparacyjnej; typ O - O . Konduktome.tr ten

stanowił przedmiot badań opisanych w p.2 7 .3 .

Konduktometry prototypowe 0 - 1 i 0 - 2 różnią się od konduktometru 0 - 0 bardziej zwartą konstrukcją oraz do­

skonalszymi schematem elektronicznym.Ponadto kondukto- metr 0 - 2 jest .kalibrowany' przy pomocy dwóch próbek wzorcowych , a nie trzech jak konduktometry 0 - 0 i 0 - 1 . Konduktometr 0 - 2 jest wyposażony w dwie skale: skalę konduktywności w MS/m oraz skalę końduktywności wg stan-

Rys.27.10. Widok zewnętrzny prototypowych konduktometrów komparacyjnych: u góry konduktometr typu KW-1 ; u dołu konduktometr typu KW- 2

- 19 -

dardu amerykańskiego IACS to jest w stosunku do konduktyw- ności czystej miedzi elektrolitycznej,której konduktywność przyjęto za 100 %.

W stosunku do konduktometrów typu 10.7-1 lub KW-2 podjęto próbę wdrożenia ich do produkcji zgodnie z zaleceniem Kierownictwa Programu GPBP 02.20. V/s z c z ę c i a produkcji pod­

jął. się Zakład Doświadcżalny Elektroniki i Mechaniki Pre­

cyzyjnej Politechniki Śląskiej .W drugim kwartale 1990 r.

rozpoczął on badanie marketingowe rynku od opracowania ulotki reklamującej konduktometry ( str.20 niniejszego raportu) .

/

- nioni s z c z ę c e o o , szybkiego p omiaru konduk cywności / p r z e w o d n o ś c i w ł a ś c i w e j / luo rezye tywności / o p o r n o ś c i właściwej/;

- okr e ś l e n i a c z y s t o ś c i metali kolorowych:

- określenia popraw n o ś c i składu c h e m i c z n e g o stopów, dzięki k o r e l a c j i M i ę d z y z awartości? d o n i o a z o k i k o n d u k t y w n o ś c i ę ;

- sprawdzanie Jakości p r z e w o d ó w / o z y n / e l e k t r y c z n y c h :

- badania w p ł y w u obróbki cieplnej / t e m p e r a t u r y / no k e n d u k t y w n o ś ć o tym samym Jakość ma t e r i a ł u lub wyrobu.

’

Ton sam kond u k tome t r , przy in n y m zeatrojor.lu 1 rry skal o w a n i u np. 'no życzenia zamawia jacogo, ¡noża być p r z y s t o s o w a n y do szukania w ad i znion s t r u k t u r y b a d a n y c h n a t c r l o ł ó w . W przypadku p o m i a r ó w konduktywności odpowi e d n i e z e s t r o j e n i e p r z y r z ą d u um o ż l i w i a z m i n i m a l i z o w a n i a wpły w u letnienla ewentualnych wad, zmień s t r u k t u r y itp.

9

Zasada d z l a ł a n l o k o n d u k t o m e t r u / s c h e m a t b l o k o w y - rya.l./

Sinusoidalne napięcie znionne o t r z y m y w a n e z o d d z i e l n e g o , w e w n ę t r z n e g o g e n e r a t o r a zasila dwa s ze­

regowo o b w o d y LC. P l o r w s z y z nich - obwód p o m i a r o w y - Jest p r z o a t r a j a n y stykową cewkę p o miarową, któroj lndu k c y j n o ś ć i rezyst a n c j a z m i e niają się w w y n i k u z m i a n mierzonej k o n d u k t y w n o ś c i .

Drugi o b w ó d - k o m p e n s a c y j n y / p o r ó w n a w c z y / J s s t p r z o 3 t r a J a n y p o j e m n o ś c i ą do chwili uz y s k a n i a równości a m p l i t u d napięć na obu cewkach. W a r t o ś ć p o j e m n o ś c i w o b w o d z i e p o r ównawczym, dla której nastąpiło z r ó w n a n i e a m p l i t u d napięć Jest z w i ą z a n e o k r e ś l o n ą z a l e ż n o ś c i ą funkcyjną z mier z o n ą kondu k t y w n o ś c l ą .

