• Nie Znaleziono Wyników

Metoda wstępnej obróbki obrazów w systemie robota

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2022

Share "Metoda wstępnej obróbki obrazów w systemie robota"

Copied!
5
0
0

Pełen tekst

(1)

ZESZYTY KAPKOWB POŁITECHKIKI ¿LASKIEJ 1980

Seria: AUTOMATYKA, z. 56 Kr kol. 652

Zbigniew M. Wójcik Centrum Badań Kosmicznych Polska Akademia Hauk

METODA WSI2JEHEJ OBRÓBKI OBRAZÓW W SYSTiMIE ROBOTA

Streszczenie. Wielowartościowy obraz graficzny, wprowadzony do pa­

mięci dynamicznej za pomocą przetwornika optyczno-elektrycznego i kla­

sycznego przetwornika analogowo-cyfrowego, jest przetwarzany na obraz binarny. Przedstawiona jest metoda takiego przetwarzania £3J. Zakłóce­

nia o dużej amplitudzie, których rozmiary są mniejsze od wymiarów roz­

poznawanych obrazów, są usuwane metodą rozszerzania-zwężania obrazu.

Stosowane obecnie roboty-manipulatory wymagają użycia dodatkowych, precy­

zyjnych podajników lub zatrudnienia dodatkowych robotników do podstawiania produkowanych detali pod uchwyt robota. Dlatego też stosowane są one obec­

nie głównie w warunkach pracy szkodliwych dla zdrowia ludzi, Koszty stosowa­

nia robotów zostałyby znacznie obniżone w przypadku, gdyby robot sam rozpo­

znawał położenia produkowanych detali. W procesie rozpoznawania położeń przedmiotów przez roboty istotną rolę odgrywa prawidłowość wydzielania obra­

zu obiektu z tła. W pracy tej rozważane będą jedynie przypadki obrazów gra­

ficznych czarno-białych, posiadających tylko dwa poziomy luminacjl (np. czar­

ne figury na białym tle). Są one nazywane obrazami binarnymi lub zero-jedyn- kowymi. Okazuje się, że bardzo duża liczba obrazów daje się sprowadzić do obrazów binarnych. Obrazy wielowartościowe, tzn. obrazy posiadające więcej niż dwa poziomy luminacji, również dają się przedstawić jako sumy mnogościo­

we odpowiednich obrazów binarnych £5]]. Badany obraz graficzny jest zawsze w technicznych zastosowaniach reprezentowany przez pewien sygnał elektronicz­

ny. Sygnał ten, po przejściu przez klasyczny przetwornik analogowo-cyfrowy, zawiera dużą liczbę zbytecznych informacji i zakłóceń, Nierównomiemości czułości mozaiki przetwornika elektrycznego i nieidealności układu optycz­

nego powodują znaczne deformacje obrazu ucyfrowionego, trudne do skompenso­

wania. V pracy przedstawiony jest przetwornik analogowo-cyfrowy, który sam automatycznie kompensuje te nieprzewidziane deformacje.

Badany obraz rzutowany jest na prostokątny raster (rys. 1a) przetwornika optyczno-elektrycznego, złożony z M*N elementów. Binarna wartość (X,Y) ele­

mentu p(X,Y) ra3tra jest równa 1, jeśli v(X,Y)> q(x,Y) oraz 0 w przeciwnym przypadku, gdzie v(X,Y) jest wartością analogową sygnału elektronicznego, proporcjonalnego do oświetlenia elementu p(x,Y), natomiast Q(X,Y) = kvQ , gdzie v0 jest wartością średnią jasności elementów pewnego założonego oto­

czenia >rys. 1), symetrycznego względem elementu p(X,Y). Jeśli vQ przewyż­

sza wartość średnią oświetlenia całego rastra, to k C1, w przeciwnym przypadku k> 1 . Otrzymany, binarny obraz jest prawidłowy niezależnie od

(2)

Zbigniew W. Wójcik

3&siłcwsx ¿siŁi pus: aren oaozmego o urazu. Obraz ten jest poprawny także w przy­

padkach, gdy wielkości zmian czułości przetwornika optyczno-elektrycznego

0 ÍX , Y)

N

Rys. 1. a) Raster idealny przetwornika optyczno-elektrycznego wraz z pewnym otoczeniem 0(X,Y) elementu p(X,Y); b) Przykład dziewięcioelementowego otoczenia 0(X,Y) o promieniu q rów­

nym około 1,5 elementów rastra

lub nierównomiernośei oświetlenia obrazu znacznie przewyższają jasność bada­

nego obiektu. Zmiany te muszą być rozłożone na obszarach większych od śred­

nicy założonego otoczenia. V wyniku procesu automatycznego kwantowania, war­

tości 1 elementów rastra! reprezentują jasne obiekty badanego obrazu, nato-' miast wartości 0 elementów rastra) reprezentują tło tych obiektów (tło jest ciemniejsze od obiektów). Jeżeli badane obiekty są ciemniejsze od tła, o- trzymany obraz binarny należy zanegować.

