Ireneusz Bemke, Ćwiczenie laboratoryjne - Kontroler magistrali IEEE 1149.1Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych

(1)

2003

Poznañskie Warsztaty Telekomunikacyjne

Poznañ 11-12 grudnia 2003

Ireneusz Bemke

! #% ' ) +- . /02 4 #. # 7 - +- . 2 : < 4 #. % >? # # A4 C2 0: %/ . #

Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych

e-mail:

bemke@merkury.perfect.net.pl

û:,&=(1,(/$%25$725<-1( –

KONTROLER MAGISTRALI IEEE 1149.1

Streszczenie

E F HJH LM N OM Q RH L M T U RV W Q RYO H [ RM \] ^ _ ` ] a_ `b cd e f _ g i _ k lmn mo pr s tu v wxz { t| xv } ~ v | | t

¡¢ £ ¤ ¥ ¦ ¨ © ª ¢ « ¬ ® ¯ ° ± ²

–

jej

budowy,

zasad

funkcjonowania i metod testowan

³´ µ ¶ ¸ ³¹º » ¼ ³» º ¾ ¿À´ Á¾

zrealizowane

na

bazie

specjalizowanego

kontrolera

magistrali IEEE 1149.1 wykonanego w Katedrze Metrologii

Â Ã Å ÆÇÈ É Ê Ë Ì ÎÈÐ ÇÑÒ Ó ÂÔ Õ Ó Å Ô Ö × Ò ÎÂÇÈ ÔÖ Ó ÂÐ Â Ú Û Ü Ý Þß àáâã âä ß åæ ç è àáé ê ì í ê ç àáì è àá î ê ê í å ê î å ä ï ê ç ä è àä ì ðä ß ê ï í ñ òá å ä ó ôõ ö÷ ø ú û ü þ ÿ õ ó þ õ ÷ ó õ ö þ

-demonstracyjna

þ õ ôõ õ õ ô õ õ ÿ õ õ ÷ ÷ % þ ÿ ö þ õ % ôó þ ÷ % ÷ þ öõ ) þ ÷ % * õ , ö õ ô- . /0 12 46 7 8 : 6

testowania.

1.

; < > @ A B C EGH I J KL M N O QS QN UV XY Z N M[N ]U_ N XZ N M b XN Z _ Qd e ]Z g

problemy w dziedzinie testowania konwencjonalnego

h i jk m n o p r tu i n o vh w i xyu w k tw { x | } ~ o { i t o w k m u w { ti u o { u o k m w pk o y ¡ ¢ ¤¥ ¦ § ¨ ©ª ¨ « ¬ ¨ ®¬ ¯ ° ª ¦° ° ± ¯ ² ± ¬ ª ° ª ¨ « ¬ ³ ± ©° ´ ³ µ ° § ¸¹ ¨ ¹ ¬ ¨ º¦» ¦ª ° ¥¼ ¦ ¯ ° ´ º¦¯ ¦¨ ´ ¹ ¦° ©°¼½ ¥ ² ¥ ¾ ¿ º¬ ± À ¯ Á Ã ¨ « ¬ ¯ ¹ « ºÄ ´ ³ ´ ¬ ª ¦¨ ´ °¯ ª

a wielu

§ ¸ ¬ ´ ³ ¥ ¨ ª À ¯ § ¬ ª ¬ ® ¦©¬ ´ ³ Æ ¨ ®¸° ² Á È É Ë Ì Í Î Ï ÐÑ Ò ÓÔÐ Õ ×

-

Ø Ù Ú Û Ü Ý ÐÔ Þ Ý ÐÔ ß à Ôá à âã ã ã æ æ ç è éæ ê ì íîï îð ñò ó ô íð ï ö óñì ÷ù ú îó û ï ì ü ý ÿ ð ï ö î ì ó ÿ ï îó û ï ì î ì ÷ì ö ô ó û ï ì ÿ ú î ÿ ÷î ð ÿ ý îÿñ ò ó ìñ ì ù ý ÿ ï îì é ù û ý ù ÷îù ù ï ÿ ý ô ù ÿ ì ï îì ö ù ï ð ù ý ÿ ï ô ó ð û ò ê û ì î ð ö ÿ ê ý

calonych w bloki

ð ÿ ý îÿñò ó ì ö ù ð ï îö ù ý ÿ ï îì î ì ù ý ÿ ï ì ú ù ð ö ÿ ê ð û ì ì ì û ì ý ï û ï ô é