Dane t e c h n i c z n e k o n d u k t o m o t r u i

1/ W y m i a r y - 30 x 20 x 12 c a , 2/ M a s a - 4 kg, *

3/ Z a s i l a n i e - a l e c i o w o - b a t e r y j n o ,

4 / Z o k r o 3 p o m i a r u k o n d u k t y w n o ó c l - 12-i60 MS / n , 5/ D o k ł a d n o ś ć - 5%,

6/ S o n d a S t y k o w o - średnico 10/24 cm, 7/ K o m p e n s a c j a w p ł y w u odle g ł o ś c i sondy

- 0,2 -« 0,5 mm,

3/ P r o a i o ó k r z y w i z n y motalu - > 6 0 ma, 9/ C z ę s t o t l i w o ś ć pr ą d u - 100 kHz,

10/ O d l e g ł o ś ć oondy od kraw ę d z i - > 5 ea, 11/ K a l i b r a c j a - miedź, aluminium, mosią d z .

Rys. i.

O p r a c o w a n i e : P O L I T E C H N I K A S L A S K A '

Z A K Ł A D P O D S T A W E L E K T R O N I K I I N S T Y T U T U EL E K T R O N I K I 4 4 - 1 0 1 G l l w i c a , ul. K a t o w i c k o N r 16, tul. 3 1 - 72-11.

P r o d u c e n t i Z A K Ł A D O O Ó W I A D C Z A L N Y E L E K T R O N I K I I M E C H A N I K I P R E C Y Z Y 0 N E 3 P O L I T E C H N I K I Ó L Ą S K I E O

4 4 - 1 0 0 G l i w i c e , ul. Bałt y c k a Nr 0, tel. 31-G 0 - G 1 do 04.

OXAOO tćMmSACrJ*7

21 -

2 7 .ń. Dokumentacja konduktometru KW-2

i

Uważając rozwiązanie konstrukcyjne konduktometru KW-2 za najbardziej optymalne,zostaje załączona do niniejsze­

go raportu pełna dokumentacja techniczna konduktometru togo typu.Może być ona podstawą do ewentualnego przysz­

łego wdrożenia konduktometru przemysłowego do produkcji.

Dokumentacja składa się zasadniczo z dwóch części:

elektrycznej (elektronicznej) i mechanicznej. Część pier­

wsza - elektryczna (elektroniczna) obejmuje kompletny wykaz elementów, schematy ■ ideowe. i montażowe , łącznie

z rysunkami płytek drukowanych oraz rysunki konstrukcyj­

ne elementów,które muszą być specjalnie wykonane dla kon­

duktometru (np.cewki) . Część druga - mechaniczna obej­

muje rysunki konstrukcyjne elementów mechanicznych kon­

duktometru, rysunki obudowy,płyty iłowej itp.

Omówiona dokumentacja może stanowić pełną podstawę do opracowania rysunków warsztatowych,aczkolwiek część doku­

mentacji niewątpliwie może być bezpośrednio wykorzystana

dukcji podzespołów,schematy płytek drukowanych itp.). Peł­

na dokumentacja warsztatowa musi być wykonana przez rea­

lizatorów produkcji ze względu na typowe dla każdego pro­

ducenta, różne warunki technologiczne.

Wszystkie elementy i ' gotowe podzespoły stosowane w konduktometrze są produkowane w kraju.Uruchamianie posz­

czególnych egzemplarzy wymaga współpracy autorskiej.

dla tych celów (rysunki bezpośrednio nadające się do pro-

Tab. 27.2 Zestawienie elementów.

