IM. STANISŁAWA STASZICAW KRAKOWIE Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji Katedra Elektroniki
dr inż. Piotr Dziurdzia
paw. C-3, pokój 413; tel. 617-27-02, piotr.dziurdzia@agh.edu.pl
dr inż. Ireneusz Brzozowski
paw. C-3, pokój 512; tel. 617-27-24, ireneusz.brzozowski@agh.edu.pl
ELEMENTY
ELEKTRONICZNE
ZAGADNIENIA TERMICZMNE W ELEMENTACH ELEKTRONICZNYCH
EiT 2014 r. PD&IB 2
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 3
MOC, CIEPŁO, TEMPERATURA
P R O B L E M ?
Jeden z tranzystorów układu scalonego o wymiarach 1µm x 1µm x 1µm rozprasza 1mW mocy elektrycznej
(np. MOS. I D =1mA przy U DS =1V)
Jaką gęstość mocy zanotujemy: ?
?
V
P 10 15 [W/m 3 ] !!!
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 4
MOC, CIEPŁO, TEMPERATURA
W 1 =10 15 W/m 3 !!!
W 1 >W 2 W 2
Gęstość mocy we wnętrzu układu scalonego jest większa
niż w reaktorze jądrowym !!!
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 5
MOC, CIEPŁO, TEMPERATURA
Wydzielana w układzie moc
Zmiana temperatury w sąsiedztwie elementu mocy
Zmiana parametrów elektrycznych mikrostruktury
pod wpływem zmian temperatury
SPRZĘŻENIE ELEKTROTERMICZNE
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 6
MOC, CIEPŁO, TEMPERATURA
Q
TQ
LQ
BP(t) – moc wydzielana w układzie
Q
B– ciepło rozpraszane przez dolną powierzchnię układu scalonego
Q
T– ciepło rozpraszane przez górną powierzchnię układu scalonego
Q
L– ciepło rozpraszane przez wyprowadzenia układu scalonego
P(t)
DROGI ROZPRASZANIA CIEPŁA
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 7
SPOSOBY PRZEKAZYWANIA CIEPŁA
PRZEWODZENIE
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 8
SPOSOBY PRZEKAZYWANIA CIEPŁA
KONWEKCJA
RADIACJA
Konwekcja, inaczej unoszenie ciepła, jest procesem przekazywania ciepła z powierzchni ciała stałego do otaczającego płynu (gaz lub ciecz).
Przekazywanie ciepła odbywa się zatem nie tylko przez przewodnictwo cieplne, ale i poprzez ruch swobodnych molekuł. Naturalna konwekcja jest spowodowana miejscową różnicą gęstości medium i w jej procesie rozrzedzony płyn unosi się ku górze w obecności pola grawitacyjnego.
W procesie radiacji nie uczestniczy żadne medium pośredniczące.
Ciepło jest transmitowane do otoczenia poprzez fale
elektromagnetyczne (najskuteczniej w próżni). Ilość emitowanego
ciepła zależy tylko od temperatury i emisyjności powierzchni materiału
z którego jest wykonana. Procesem radiacji rządzi prawo Stefana-
Boltzmanna, zgodnie z którym energia radiacji jest proporcjonalna do
czwartej potęgi temperatury.
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 9
REZYSTANCJA TERMICZNA
t t z y x C T
t z y x w t z y x
T , , ,
, , , ,
,
,
gdzie: - współczynnik przewodności cieplnej [W/mK], C
- pojemność cieplna właściwa [J/m
3K], w – rozkład gęstości generowanej mocy cieplnej [W/m
3]
x
(1 , l1 , c1 , m1 , S1 ) (2 , l2 , c2 , m2 , S2 ) (3 , l3 , c3 , m3 , S3 )
- przewodność cieplna, l – grubość warstwy, c – ciepło właściwe, m – masa , S – powierzchnia warstwy Tj
To
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 10
REZYSTANCJA TERMICZNA
_1 _2 _3
0 3 3
3 2 2
2 1 1
1
0 th th th
j
T P R R R
S l S
l S
P l T
T
x
(1 , l1 , c1 , m1 , S1 ) (2 , l2 , c2 , m2 , S2 ) (3 , l3 , c3 , m3 , S3 )
Tj To
P(t)
T
j(t) R
th_1R
th_2R
th_3T
0(t)
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 11
POJEMNOŚĆ TERMICZNA
c th
th
C l S C
C R 4
2 4
2
P(t)
T
j(t) R
th_1R
th_2R
th_3T
0(t)
C
th_1C
th_2C
th_3x
(1 , l1 , c1 , m1 , S1 ) (2 , l2 , c2 , m2 , S2 ) (3 , l3 , c3 , m3 , S3 )
Tj To
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 12
MODEL TERMICZNY
mikrostruktura
dolna część obudowy mikrostruktury
metaliczne wyprowadzenia z mikrostruktury
P(t) QL
QB
QT radiator
Przykładowy model elektrotermiczny obudowy układu scalonego Q
TQ
LQ
BEiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 13
CIEPŁO, CZY ZAWSZE PROBLEM?