W

podstawowej

konfiguracji

komunikacja

ù î ê û ô ì ù ý ÿ ï ô ð ö ÿ ê ì ÿ ì ì ì ù ê $ ô ý ÿ î ù û ì û ç û ì ý ù ê ù ý ò û ì ì ú ù ý ò ÿ ú î ÿ ÷ û ÿ ù ( ì ê ï îóý ì ý $ ð ê ù ý ÿ ï ì ú ù ý $ ÿ ê ÿ ï ô ð ö ÿ ê ù ê ð ð

zwanego

sterownikiem

TAP

(Test

Access

Port).

, -. /0 1 2 34 5 7 9 : <=> @ =. C3F 4 0 2 -/0 IJ K /: . K LM 1 @ O < 2 M P Q K 0 > 3F O : M > < T 3C-/< IJ U < 1 X @ O 0 1 < 2 J 1 @ 4 L< O X < O < 2 M I0 T 34 J -. C-@ =J P J ^ _ `a b c d e c b g i j`a b c d l a n `c o a ` pq r s t uv r wy v z { r q pq } r { ~ p v s w

st

¡ ¢ £ ¤ ¥ ¢ § © ª « ¬ ª ¯ ±² « ³²³ ¬µ ¶ · ²¸ ¹ ª « º ª ¯ ±² ¼ ½ ¾½ ¿ Á ¾Ã Á ¾Ä Å Æ ½ È ½ É Ê Á Ë Ì½ È Í ÎÏ Ã Ð ÌÏ Ñ Ò Ð É Ê Ó Ì½ Õ ÑÁ Ñ Ö

poprzez linie TDI oraz TDO, a linie TCK i TMS

È Ð ÌÏ Ñ Ò Ð É Ê ÎÏ ØÚ Ó É Ð ÛÊ Ü ÛÊ È Ð Ó ÎÒ Í Î¾Ë ÞÑ Ö Á Ë Ì½ È Ú Ó Ó

Ì½ Õ Ñ Á Ñ Ö Á Å ¿ Ã ÑáÐ É ½ ÛÉ ÞÊ Ó Í Î¾â ã ä å æ ç è ä ê ë ã ìíîæ ïìñ ìæ

TRST (Test ReSeT). Dane, instrukcje i odpowiedzi

ò ó ôõ ö ÷ ø ø ú ûü ø õ ö ý õ þ ÿ ø ú ûü ø õ ö ý õ þ ÿ ý ÿ ûÿ ü ø ü ö ü ý ø þ ûý õ ò ó ôõ ö ÷ ø ü ö þ ö ü !" $% ' % " + - . " + $/!2 . '45 2 . 89 : 2 $' 9 ;" + = > " ? @ " $9 B " + = > " ? D 9 > F$/! 9 ;5 GI I I L LN O PL !% =

dstawia

ST UV W X Y Z \ ] _a Y a c W d e c a W T f d Y a i k Y ld n o pX Sq a sW T t a sa e c a W T f X Us o Sc X c SXf X UsST w Sc X y a q X z|e pX } Y ~ UsX SV f e a

-a w UX Sq d e TfW Y s SX c d n df o a w V n c X W pd p a n e c T sV f a n o a q pX n c p a Sd c c X Uo l SXfX UsS q p w _a Y q a n o a q pd n df e T e c d n c pd ld W pX e d lXf _a y pY p V ld

twionego

sX Usa q d W pd zq sT UsX Sa q W pY \ ¡

–

¡ ¢ £ ¤¥ ¦ ¨ ¢ © ¨ ¨ £ ¤ ¨ « £ ¥ ¦ ¡ ¬ ® ¯ ¨ ¤ £ £ ¥ ® ¨ ¥ ¤ ¬ ¢ ±¡ ¬ ¥ ¦ ¡ ¯ ¤ ¬ ¦ ¡ ² ¨ ¥ ¢ ¨ ¦ ¡ ³ ¯ ¥ ¡ ¨ £ ¤ ¦ ¡ £ ¯ ¨ ¥ ¬ ² ¯ µ · ¨ ® ¬ ¨ ¨ ¤ £ ³ ² £ ¡ ¥ ¡ £ ¥