Symbol Typ Lokalizacja

/ nr. rysunku - pozycja/

R1 MŁT-0. 25W-2k2-57. 27. 1-BÓ 27.13-H3

R2 MŁT-0. 25W-62k-57. 27. 1-B6 27.13-H3

R3 MŁT-0. 25W-2k2-57. 27. 1-C5 27.13-H2

R4 MŁT-0. 25W-kó80-57. 27. 1-D5 27.13-H4

R5 MŁT-0. 25W-27k-57. 27. i-DÓ 27.13-E2

R 6 MŁT-0.25W-10k-57. 27. 1-D5 27.13-E2

R7 MŁT-0. 25W-2k2-57. 27. 1-E5 27.13-E2

R3 MŁT-0-. 25W-k 13-57. 27. ł-FÓ 27.13-C2

R9 MŁT-0.25W-22k-57. 27. 1-F6 27.13-B3

R10 MŁT-0. 25W-3k9-57. 27. 1-F5 27.13-C3

Rli MŁT-0.25W— 1k—57 27. 1-G5 27.13-C3

R12 MŁT-0. 25W-3k9-57 27. 1-G6 27.13-D4

R13 MŁT-0.25W-9k1-5% 27. 1-H5 27.13-B4

R14 MŁT-0. 25W-lók-57 27. 1—A3 27. 15r-F4

R15 ML-0.5W-kl50-17 27. 1-B3 27.15-D3

R16 ML-0.5W—k 100-17. 27. 1-B3 27.15-D4

R17 ML—0.5W-3k32~17 27. 1-C3 27.15-B3

Rie ML-0.5W-10k-17. 27. 1-B3 27.15-C2

R19 ML-0.5W-10k-17. 27. 1-B3 27.15-F3

R20 MŁT-0 . 25W-10k-57. 27. 1-D3 27.15-A2

R21 MŁT-0. 25W—9kl—5% 27. 1-E4 27.14-A4

R22 MŁT-0. 25W-200k-57 27. 1-E3 27.15-B4

R23 MŁT-0.25W-5kó-57 27. 1-A2 27.15-E1

R24 MŁT-0.25W—5kó—57. 27. 1—Al 27.15-E1

R25 MŁT-0. 25W-1 k8-57. 27. 1-B2 27.15-F2

R2 b MŁT-0.25W-lk-57 27. 1-01 27.15—Gł

R27 MŁT-0.25W— ik-57. 27. 1—BI 27.15-G2

R28 MŁT-0.25W— lkS-57 27. 1-C2 27.15—Dl

R29 MŁT-0. 25W—2k7—57. 27. I-Ci 27.15—Cł

R30 ML—0.5W—kl1— IZ 27. 1-F3 27.14-E2

R3i ML-0.5W-39k-17. 27. 1-F2 27.14-B3

R32 ML—0 . 5W—k 100— 17. 27. 1-G2 27.14-Di R33 . . ML-0.5W-49k-17. 27. i—G2 27.14—Fł

R34 ML-0.5W-k 11-17. 27. 1-H3 27.14-G2

R35 ML-0.5W-39k-17. 27. 1-H2 27.14-G2

R36 ML-0.5W-10k-17. 27. 1-B2 27.15-52

R37 ML-0.5W-49k-17. 27. 1-E2 27.14-A3

R38 MŁT-0. 5W-k750-57. 27. 2-D4 27.16—A4

R39 MŁT-0. 5W-3k-57. 27. 2-E4 27.1Ó-C2

R40 MŁT-0. 5W-20k-57. 27. 2-E4 27.1Ó-D3

ZG P o l. SI. z. 456-36 2500

W YD ZIAŁ AUTO M ATYKI, ELEKTRONIKI I INFORM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki

23

Tab. 27.

Symbol

2 cd.

Typ Lokalizacja

/ nr. rysunku - pozycja/

R41 MŁT-0. 25W-3_13k-57. 2 7 . 12-E3 2 7 . 16-E4

R42 MŁT-0. 25W-20k-57 2 7 . 12-F3 2 7 . 16-C4

R43 M Ł T - 0 .25W—3_i 3k-57 2 7 . 12-F3 2 7 . 1Ó-D4

R44 MŁT-0. 25W-2k2-57 2 7 . 12-G3 2 7 . 16-D2

R45 MŁT-0.25W-lk-5% 2 7 . 12-H4 2 7 . 16-E4

Cl KFPm-100 V - 1n5-i 07 2 7 . 11-B6 2 7 . 13-H3

C2 KFPm— 100 V—7 n 4— 107. 2 7 . 11-C5 2 7 . 13-H4 C3 MKSE-ł 0 0 V - 100n -107. 2 7 . 11-D6 27.13—El