p-Si p-Si
p-Si
Element wprowadzany w ruch zmianami temperatury
p-Si
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – zagadnienia termiczne 14
CIEPŁO, CZY ZAWSZE PROBLEM?
'Courtesy of Sandia National Laboratories, SUMMiT(TM) Technologies, www.mems.sandia.gov'
MIKROMASZYNY MEMS
1 µm
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 15 30mm
30mm
3mm
(+) (-)
q c
q h q h
Cu
MODUŁ PELTIERA
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 16
MODUŁ PELTIERA
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 17
MODUŁ PELTIERA
www.lairdtech.com
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 18
Temperatura względna
P N P N P N
3 2 1
T
1 – radiator, 2 – moduł termoelektryczny, 3 - mikroukład
x
pel c
h
Q U I
Q
MODUŁ PELTIERA
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 19
Cu
Cu Al2O3
Al2O3
Pj=R*I2pel(t) Th(t)
Tc(t) Qh = *Th(t)*Ipel(t)
Qc = *Tc(t)*Ipel(t) x
Bi2Te3
MODUŁ PELTIERA
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 20
ZJAWISKA TOWARZYSZĄCE DZIAŁANIU MODUŁU TERMOELEKTRYCZNEGO
ZJAWISKO SEEBECKA
Zjawisko Seebecka opisuje indukowanie się siły termoelektrycznej w obwodzie składającym się z dwóch różnych przewodników, których połączenia znajdują się w różnych temperaturach. Indukowane napięcie termoelektryczne U zależy od temperatury. Współczynnik s jest charakterystyczny dla zastosowanego materiału przewodnika.
2...
2
1
s T s T U
U=s
1T-s
2(T-T)-s
2T=
=s
12T=(s
1-s
2) T
T+T
T+T Przewodnik 2 T
Przewodnik 2
T+T
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 21
ZJAWISKA TOWARZYSZĄCE DZIAŁANIU MODUŁU TERMOELEKTRYCZNEGO
ZJAWISKO PELTIERA
Zjawisko Peltiera opisuje procesy zachodzące na złączu dwóch różnych przewodników przy przepływie prądu elektrycznego. W zależności od kierunku przepływu prądu złącze pochłania lub wydziela ciepło do otoczenia. Efektywność zachodzących procesów zależy od różnicy poziomów energetycznych pasm przewodnictwa zastosowanych przewodników.
e
przewodnik_2
e
przewodnik_1
q h q c
Ciepło wydzielane przez złącze Temperatura wzrasta Ciepło pochłaniane przez złącze Temperatura obniża się
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 22
ZJAWISKA TOWARZYSZĄCE DZIAŁANIU MODUŁU TERMOELEKTRYCZNEGO
ZJAWISKO PELTIERA
pasmo przewodnictwa
pasmo przewodnictwa
pasmo przewodnictwa poziom
Fermiego poziom
Fermiego
poziom Fermiego
E
Półprzewodnik Metal_2
Metal_1 T T
pel
p T I
Q
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 23
ZJAWISKA TOWARZYSZĄCE DZIAŁANIU MODUŁU TERMOELEKTRYCZNEGO
ZJAWISKO THOMSONA
Zjawisku Thomsona musi towarzyszyć przepływ prądu elektrycznego pod wpływem przyłożonego z zewnątrz napięcia. Jeżeli jednorodny przewodnik znajduje się w polu gradientu temperatury, to w zależności od kierunku przepływającego prądu ciepło jest pochłaniane lub wydzielane z jego objętości
e e
T1
q c
T1+Tq h
xdx I dT Q
t
T
gdzie:
T– współczynnik Thomsona [Vm/K], I – prąd elektryczny [A]
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 24
ZJAWISKA TOWARZYSZĄCE DZIAŁANIU MODUŁU TERMOELEKTRYCZNEGO
ZJAWISKO JOULE’A
R I Q j 2
l
j dx
S I T Q
0
2 ( )
Z uwagi na zależność rezystywności od temperatury oraz ze względu na znaczne gradienty temperatury występujące w pracujących modułach termoelektrycznych, właściwą formułą opisującą wydzielane w nich ciepło Joule'a jest wzór:
gdzie: (T) – rezystywność materiału [m], l – długość przewodnika
[m], S – powierzchnia przekroju poprzecznego przewodnika [m
2]
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 25
MODUŁ PELTIERA
h c
Te Bi Te
Bi pel pel
c
c I R T T
I T
Q
2 33 2
2
2
h c
Te Bi Te
Bi pel pel
h
h I R T T
I T
Q
2 33 2
2
2
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 26
0.4 0.5 0.6 0.7 0.8
[W/oC]
81.4%
120 100 -20 0 20 40 60 80
T [oC]
2.0 2.4 2.8 3.2
80%
R [Ω]
1.6
120 100 -20 0 20 40 60 80
T [oC]
46
120 100 80
-20 0 20 40 60
T [oC]
48 50 52 54
[mV/oC]
13%
MODEL MODUŁU PELTIERA
Zależności termiczne parametrów modułów Peltiera
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 27
MODEL MODUŁU PELTIERA
Ekwiwalentny model modułu termoelektrycznego