uchamianie

² ¯ « £ ±¡ ¥ ¤ ¹ £ ± ± ¥ © µ » ¼ ¾ ¿ À ¿ Á Â ÃÄ ¾Å Æ Å Ä Ç ¼ ¾Æ È É Ê Ë Ì Í ÎÄ Ï Ä Ð ¼ Ñ Ï ÒË Ó Ñ Ð ¼ Â Ä ¾Ë Ô Ä Ç É Õ Ä Ð Ê Ë Õ Ö¾ÌÃË Î× ØÙ Ù Ù À À Ú Û ¿À Ü Ý Þ ß àá â ã ä åÝ ä â æ çè àçâ ß Ý ä è é Þ êÝ ë ì á â êí î ï â ä è àí

szeregowo poprzez linie TDI i TDO. Taki sposób

á â êí î ï è ä åÝ ï Ý á è ß ä åÝ ã åä åã Ý ðä è ß ì ã Ý ò Ý ä åÝ î â ë â åðâ ôî å ß ì á õâ ß Ý ë ï è ö ï ß åí ï Ý ä ì î ÷ ø è ï á â ôõè ë ä åâ ï çè àçâ ß Ý ä åè ã ù ú á õï ì á Ý ë Þ é ë é ü èý åðâ ôî å é Þ êÝ ë ÿ ß ß êí î ï â ä ì î ÷ ß êÝö î é î ÷ ã â ò í ýè ë ä Ý Þ á â ß àçÝ ï ä Ý î ï ä è àá â ß â ðä åè ä åÝ çõÝ ä àã åàýå ï ß åí ï Ý ä è ï Þ â ä åè î ï ä â ôî åí á õï è àì êÝ ä åÝ ë êé ò åî ÷

wektorów

danych.

Standard przewiduje

w

takich

á õï ì á Ý ë Þ Ý î ÷ ß ì Þ â õï ì àçÝ ä åè ß èß ä çõï ä ì î ÷ ýè ë ä â ø åçâ ß ì î ÷ õèýè àçõÿ ß â ø èýô î åâ ß ì î ÷ ø ì á Ý àà õè ò åàçè õù ú é õï í ë ï è ä åÝ î ÷ ø Ý õë ï åèý ï êâ ü â ä ì î ÷ åàçä åèýè ã â ü ðåß â ô ï Ý àçâ àâ ß Ý ä åÝ è ðè ã è ä çÿ ß õâ ï ò Ý ê ï åÝýí î ì î ÷ êÝ ö î é î ÷ ðé ø Ý ë õè àâ ß Ý ðä ì î ÷ àè á Ý õÝ çâ õÿ ß æ î â é ã â ü

liwia selektywne

(2)

testowanie

poszczególnych bloków

(pakietów)

w

! # % % * # /! 35 ! 6 7 8 *! # : ! ; ! # *! 5 > 6 @ *B % B ; 3 !: % F5 : # H @ 7 3 ; ! % ! K ; 3 5 7 M 6 6 # O # 5 ! 6 P : ! % H 5 * 3* % ! K ! M % 3 ! @ # /! B % B ; 3 ! : % @ ! 7 3*! 6H TU U U X XZ [ X 8 ! # M % : # /! B % % B ; 3! : b ! ; % * 3* % ! 6 F 5 ! % ! 3* ; F *! ; @ ; # * % ! ! i B # B 3* 5 @ ! 7 3*! 6H 3*! ! TU U U X X Z [ X ; ! % / % 3 # 3* % ! @ : ! ; * 3* % ! K ! ; @ O # 5 ! 6 B @ 8 ; ; !% F5 ! /! ! ; 3 5 7 M 6 B 5 > 6 # M % 8 ; ; !% F5 ; / 5 n 8 ! : 3; ! % F 5 ; 3 5 7 M 6 B 5 > # /! M % 35 ! 6 B 5 > p 5 3* ! 3 # ! 7 ; ! # /! M % % B ; 3! : B 5 > % TU U U X X Z [ X 5 B ! 5