C4 04 /U-25V-10U-207. 2 7 . 12-D6 2 7 . 13-E1

C5 M K S E - 10 0 V - 100n -107. 2 7 . 11-E5 2 7 . 13-D2

C6 KFP m - 100V-33n-107. 2 7 . 11-C6 2 7 . 13-Dł

C7 KFPm-100V-ln-107 2 7 . 11-E6 27.13—Dl

CS KFP m - 100V—27p -107. 27.11-F5 2 7 . 13-E3

C9 MKSE-100 V - 10 0 n - 107. 2 7 . 11-Gó 27.13-C4

C10 MKS E - 100 V - 100n -107. 2 7 . 11-B3 2 7 . 13-E3 Cli MKS E - 100V- i 00n -107. 2 7 . 11-B3 2 7 . 13-E3 C12 K F P m - 100 V - 1 S0p -107. 2 7 . 11-B2 2 7 . 13-E2 C13 KFP m - 10 0 V - 10 0 p - 10% 2 7 . 11-C2 27.13-D2

C14 KFPm-100V-27p-107. 2 7 . 11-Ci 27.15—El

C15 M K S E - 100V - 10 0 n - 107 2 7 . 11-D1 2 7 . 15-H4

C16 04/U-25 V - 100U-207. 27.11—Dl 2 7 . 15-G1

C17 MK S E - 100 V - 100n— 107. 2 7 . 11-D1 27.15-A3

C18 04/U-25V-100U-207 2 7 . 11-D1 27.15—BI

Cl 9 M K S E - 100 V - 1 u - 107. 2 7 . 11-F4 2 7 . 14-C4 C20 M K S E - 100V - 1u-i 07 2 7 . 11-F3 2 7 . 14-B4 C21 M K S E - 100 V - 1 u - 107. 2 7 . 1 1-F3 2 7 . 14-C4 C22a _d KFPm— 100V-dob i era n y— i07 27.11-65 2 7 . 14-D4 C23a _e KFPm— 100V-dobierany— 107 2 7 . 11-H4 2 7 . 14-E4

C24 T C P - 100V-5_30p-207 2 7 . 11-G5 2 7 . 14-G3

C25 K F P m - 100V - 1n - 107 2 7 . 11-H2 27.14—Gł

C26 KFPm— 100V-ln— 10% 2 7 . 11-E2 2 7 . 14-D2

C27 04/U—63V—4700U-207. 2 7 . 12-B4 KONSTR. MECH

C2B MKSE-100V-220n-107. 2 7 . 12-C4 27.10-64

C29 0 4 /U—63V-4700U—207 2 7 . 12-C4 27.16— C4

C30 MK S E - 10 0 V - 100n-l07 2 7 . 12-C4 2 7 . 16-C4

C31 04/U-25V-470U-20Z 2 7 . 12-D4 2 7 . 16-C3

C32 M K S E - 100V - 1u - 107 2 7 . 12-E4 27.16—Cl

C33 04/U— 16V— 10U—207 2 7 . 12-C2 2 7 . 16-E4

C34 MKSE-100V - 1u - 107 2 7 . 12-C2 2 7 . 16-D4

C35 M K S E - 100 V—220n— 107. 2 7 . 12-A2 27.16-A3

ZG P ol. SI. z. 456-86 2500

Tafa. 2 7 . 2 cd.