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – moduł Peltiera 28
MOC CIEPLNA MODUŁU PELTIERA
P. Górecki : „Ogniwa Peltiera”, Elektronika Praktyczna 1/96, Warszawa 1996
EiT 2014` r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 29
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
„…ubiquitous computing’s dream of wireless sensors everywhere is accompanied by the nightmare of battery replacement and disposal …”
Przykład:
Gęstość energii we współczesnych bateriach osiąga 3.8 kJ/cm
3.
Aby zagwarantować 10-letni okres nieprzerwanej pracy dla urządzenia o średnim poborze mocy 1mW trzeba wyposażyć go w baterię o objętości 100cm
3!?
Szybkość procesorów, gęstość pamięci, szerokość pasma sieci transmisyjnych wzrastała w ostatnich latach w tempie
eksponencjalnym.
Ta właściwość nie była udziałem baterii, znaczące zmiany w tym względzie nie są nawet antycypowane w przyszłości!
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 30
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
ŚWIATŁO
<10µW
CIEPŁO
<20µW 10
oC gradient
DRGANIA
piezoelectric ~200µW electrostatic 50-100µW
Źródła energii pochodzącej ze środowiska
TŁO ELEKTRO-MAGNETYCZNE
<1µW
Szacunkowa moc elektryczna otrzymywana w obiektach zamkniętych
z 1cm
2lub 1cm
3materiału konwertera
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 31
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
ŹRÓDŁO CIEPŁA
Ciepło odpadowe z procesów przemysłowych,geotermiczne, izotopy, paliwa kopalne
Radiator
Moduł Peltiera (TEM) RL
IPEL
P=IPEL2RL US
Źródło ciepła Radiator
Moduł Peltiera przetwarzający Układ napięcie
Układ magazynujący
energię Węzeł sieci bezprzewodowej
Antena
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 32
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
TEG
U
ST
hT
aT
aI
LT
cMoc wyjściowa PL w funkcji obciążenia prądowego Il dla różnych gradientów temperatury
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 33
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 34
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
Ciepło ciała ludzkiego jako źródło energii do zasilania układów elektronicznych
Przepływ mocy cieplnej P
humangenerowanej przez ciało człowieka
(~30mW/cm
2)
P human
P el = ok. 3% P human
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 35
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
Ciepło ciała ludzkiego jako źródło energii do zasilania układów elektronicznych
Przy całkowitym bezruchu człowiek uwalnia ok. 80W mocy cieplnej
Podczas wysiłku fizycznego przemiana materii wzrasta i może sięgnąć aż 800W!
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 36
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
Źródło: Joseph A. Paradiso, Thad Starner, „Energy scavenging for mobile and wireless electronics”, Published by the IEEE CS and IEEE ComSoc, 2005
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – generator tremoelektryczny 37
GENERATOR TERMOELEKTRYCZNY
Technologie
półprzewodnikowe
EiT 2014 r. PD&IB 38
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 39
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
POZIOMA METODA BRIDGAMA
ZARODEK
KRYSZTAŁ
STOPIONA STREFA
POLIKRYSZTAŁ
GRZEJNIK
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 40
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
METODA CZOCHRALSKIEGO
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 41
METODA CZOCHRALSKIEGO
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 42
METODA CZOCHRALSKIEGO
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW
PÓŁPRZEWODNIKÓW
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 43
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
METODA BEZTYGLOWA
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 44
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
WAFER – płytka podłożowa (np. krzemu) powstała z pociętego pręta krzemowego
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 45
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
EPITAKSJA
Technika wzrostu kryształów z roztworów i z fazy gazowej na istniejącym podłożu krystalicznym.