prostych

O M % 8 ! : ! ! ! % ! 3 % ! B 5 > ; 5 3 M % v H # *! # @ ; F 5 @ : 6% 3*! / 3H *B 6# * 3* % ! ! /! ! # /! M % 8 ! 6 *! # : % B @ 3 ! % 5 > # F6 B 5 > 3*! M % 8 5 > ! @ ! ; 7 ! @ % ! ! ! # M % : 3*! * 5 B ! ; 3 ; 7 ! @ % % % H * ; ! @ H 5 i 5 > % 6 5 ; ! # *B 5 % 3 B 35 B ; 5 5 # /! M % 35 ! 6 B 5 > F % 6# 3# ! 6 * 7 ! 5 @ ; 6 @ * @ ! 7 3* ! 6H TU U U X X Z [ X % 3% 5 > # /! ! 5 > B # /! ! @ # /! M % % B ; 3! : B 5 > % @ ! 7 3*! 6H 3 O B 3

- SN74BCT8244,

SN74BCT8245 produkcji Texas Instruments, procesory

¡ ¢

mikrokontrolery rodziny ATMEGA firmy Atmel.

£ ¤ ¥ ¢ ¦ § ¨ ¦ § ª ¥ « ¨ ¬ ® ¯ § ® ® ® ¦ § ª ¥

programowalne. W

® ¨ ¢ ¨ ¥ ª § ® § ¬ ¤ ® « ¥ ¨ ±ª § ² § ª ¥ « ³ ´ ¢ ¯ ¥ § ¢ ¯ ª ¢ ¥ ® ¢ ¦ ¨ § ª ¥ « ¨ ¢ ® § ¥ ª ¨ ¥ ® ¢ ¯ ¸ ¹ º »½¾ ¿ ¸ ¾ À¸ ÁÂ Â Â Ã Ä Å Æ Ç È ¹ »½ É ¿ Ê É º Ë ¾ ½Ì Í ÎÏ¿ Ì Ð ¸ Ñ Ò Ó ¹

standardem IEEE 1149.1,

Ô ¹ ¸ ¿ ¾ Ê Ë É Ó Ð ¾ Ï¾ ¿ ¾ Ð Ì ¸ ¾ Ô ¿ Î¹ Ô »Ó × Ë À¾ Ø Ù Ó Ú Ê Ò¾ ¸ ¾ º Î Ë À É Û À¾ º É Ð ¾ Ï¿ Ì º ÎÇ Ü ½¹ Ô Û ÀÚ Ë Î¹ Ó ¿ ¾ Ô ¸ Ú Ô × »ÎÙ º Ç Î¿ Ç Þ ß àá â ã ä å ç è é ë å ì í îéðñ ç á òòéó ô õ ö é÷éø ù é í ÷òô ðá ú û ðü ß Þ ý þ þ þ ÿ ü òá à ÿ áò éô ðâ ÿ ü ø ã òá ø â á ðâ ý ý þ ú ú òá ø ü é ü ø ðü ÿ Þ â ü á ø ü â ü â á ò

kowe linie

á ø á ÷ü ü ô ô ð ñ á é òðá ÷é ý ý þ úý ú å ü éá â á éâ ô ø òã ó ÿ ø ß ü ø òðÞ ß ó ó ÿ #ó é ó ã îðü ô % ðÿ ô ÿ ó ü òá ø ü é ß á òô òÞ ó ô % ðÿ ô ÿ ø á ó ÿ ü ø ô â ü % + à% ðá ó ã ÿ Þ ß àá â á ñ é ã % ü á . ü ø ã ñ é ý ý þ úý ã òá ðó ÿ ã Þ ÿ Þ % ô àø é2 ü 3 45 6 78 9 : ; < 6 = > ? 8 @ 8 A: B : C D F G H

odpowiedn

H> 9 4= D 4= J 6 D 9 : L H8 4: C > O

2. STANOWISKO LABORATORYJNE

P D F G : 6 = J F @ 8 9 4= > F HC = 8 9 : T4= > ; : C 8 @ H< @ 8 < W 78 6 D C D 9 : X8 Y : @ > C L 8 B HXT48 A> < 78TC H: @ > B : T> XT: C 8 @ H8 ] 8 F :

za tym idzie na szkolenie nowych kadr opracowane

= : XT8 7: XT8 @ : C HXW : : 48 = b C HF = > @ H> A8 ; : 48 T: 4D d@ > L 8dJ F > @ 8 F > A< 9 4= D XC : d> @ H> XT< 6 > @ T: L ; < 6 : C D ] = 8 X 8 6 6 = H8 78 @ H8 L 8 B HXT48 AH : 4 8 = L > T: 6 T> XT: C 8 @ H8 < W 78 6 5 C = d>d

wykorzystaniem.