Symbol Typ Lokalizacja

/ nr. rysunku - pozycja/

C36 MKSE-100V-220n-107. 27.12-B2 27.16—Bi

Tl BF—521 27.11-B6 27.13-H2

T2 2N-2905 27.11-C6 27.13-H2

T3 BSX—93 27.11-Eó 27.13-D2

T 4 BSX—93 27.11-65 27.13-E3

T5 BC—107 27.łl-Gó 27.13-E4

T6 BD—135 27.11-H6 27.13-B4

T7 BD—136 27.11-85 27.13-B3

T8 BSX—59 27.11-D2 27.15—Cl

T9 BSX-04 27.11-D1 27.15—BI

T10 BC—107 27.12-H3 27.15-F4

Dl BZP 683—C6V2 27.11-B5 27.13-H4

D2 BAVP-10 27.11-B6 27.13-H3

D3 BAVP—10 27.11-B6 27.13-H3

D4 BAVP—10 27.11-B1 27.15—HI

D5 BAVP—10 27.11-Bl 27.15-H2

D 6 COP-441 27.11-Bl 27.15—HI

D7 CQP—441 27.11-Bl 27.15-H2

D8_28 BB—105 27.11-E3 27.14-D3

D29 BAVP—10 27.11-F2 27.14-D2

D30 BAVP—10 27.11-H3 27.14-G2

D31 BYP—401—50 27.11-A2 27.15-B2

D32 BYP—401—50 27.11-B2 27.15—BI

D33 BYP—401—50 27.11-A2 27.15—BI

D34 BYP—401—50 27.11-B2 27.15—31

D35 BZP 683—C4V7 27.12-D4 27.16-B3

D36 BAVP—10 27.12—D3 27.16-B3

D37 BAVP-10 27.12-E3 27.16-D2

D38 BAVP—10 27.12-G3 27.16—Dl

D39 BAVP— 10 27.12-G3 27.16-D2

D40 CQP—441 27.12-H3 27.16-F5

D41 BAVP—10 27.12-H3 27.16-E4

D42 CGP-442 27.12-H3 27.16-F3

IC1 L'LY-7741 27.11-C4 27.13-A4

IC2 ULY—7741 27.11-C3 27.13-A3

IC3 ULY—7523 27.11-A3 27.13-E3

IC4 SF.C—2709 27.11-Bl 27.13—FI

IC5 ULY—7741 27.11—Cl 27.15—Dl

IC6 SF.C—7812 27.12-C4 27.16-B5

IC7 SF.C—7912 27.12-C2 27.16-E5

ZG P ol. SI. z. 456-86 2500

W Y D Z IA Ł AUTO M ATYKI, ELEKTRONIKI I IN FO RM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E L E K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki

25

Tab. 2 7 . 2 cd.

Symbol Typ Lokalizacja

/ nr, rysunku - pozycja/

I CS UCY—74011 2 7 . 12-F4 2 7 . 16-C1

Q 1 RS 6001 27.11-CS 2 7 . 13-G2

Tri Tab. 27.2 27.11-05 2 7 . 13-F3

Tr2 Tab. 27.2 2 7 . 12-E5 2 7 . 13-C2

Tr3 T s— 15/8 27.12—BI KONST. MECH

Czl Tab. 27.2 2 7 . 11-3H WYPOSAŻENIE

Cz2 Tab. 27.2 2 7 . 11-G2 2 7 . 14-C2

Ml MK-3A 27.11A—2 KONST. MECH

W1 ISOSTAT 27.12—Al 2 7 . 16-F2

W2 ISOSTAT 27.12-Al 2 7 . 12-F1

BI SP7 - 300mA 2 7 . 12-B1 KONST. MECH.

PI CN 15.2 2 7 . 11-C5 2 7 . 13-H1

P2 CM 15.2 22K 2 7 . 11-F5 2 7 . 13-D3

P3 CN 15.2 2K2 2 7 . 11-G5 27.13—D4

P4 CN 15.2 3K3 2 7 . 11-B3 2 7 . 15-D3

PS DW 102 10K 2 7 . 11-B3 27.15-G3

P6 CN 15.2 2K7 2 7 . 11-C1 2 7 . 15-C2

P7 CN 15.2 22K 2 7 . 11-H2 2 7 . 14-G1

PB CN 15.2 22K 2 7 . 11-F2 2 7 . 14-E2

P9 CN 15.2 680DM 2 7 . 11-G2 27.14—El

Z1 BNC 2 7 . 11-H3 2 7 . 14-H2

Z2 GZW 21 2 7 . 12-A3 KONST. MECH.

456-852500 mATyKIINSTYTUTELEKTRONIKI 26i Śląskiej ZakładPodstawElektroniki

indukcyj- ność

liczba

z w o j ó w

• średnica drutu

indulccy j- ność

liczba

Z W O jÓ W j

średnica drutu 1°~):

2J

p 3

> Tri

F1001 M-26/16

L - 9 / D -

2621-098

RWT-4,85x 5 f5/F1001

5 , 5 rnli _{L 12 120} 0,25 mm l34 10 0,25 mm

0-0

1 J

¿l3

ri TrZ

’ 5

-0

1! W u 5 mil L1 2 60

L23 5 0

Q, 5 mm 0 , 5 mm

l34 10 0 , 5 mm

o-

C z l

F1001 M-18/11 Al 5700

1/2 L9/D-

2621-098 1 , 6 mH ²²⁰ 0,25 mm

0-

j C zZ

u ii u u u

Tab. 27.3. Elementy indukcyjne. i

• i

JL V ß

^D

_ S _

JL

456-882500

2

Ryś. 27.12. Schem at ideowy z a s ila c z a .