Gdybyśmy założyli, że ki 1 dla yg i yQ (tzn. dla ciemnego tła), wtedy z powodu nieidealności rastra nierówność y(X,Y)> QSX,Y) = kv0 jest łatwa do spełnienia dla elementów p(X,Y) reprezentujących ciemne tło jasnych obiek­

tów. Przypadkowe nawet zakłócenia (w wyniku których*(X,Y) wzrasta) spowodowa­

łyby, że (X,Y) = 1 dla ciemnego tła. W analogiczny sposób, gdybyśmy założy­

li, że k > 1 dla y_ (tzn. dla jasnych obiektów), to na skutek drobnych

. .

nawet zakłóceń (w wyniku których wartość y(X,Y) maleje) nierówność y(X,Y)>

> q(x,Y) = kv0 byłaby trudna do spełnienia dla elementów p(X,Y) rastra; re­

prezentujących jasne obiekty, W wyniku tych zakłóceń otrzymywane byłyby wartości (X,Y) >= 0 dla jasnych obiektów. W przedstawionej metodzie nie jest wymagana znajomość nierównomiernośei tła lub oświetlenia fotoozułej mozaiki przetwornika optyczno-elektrycznego przed, procesem kwantowania. Po­

mimo tego,kwantowanie odbywa się prawidłowo. Wyniki automatycznego kwantowa-

(3)

Metoda wstępnej obróbki . I M

Hys. 2. Algorytm automatycznego prze­

twarzania obrazu wielowartościowego w obraz binarny

towania obrazów spełniają warunek konieczny i wystarczający reprezentowania obrazów £4^» Jeżeli badane otoczenie o(x,Y) Jest symetryczne i gdy badane są wszystkie elementy rastra.

Kolejnym etapem wstępnej obróbki obrazów Jest kompensacja silnych zakłó­

ceń, których rozmiary są mniejsze od rozmiarów obiektów. Kompensacja ta mo­

że być prowadzona np. za pomocą metody rozszerzania - zwężania obrazu £1^.

Binarny obraz wejściowy, w którym obiekty są reprezentowane za pomocą ele­

mentów rastra o wartości 1, Jest rozszerzany we wszystkich możliwych kierun­

kach o założoną wielkość q. Znikają wtedy zakłócenia obiektów, utworzone z elementów o wartościach O, których wielkość Jest mniejsza od q. Z kolei zwę­

żanie tak otrzymanego obrazu o wartość 2q powoduje usunięcie zakłóceń, zło­

żonych z elementów rastra o wartości 1, istniejących w tle obiektów. Wyniko­

wy obraz powmien być Jeszcze rozszerzony o wartość q dla uzyskania właści­

wych, wejściowych rozmiarów obiektów (.rys. 3). Dowolny element p(X,Y) nale-

(4)

152 Zbigniew H. Wójcik

Rys, 3. Graficzna interpretacja metody rozszerzania-zwężania obraza bineir- nego

ży do fazy wyróżnionej rozszerzonego obraza binarnego, jeśli suma logiczna wartości cyfrowych wszystkich elementów otoczenia 0(X,Y) jest równa jednoś­

ci. W analogiczny sposób dowolny element p(X,Y) należy do fazy wyróżnionej zwężonego obrazu binarnego, jeżeli iloczyn logiczny wartości cyfrowych wszy­

stkich elementów tego otoczenia posiada wartość jeden. Otoczenie to posiada promień równy q elementów ras trał. Wyspecjalizowany układ elektroniczny kom­

pensacji zakłóceń jest przedstawiony w pracy £1 3« Wyniki działania algoryt­

mu rozszerzania-zwężania obrazu spełniają podstawowy warunek reprezentowa­

nia obrazów [^4J, ponieważ badane otoczenie o(X,Y) jest symetryczne oraz ba­

dane są wszystkie elementy rastra.