75 C @ D L > A> L > @ T> L XT8 @ : C HXW 8 d> XT W : @ T4: A>4 L 8 B HXT48 AH pq q q r rt u Or XW : @ XT4< : C 8 @ D 9 4= D < Y D F H< X9 > Fd8 AH= : C 8 @ > B : < W 78 6 X F 8 A: @ > B : 9 4: 6 < W

cji Texas

z{ |}~ { }| |} { }{

scalony kontroler magistrali, który jednak wymaga

| ~ ~ | ~ { ~ ¢ { £ | { ¥

przedstawia

schemat

blokowy

opracowanego

kontrolera.

Rys.2. Schemat blokowy kontrolera magistrali

IEEE 1149.1 opracowanego w Katedrze Metrologii i

Systemów Elektronicznych.

§ ¨ © ~ { |} ~} z ¬ ¢ ~ |} { | ¯ { ° | { { ± ° { ¨© ° |} { ~ z´ ´ ´ µ µ µ | { ± ¹ { } ~ » ± { ¼ { ~ { | ° { ¼ | ° { |}~ ¯± ¼ ° |}~ ¿ { ¯ { ±}~ ~} Â |¢ ± Â } ¯ ° |}~ { ¼ { |} ~ ¯± ¼ Æ ° { ¨ © |} { ~ z´ ´ ´ µ µ µ { ~ ¯¢ ~ | » }

orów

instrukcji,

wektorów

{ ¼ { ~ | ¨ ¹ ¼ ~ ° ¢ { ¼

¢ } ¼

¹ ¯ |} } ¹ Â ¨~ { |} ~ { ¹ ± {

° |}~ Ñ { }~ Â ¹ ± ° |} { Ñ }~ {

magistrali

w

wybranym

stani

~ | ~ ¢}

° { ~ { | ° { £ ´ ´ ° |}~ Ô ¯ ¨ { } ~Ö¯ | ~ |} | { ¯ |} | ~ Ö~

zasilaniu 3,3V,

} ¯± ¯ { |} { ¯ ¨ ¼ ~ ± { |} | © { }~ ~

testowan

| ~| ¯ ° ~ ± » ¢ ¨ | ~ ¢ } ¯ |} { | Â ~ } ~¯{ ° |¢ ~ { ¹ } } |} ¯±

-demonstracyjna,

¢ } ~ ¯ |} { } ¹ ¨© ~ ~ |} { ~ |} ¼ | ¹ { ¼ ° |}~ ¢ z´ ´ ´ µ µ µ Ü ¹

jest zadawanie

|} { ¯¨ ¼ ¯ Â | ~ ¯ |} { ¯ ¨ ¼ Â { ¼ } ~ { | ° { ¯ ¢ |} { | ° { ¼ { ° |}~ ± ´ } | { |}~ { ¨ ¹ ¢ ¹ { ± | { }~ ¼ | ~ ß § Ñ ¹ ¨ ± { Ö° ~ ¯

magistrali do pracy z jednym, dwoma lub wszystkimi

}~ | ¯ ± | ¢ { ¨ ¹ ¢

umieszczono

w

podstawkach,

przez

co

uzyskano

BLOK STEROWANIA

GAL22V10

BLOK KONWERSJI

SN74LVT8980

ADRES

STEROWANIE

DANE

IEEE 1149.1

DANE

STEROWANIE

BUFOR

74LS245

(3)

æ ë ø ë ó ôè ë êâæ ð á ë ï í î ù á ò

wiczeniu,

a

dodatkowa

õ ð ø åìë á ä ë ö ÷ âè åæ î æ ð ï ë ï ë õ úí ìî è õ ð æ á ë êë ï ë ìè åìð á ë ï âè ö ä úë ø û á ï âè á í õ ð åë ý ð ï í î ù á ÷ ë þ âåìôë êã ÿ ð úç î æ è ï âë õ ð ÷ âã ø æ í á í õ ô ð á ë ø æ è ï âë ÷ â ö ä úë ø û á åî ë êð ï í î ù ï âè æ á âç æ ë ï í ÷ â æ ÷ ë þ âåìôë êç ôè ë êâæ ð á ë ï è åç æ ë õ ð ÷ ð î ç æ úç î æ åæ õ âêä ð á í î ù â ð ø õ ð á âè ø ï âð

zaopatrzonych przewodów.