W Y D Z IA Ł AU TO M ATYKI, ELEKTRONIKI I INFORM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki

29

CO CM

to

L_

Ul

U)

CQ

CN O

CM

s,

O o

Tr1

O

o o

1 1 SL 1

CM co

CL OL

T

T T

O « O

tou

CDu

coa

CM

CL

— Ri2

o cn

— I R13 \—

R11 RIO R9

!

O 91

—---------

o

Ł - U

1 1 1

N

1 1 1

4- "CC

o O

R5

— R6 —

CO

to

o

— R7 1— U) - m —

o

o

dl4

o

c o

o

t"

^ f l _ SSII- o O O

CO C\J t-

O o

Tr2

O

O o

Rys. ¿7.13. M odut ge neratora - rozm ieszczenie elementów.

ZG P o l. SI. Z. 456-80 2500

ZG P o l. SI. z. 456-86 2500

W Y D Z IA Ł AU TO M ATYKI, .

ELEKTRONIKI I IN FO RM ATYKI IN STYTU T ELEKTRONIKI ^-

3 1

Politechniki Śląskiej Zakład Podstaw Elektroniki

CO co c\l

L.

Ul

o

CO

-o-o C=5

CQ+

O

NI+

O co

O JO- P=>_{T T}

N

O

o o

Rkk

b b coO

CT)O U)

- ^1-

o

o

CM

COCo

IŁ

T

coCO

<o

^ 1-

C\J N

O

Rijs.27.i6. Zasilacz - rozmieś z czerne elementów.

W Y D Z IA Ł AUTO M ATYKI, ELEKTRONIKI I IN FO RM ATYKI Politechniki Śląskiej

INSTYTUT ELEKTRONIKI Zakład Podstaw Elektroniki

Rys. 27.17. Modut generatora. iMidok od strong elementów.

EG P o l. SI. z. 456-85 2500

Rys. 27.13. Modut wejściowy. Widok od strony elementów.

ZG P ol. SI. z. 456-88 2500

W YD ZIAŁ AUTOM ATYKI, ELEKTRONIKI I INFO RM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki ^{3 5}

Rys. 27.19. Modut sterowania. Widok od stro n y elementów.

Z C P ol. SI. z. 456-86 2500

Rys. 27.20. E k ra n z a sila c z a .

VM0>

W YD ZIAŁ AU TO M ATYKI, ELEKTRONIKI I INFORM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki

37

Widok A W idok B

Widok B

Widok A

20

22

11

6,5

Rys. 27.21. Wspornik t r y m e r a .

ZG P ol. SI. z. 456-86 2500

CD

Rys. 27.22. Os frymera.

ZG P o l. SI. z. 456-86 2500

W YD ZIAŁ AUTO M ATYKI, ELEKTRONIKI I INFO RM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E L E K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki

59

\ \ \ \ \-\ \ \ \ -\ \ \. \A-VX \

3

M G ______ ■ k

\ l

, 7

n \\R

1,5

3 1 3

Rys. 27. 23. P ro w a d n ic a osi trym era.

ZG P o l. SI. Z. 45S-86 2500

Rys. 27.2k Czujnik pom iarow y.

ZG P ol. SI. z. 458-88 2500

W Y D Z IA Ł AUTOM ATYKI, ELEKTRONIKI I INFORM ATYKI Politechniki Śląskiej

IN S T Y T U T E LE K TR O N IK I

Zakład Podstaw Elektroniki

4-1

Rys. 27.25. S tupek m ocujący.

Z C P o l. SI. z. 456-86 2500

Rys. 27.26. S t u p e k mocujący.

Z G P ol. SI. ^{Z .} 456-EG 2500

- 4 3 -

H~ miejsce czopomma ¿rub. ( M3/l5)

Rys. 27 27, Pfyta czotowa

- 4 5 -

4

Rys.2?.29. Płyta czołowa.Napisy.

1 - sygnalizacja awarii zasilania

0 - sygnalizacja obecności napiec zasilania

3 - wzorce metali x I

/i - miernik

i 5 - pokrętła kalibracji przyrządu

■ • 1

c. - sygnalizacja przekroczenia zakresu 7 - gniazdo sondy pomiarowej

3 - W £ 11 c zni k Z11.3 i 13 n i 0.

