• Nie Znaleziono Wyników

Tester tranzystorów; TYP 2714 - Digital Library of the Silesian University of Technology

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2022

Share "Tester tranzystorów; TYP 2714 - Digital Library of the Silesian University of Technology"

Copied!
1
0
0

Pełen tekst

(1)

P rzed sięb io rstw o T echnicżno-H andlouje

/ K A B i D E Z ”

ksbidez S t a ii n g r a d z k a 2 9 / 3 1 , 0 3 - 3 0 1 W a r s z a w a

O O O O -fi- M JL J L O O O O X JL X JL O O O O X J L J L i . O O O

A

TESTER TRANZYSTORÓW TYP 2714

PRZEZNACZENIE

Tester przeznaczony jest do kontroli trzech podstawowych param etrów tranzystorów bipolarnych n-p-n I p-n-p m ałej, średniej oraz dużej mocy w jednym autom atycznym cyklu pomiarowym. Wynik testu daje odpo­

wiedź na pytanie, czy param etry tranzystora badanego mieszczą się w zadanych przedziałach wartości, sygna­

lizacja D O B R ZE-ŹLE.

Kontrolowanymi parametrami są:

-p rąd zerowy kolektora

-napięcie przebicia U/BR/CER > / u CES • UCE<V - współczynnik wzmocnienia prądowego h j j g .

Tester jest szczególnie przydatny do selekcji, kontroli dostaw, kontroli przed montażem itd. tranzystorów bi­

polarnych. Ponadto tester może być używany do pom iaru prądu wstecznego (I g ) i napięci» przebicia (U^>

diod półprzew odnikow ych oraz napięcia diod Zenera (Uz).

DANE TECHNICZNE

Pomiar prądu zerowego kolektora lę g © wartość graniczna lę g o g r

dokładność pomiaru warunki pomiaru

Pomiar napięcia przebicia U/BR/CER • wartość graniczna U/UR/gr

dokładność pomiaru warunki pomiaru

Pomiar współczynnika wzmocnienia prądowego h j | g wartości graniczne •

dokładność pomiaru warunki pomiaru

czas trwania testu zasilanie

10 nA+ J rnA w J podiakresach 5%

UCE»> Ot Î 8 V

0 + 200 V 3«,

Rb e - 0; OJQ33; 0,1; 0,33; 1; 3,3; 10; 33;

100 kO, »

Id ? " 10 uA + 100 mA w 4 pod zakresach

h jjE m in " l0 + ,0°. 100 + 1000 h j i E max " 10 * 10°* 100 +ł00°

5%

UCE • 0 + 1 0 V

l ę g ■ 0,1 nvA + 5 A w 5 pod zakresach

< l n k

2J0 V 30 H*

0 0 0 0 6 6 0 0 0 0 0 o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o o

kaildez

S p r z e d a ż p r o w a d z i :

P r z e d s ię b io r s tw o T e c h n ic z n o - H a n d lo w e „K A B iD EZ”

D ział S p rz e d a ż y K ra jo w e j te l . 1 1 -0 8 -4 8 ul. S ta iin g r a d z k a 29/31

03-301 W a r s z a w a

Cytaty

Powiązane dokumenty

1) Gmina otrzyma kwote w wysokosci 100 zl za wniosek o podwyzszony poziom dofinansowania ziozony w ramach Programu zawieraj^cy Zaswiadczenie wydane przez Gmine, ^^tory

The set of multiples M (A) of any left compressed set A (in the sense of Definition 2) possesses asymptotic density.. We conjecture this even for left compressed sets in the sense

Jaka jest różnica pomiędzy elementami idealnymi (rezystorem, kondensatorem, cewką, diodą), a elementami rzeczywistymi, jakie parametry elementów musimy

Zakresy pracy tranzystora bipolarnego ( odcięcie, normalny, nasycony), oraz inwersyjne połączenie tranzystora bipolarnego.. Efekt modulacji

[r]

(c) Liczba całkowita jest podzielna przez 3 wtedy i tylko wtedy, gdy suma cyfr tej liczby jest po- dzielna przez 3.. (d) Jeżeli liczba całkowita jest podzielna przez 9, to

, η M be the probability that a catastrophe will not arrive during the rest of the tagged customer sojourn time in the system conditioned on the fact that, at the given moment,

X nie ma wtedy interpretacji czasu oczekiwania na m-ty sukces.. Rozkład ujemny