âè ð ø úç î æ ï ç î æ ã ñò åìë ï ð á âåä ë êë ð ôë ìð ôí ï è þ ð åìë ï ð á â ð õ ôð þ ôë ÷ ð á ë ï âè ä ìû ôè æ ð åìë úð æ ôè ë êâæ ð á ëï è æ á í ä ð ôæ í åìë ï âè ÷ ñôð ø ð á âåä ë ë âï ø ð á å ÿ

W

ð õ ôð þ ôë ÷ ð á ë ï âö þ úû á ï í ï ë î âåä õ ð úð ý ð ï í æ ð åìë ú ï ë ÷ ð ý êâá ð ñî â è ø ö ä ë î í ï è ÿ ôð þ ôë ÷ ö ÷ ð ý êâá âë õ ôë î ã ï ë

kilku poziomach

abstrakcji,

tak

aby

stopniowo

æ ë õ ð æ ï ë á ë ò æ ö ø ð á ç â ø æ âë úë ï âè ÷ ÷ ë þ âåìôë êâ

podstawowymi sposobami testowania, wykrywaniem

úã ø û á á ø æ âë úë ï âö ÷ ë þ âåìôë êâ ìè åì âï ôë åìôö ä ìö ôí åõ ôë á ø æ ë ï âè ÷ õ ð õ ôë á ï ð ñî â ø æ âë úë ï âë ìè åìð á ë ï í î ù ö ä úë ø û á ë ý ø ð ìá ð ôæ è ï âë á õ è úï â æ ë ö ìð ÷ ë ìí æ ð á ë ï í î ù

testów .

î è êö æ ë õ ð æ ï ë ï âë åìö ø èï ìë æ è åìôö ä ìö ôç ÷ ë þ âåìôë êâ â åõ ð åð è ÷ è ø æ âë úë ï âë ð õ ôë î ð á ë ï è æ ð åìë úí ø á ë ìôí í

pracy: MIKROKROKI i PRACA KROKOWA. Panel

kontrolny pierwszego z nich przedstawia rysunek 3.

Prac

ë ð ø í á ë åâã ìö ï ë õ ð æ âð ÷ âè õ ð è ø í ï î æ í î ù âìû á ø ë ï í î ù â þ è ï è ôð á ë ï è å ç õ ð è ø í ï î æ è â÷ õ ö êåí æ è þ ë ôð á è ï ë êâï ââ ! $ ÿ & ð ý êâá è è åì æ ë ø ëá ë ï âè õ ð ý ç ø ë ï í î ù á í ÷ ö åæ è ó ï ë êâï âë î ù ! * , â ! & / ð ôë æ ð å è ôá ë îë ø æ âë úë ï âë ö ä úë ø ö ï ë ìë ä âè õ ð ö ø æ è ï âë æ ë ôû á ï ð ï ë

panelu kontro

êï í ÷ ë ä â âæ í î æ ï âè ï ë õ úí ìî è ìè åìö ç î ð

-demonstracyjnej). Widoczny na panelu graf wskazuje w

ë ä â÷ ë ä ìö ë êï âè åìëï âè æ ï ë ø ö è åâã åìè ôð á ï âä ! 8 ÷ ë þ âåìôë êâ ë ø êë ö úëìá âè ï âë õ ð ôö åæ ë ï âë å âã õ ð ï â÷ ð õ âåë ï ð õ ð æ âð ÷ í êâï ââ ! & / á í ÷ ö åæ ëç î è õ ð åæ î æ è þ û êï è õ ôæ è ñî âë ÿ ë õ ë ï è êö á âø ð î æ ï í è åì ôû á ï âè ý åìë ï êâï ââ ! * ä ð ï ìôð êè ôë ø ë ï è õ ôæ í î ù ð ø æ ç î è æ êâï ââ ! * , ö ä úë ø ö ë ø ë ï è þ ð ð ôë æ êâî æ ï âä á í åúë ï í î ù êö ð ø è ôë ï í î ù âìû á ÿ