Z 2 Tr3 B-l

Z2 B1 Tr1 MZ MG MS

m

M1

Sniazdo zasilające

■bezpiecznik sieciowy transformator sieciowy moduł zasilacza

moduł generatora moduł sterujący moduł wejściowy miernik

Rys. 27.30. Konduktometr wiroprądowy.

Widok o solny.

łfej

Z G P o l. SI. z. 456-88 2500

¡¿i*

- 47 -

Literatura

1. Malzacher S . ,Dziczkowski L. i inni. Kondukt orne tria wiroprądowa wspomagana komputerowo.Raporty I-IV

etapuj 1986-1989.CPBP 02.20-VII.02 oraz L. Dziczko- wski -„Wiroprądowa meto'da pomiaru konduktywności

z automatycznym doborem częstotliwości pomiarowej";

praca doktorska wykonana w Zakładzie Podstaw Elektro­

niki Instytutu Elektroniki Politechniki Śląskiej;

Gliwice i987

2. Förster F.: Theoretische • und experimentelle Grundla­

gen der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mit Wir­

belstromverfahren. Z.Metallkde.4-3 - 1952,s . 1 7 2 - 1 8 0

r*¿v wÆtir -m>'.’-'ft

y f X y y y :í ■■■■■ ■'•■■■■■■

' ■ ' ' - / «

■ ' //-'. -4 ■■■ À ■ / ;■; - ■ ■

V- -- . ■rJ<.- . \y?y- '.Z -r y - . y.yy'yy- y■ ' ■•■ '■'■/- .'... ....

' ' ' ,

■ , ■<- ; ' '•• y y ;/ ■ / "■ •' ; . . . : . : ; /

^ ’*?Á / 'y ,y> $• ' ,'ZJS fW ' y ' * í ‘f '■>¿'' / ■*' X , - ' ' ^ V ' X'/, ' "V . y , -

c y ^ 1 ' '

' /¿/'i-Ar- ■ ,- -i :-■ ■ ■ - .V? ./ v / ; ; '. '

V y y ^ y .. ■ ' , 4 ' 4 4 4 r;' \ ¿ . - y , ’--

mÿmrnu

V ¥$&$&■ JJ /.•>/jú"y -¿v? s/jfi J'* ,¿‘r -'SV 'syf&’-sj/y.ytf JtáZrtíy*' yßr-f' í-

y , ^. ^ ^ ■ " v '

■ > ; ' ^{. •} -• ^{' - . .} ■'■•

.• ■ ... • ■

4 , : , , .

<•' .v. s p ■ •<'" ' •..; : ' / • .y

■ >/..-■• ; '' - , y / ■ -■ -• ■ :y ;/ >r y -,/ y ;■:■ y ■ \ .'.■ ;.

• . y ' ' ; • . - ■ X ' X "' / ;

■'. ■ : ■ 444,,y :j ■ /;■■ .... ^

- ^{. .} y ■',.:/ sf'-. •.■•.•-■' v;

■/ ''Á'ÓV1 víf^“4 \. ¡..'í••> -X*’- - ÁrZ?* ' X '' XrX* •4/¿'f 4 ‘Ár- ' ■ ■■. ;

Í ¿ & K . ■■■ y ' - Í j ¿ r - - : 4 y l j ^ " ' : ï f ; 4 ' r 'ÿ- ' - S ' ÿ y y s f é y - , ’f V ,y^4 ¿ ‘ '¿ Z y . - X : )<f 4/Ś4 4 .-4 ' 4,-. .

.

;ä > y ; ^ : .

" . ' ■ X : , ' ' ; V . v :" . - '

vy:/ y ^. ;. - - ' ■ : ^{. .} ■■■■/^{. .} ■ ■' ' ' , „.: ■

■ - -y;-y' > ' " . ■ . /■ , ' ^{y .} y ^ tś ' ' &, i¿ ' / fWÆ // y' ' 'XX /

.< ',-■ ....• ■

■ - r . - . -, . ■- / - • .. .. ..

H ® f ’y y í''./V'í y - . y y y / /;//y-;„ ^. -- ' • ; ^. .'

s-.-- ÿvi' ÿ-' y ■ 4-Ąxć:, y-'y-, • - . -..■' ■ y :.-y. ..y ■■ ■■ / y y y '- / 4 yy ,yy- --4 / yy yy-y:-. y . y y y / y•/ ■ y ' W 0 4 0 ^ y M P Ï

.;.;c ■ ,^?v ■X '/!