Najważniejszym zastosowaniem tej techniki jest wytwarzanie cienkich warstw monokrystalicznych.
Jej cechą jest możliwość otrzymywania materiałów półprzewodnikowych w temperaturach dużo niższych niż temperatura topnienia.
GaAs GaAs+Ga
Stopiony roztwór o temperaturze dużo niższej niż temperatura topnienia samego GaAs
Warstwa epitaksjalna Podłoże
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 46
WYTWARZANIE MONOKRYSZTAŁÓW PÓŁPRZEWODNIKÓW
EPITAKSJA
Warstwa epitaksjalna ma identyczną orientacje sieci krystalicznej jak podłoże, ale może różnić się własnościami elektrofizycznymi. Może mieć inny poziom domieszkowania, a nawet inny typ przewodnictwa, itp.
1 – zwojnica indukcyjna, 2- płytki podłożowe, 3 – podstawka kwarcowa, 4 – podstawka grafitowa, 5 - rura kwarcowa
Metoda osadzania chemicznego
Rysunek zaczerpnięto z W. Marciniak „Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone”, WNT 1979
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 47
DOMIESZKOWANIE PÓŁPRZEWODNIKÓW
DYFUZJA
W odpowiednio wysokiej temperaturze możliwa jest dyfuzja atomów w głąb płytki podłożowej.
• dyfuzja z nieograniczonego źródła (o stałej wydajności)
•dyfuzja z ograniczonego źródła
M – całkowita liczba atomów
Rysunek zaczerpnięto z W. Marciniak „Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone”, WNT 1979
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 48
DOMIESZKOWANIE PÓŁPRZEWODNIKÓW
IMPLANTACJA JONÓW
Bombardowanie kryształu jonami domieszek rozpędzonymi do dużych energii (setki keV).
Implantację przeprowadzana jest w stosunkowo niskich temperaturach.
Implantacja może być przeprowadzana poprzez warstwy tlenku, lecz na ogół nie zachodzi przez warstwę metalu.
Implantacja stosowana jest do wytwarzania bardzo cienkich warstw, do wprowadzania domieszek, które nie mogą być wprowadzone poprzez dyfuzję.
Implantacja pozwala na uzyskanie bardzo dokładnej geometrii i jakości
obszarów domieszkowanych.
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 49
DOMIESZKOWANIE PÓŁPRZEWODNIKÓW
IMPLANTACJA JONÓW
1 – źródło jonów, 2 – układ przyspieszenia jonów, 3 – analizator masy, 4 – układ odchylania, 5 – komora z podgrzewanym podłożem
Rysunek zaczerpnięto z W. Marciniak „Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone”, WNT 1979
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 50
WYTWARZANIE ZŁĄCZ P-N
ZŁĄCZE WYCIĄGANE
PRZEKOMPENSOWANIE – zmiana wypadkowej koncentracji domieszki N
D=10
14cm
-3N
A-N
D=5x10
14cm
-3N
D-N
A=10
15cm
-3N
A-N
D=5x10
15cm
-3N
D-N
A=10
16cm
-3Metoda wyciągania została zastąpiona metodami polegającymi na wprowadzaniu domieszek po
otrzymaniu monokryształu lub metodami epitaksji warstwy o przeciwnym do podłoża typie przewodnictwa.
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 51
WYTWARZANIE ZŁĄCZ P-N
ZŁĄCZE STOPOWE
n-Ge In
n-Ge Faza ciekła In+Ge
n-Ge p-Ge
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 52
WYTWARZANIE ZŁĄCZ P-N
ZŁĄCZE DYFUZYJNE
Metoda dyfuzji stosowana jest obecnie na szeroka skalę. Przeprowadzana jest w wysokiej temperaturze.
N
D>N
AN
A>N
Dp n
Dyfuzja ze źródła o skończonej wydajności
Bor N
A>N
DN
D>N
Ap n
Dyfuzja ze źródła o stałejwydajności
ZŁĄCZE IMPLANTOWANE
ZŁĄCZE EPITAKSJALNE
Rysunki zaczerpnięto z S. Kuta „Elementy i układy elektroniczne”, AGH 2000
EiT 2014 r. PD&IB Elementy elektroniczne – technologie półprzewodnikowe 53