Rys. 3. Widok panelu MIKROKROKI

Rysunek 4. przedstawia z kolei widok panelu trybu

PRACA KROKOWA. T

ö ìë ð õ è ôë îè á í ä ð ï í á ë ï è åç ï ë

poziomie pojedynczych bajtów danych. Student musi

æ ï ë ò â á õ ôð á ë ø æ âò ø ð õ ôð þ ôë ÷ ö ï âè ä ìû ôè âï ð ô÷ ë îè

ø ð ìí î æ ç î è åìôö ä ìö ôí ÷ ë þ âåìôë êâ â åõ ð åð ö è ø æ âë úë ï âë ÿ

podstawowych

rozkazów

implementowanych

w

standardzie IEEE 1149.1, oraz zasad funkcjonowania

magistrali i sterownika TAP. Na tym poziomie kontroler

ï ë ø æ ð ôö è ø úö þ ð ñ ò á è ä ìð ôû á ø ë ï í î ù á õ ôð á ë ø æ ë ï í îù ø ð

ö ä úë ø ö ë ø ë ï è þ ð ð ø î æ í ìö è ôû á ï âè ý åë ÷ ð î æ í ï ï âè

á è ä ìð ô ø ë ï í î ù ë ä â ö ä úë ø ë ø ë ï í æ á ôû î âú

w ramach

odpowiedzi.

Rys. 4. Widok panelu PRACA KROKOWA

* á ë ø ð ø ë ìä ð á è õ ë ï è êè á âø ð î æ ï è á þ û ôï è î æ ã ñî â

ôí åö ï ä ö F ÿ õ ð æ á ë êëç ð åè ôá ð á ë ò ë ä ìö ë êï í åìë ï

rejestrów konfiguracyjnych i roboczych kontrolera.

W oprogramowaniu

zaimplementowano prosty

ã æ í ä ìá ð ôæ è ï âë ìè åìû á ë ö ìð ÷ ë ìí î æ ï í î ù ÿ / úö ý í ò ð ï ÷ ë

÷ ÿâï ÿ õ ôæ í êâý è ï âö ÷ èìð ø í ä â ìè åìð á ë ï âë ö ä úë ø û á æ

wykorzystaniem magistrali w standardzie IEEE 1149.1.

H ã æ í ä ìè ï æ ëá âè ôë á åæ í åìä âè è êè ÷ è ï ìí ï âè æ ã ø ï è ø ð ð ä ôè ñêè ï âë åìôö ä ìö ôí ñî âè ý ä â ôæ è þ ð á è ë ø ë ï è þ ð ö ä úë ø ö

parame

ìôû á õ ôë î í ñ î âè ý ä â á õ ôð á ë ø æ ë ï âë ø ð õ ð åæ î æ è þ û êï í î ù ö ä úë ø û á ôð æ ä ë æ û á õ ôæ è á âø æ âë ï í î ù õ ôæ è æ åìë ï ø ë ôø â õ ôð ø ö î è ï ìû á ð ôë æ æ ë ø ë á ë ï âë õ ð ö ø æ è ó â ð ø î æ í ìí á ë ï âë ð ø õ ð á âè ø æ â æ ë ø ë ï í î ù ö ä úë ø û á ÿ

oprogramowaniu nie zrealizowano natomiast analizatora

wyników testów.

ð ï âèá ë ý åìôö ä ìö ôë ÷ ë þ âåìôë êâ ÷ ë ä êö î æ ð á è

znaczenie w testowaniu, oprogramowanie wymaga jej

õ ð ø ë ï âë æ ë õ ë ÷ âãìö è ç â ï ë ìè õ ð ø åìë á âè á è ôí âä ö è

õ ð õ ôëá ï ð ñò õ ð åæ î æ è þ û êï í î ù êâï ââ ìè åìö ÿ 8 í õ ôð þ ôë ÷

÷ û þ ú æ âï ìè ôõ ôè ìð á ë ò åìôö ä ìö ôã ÷ ë þ âåìôë êâ ï ë êè ý í ð ð ä

plik

û á ìè åìö ø ð úç î æ í ò õ êâä â æ ð õ âåë ÷ â åìôö ä ìö ôí ñî âè ý ä â ôæ è þ ð á è õ ð å æ î æ è þ û êï í î ù ìí õ û á ö ä úë ø û á å î ë êð ï í î ù ÿ