LITERA TORA

£l] T. Ono, M. Mese, M. Ejiri. Defect Detection in Complicated Patterns, Electrical Engineering in Japan, vol. 95, 1375.

£23 Z.K. Wójcik,- A system for an automatic detection of defects of semicon­

ductor masks and printed circuit boards, Electron Technology, 4, pp. 95- 108, Warszawa 1977.

£33

Z.M. Wójcik, Algorytm automatycznego kwantowania obrazów graficznych, Rozprawy Elektrotechniczne, 1, 1980.

¡3-4-3 wójcik, A model of Pattern Recognition, Intern. Conf. on System-

Kodelling-Control, Zakopane, Oct. 8-13, 1979-

[53 Z.M. Wójcik, Wykorzystanie systemów cyfrowego przetwarzania ohrazów w technologii układów półprzewodnikowych, praca doktorska, Instytut Badań Systemowych PAR, Warszawa 1977.

363 Wójcik Z.M. Operator automatycznego wykrywania wad oraz kompensacji za­

kłóceń ohrazów graficznych, Archiwum Automatyki i Telemechaniki, 4, 1977.

(5)

Mat oda gBtgpnaj obréblti . 183

METOf nPEHBAPHTEJIbHOft OEPAEOTKH OEPASOB B CHCTEME POEOTA

P e 3 » m e

BhicoKOKaqecTBeHHHfi rpa*HBeoKfi o 6 p a 3 , BBe^eHHHft b flBHaMimecKys naiiHTŁ npn noiionH attajio ro - nw JpoBoro n p eo6pa30B aiejL ii, n p e o d p a sy e ic a b CHHapHbtfi o 6 p a 3 . B c i a r s e n p e ficiaB Jie a ¡te tó n la n o r o npeodpa30BaH Jifi.

IIoMexH c OojiLinoii ajo ian T y so ii, pa3MepH xoT op ux MeBbme, veM BejiHBBKa pa3rt03HaBaeML0c o 6 p a3 0 B , HCKnovaioTCH ueio^OM pacmapeHHa - cyseH aa o fipaaoB .

A METHOD OF THE IMAGES‘ INITAL PROCESSING IN ROBOT STSTEH

S u m m a r y

A m u ltiv alu a b le graphic image which i s fe d in t o the djnamio memory by maan8 o f o p t i c - t o - a l e o t r i o a l co n v erter and t y p i c a l a n a lo g - t o - d ig it a l c o n v e rte r, i s tran sform ed to a bin ary im age. A method o f such t r a n s ­ fo rm ation i s p re se n te d . High am plitude d istu rb a n c e s which are sm a lle r than s i z e s o f recogn ized im ages, a re removed by means o f the expansion - c o n tra c tio n method.

Cytaty

Powiązane dokumenty

Na pewno będzie ona określona w ten sposób aby w każdym podprzedziale zestaw funkcji bazowych był ten sam, ponadto taki podprzedział może być dalej podzielony na

Na potrzeby realizacji niniejszej Umowy Strony jako niezależni administratorzy danych udostępniać będą sobie nawzajem dane osobowe swoich reprezentantów lub

Poszukiw anie odpow iedniości elem entów obrazów sprow adzono do zadania ustalenia niedokładnej odpow iedniości odpow iednio zdefiniow anych grafów. Do ustalenia ich

Uogólnieniu wyników pracy [4], dotyczącej syntezy elementów bezinercyjnych, prowadzącemu do syntezy nieliniowych pojemności i indukcyjności oraz pewnych bardziej

Jedna z częściej stosowanych metod syntezy polega na identyfikacji jąder szeregów Volterry układów nieliniowych w dziedzinie czasu lub częstotliwości i następnej

poznawania konturów (tj. graf) spełnia warunek podstawowy reprezentowania obrazów': jeżeli kontur na rastrze istnieje, to graf, przedstawiony na rys. '2b, jest

Metody modelowania osobliwych pól naprê¿eñ w pobli¿u wierz- cho³ków ostrych naro¿y oraz obliczania zwi¹zanych z nimi parame- trów (np. uogólnionych wspó³czynników

Metoda elementów skończonych (MES) znana jest w literaturze przed- miotu pod nazwą „The finite element method - (FEM)” lub też pod nazwą „The finite element analysis -