Pliki te, napisane w formacie EBST (Extended Boundary

/ î ë ï ! è åì æ ë á âè ôëç âï ð ô÷ ë î è ï âè æ ã ø ï è ø ð

poprawnej inicjalizacji pracy interfejsu i interpretatora

ã æ í ä ë ìè åìû á ÿ * ð âï ð ô÷ ë îâ æ ëá ë ôìí î ù á õ êâä ë î ù ð ô÷ ë ìö P Q / ! ï ë êè ý ç ÷ ÿâï ÿ ð õ âåí ö ï ä îâ õ ð åæ î æ è þ û êï í î ù á í õ ôð á ë ø æ è ó ö ä úë ø û á ø ð åìã õ ï è ôð æ ä ë æ í âî ù ä ð ø í âø è ï ìí âä ë ìð ôí ø ð åìãõ ï è ôèè åìôí â âî ù ø úö þ ð ñî â õ ôæ í õ âåë ï âè ä ð ÷ û ôè ä ñ î âè ý ä â ôæ è þ ð á è ø ð

poszczeg

û êï í î ù ä ð ó î û á è ä ö ä úë ø ö âìø ÿ * æ âã ä â ôð æ á âç æ ë ï âö æ ø ð úç î æ ë ï í ÷ â õ êâä ë ÷ â ð õ âåö ç î í ÷ â ö ä úë ø í ð õ ôð þ ôë ÷ ð á ë ï âè åìëè åâã ë ôø æ ð è êë åìí î æ ï è â ï âè ð þ ôë ï âî æ ë å âã ø ð ö ä úë ø û á æ ï ë ï í î ù á

chwili jego tworzenia. Ma to szczególne znaczenie przy

(4)

V W XY Z Y [ ] ^ `a b `Y c a d Y fg i [ ] j l

SIC.

Wbudowany

jg op `Y W oi d g i W `p Yoa ` ^ fjW r d s t v x V XY od jY d y g Y [ y g i c zoa ^ g jV b p g p `a d Y g jp oi [ ] { p d `Y y jp ^ a o`y p } i ~ a ^ `Y [ i y ^ fjW Y c j op zor d zXV { Z d Y W a fpg p o`i } i ¢ £

TEST AUTOMATYCZNY. W tym ostatnim

test

wykonywany

jest

w

sposób

niewidoczny

dla

¤ ¥ ¦§ ¨ © ª £§ « ¬ ª ¨ ¦® ¯ ª ¨ © § ¨ ª ª £¤ ¦ ¦¤

® £ © ª ² © ´£§ ¤ © µ¶ £¨ © ¯ « § ¦¸ ¯ ¨ ¥ ª

¨ ¦© ¨ ® º © ´¤ © »£§ µ £ © ª £§ ¸ ©

Rys. 5. Panel -

½ ¸ ¾ ¤ ¦¨ ¯ ¦ ® ª ¯ ¬ © ¨µ § £ ® ¦¨ ¨ © ª £

W czasie nauki testowania z wykorzystaniem magistrali

¨ ® © ´ © ¾ ¦© ¨ ¸ ½ ¨ ® ª º ¯ ¦¨ ¬ ¦ ¦¨ © ª £ «

® ¨ ® ª º ¦¤ ¬ ª ¦ ® ¨ ¨ ½ ¯ ¬ ® £ ¾ ª £

poszczególnych rozkazów (jak np. INTEST, EXTEST),

® ª ´£® ¨ © º ¯ ¦¨ ¬ ¦ ¦¨ © ª £ ¸ ¥ ª Â ¤ § ¾ ¬ ¸ © « µ § ¸ © ª £ ¥ © ¬ ® º ¦ ª © £ ¬ ® ¦¤ ¬ ª ¦ © ¦ Â

tematach.

Podczas

wykorzystania

stanowiska

do

¦ ¦¨ © ª £ ¤ § ¾ ¬ ¸ © « ¦ ½ ¦ ª ® ª µ¬ ¤ µ Ç ¾¸ © ª

® ¦¨ ¨ © ª £ ® ´¨ § ´£® µ£ ½ ¾É ¬ ¸ © © ´£§ Â ¦ ¦¸ © «

oraz podczas ich tworzenia.

3.

Ê Ë Ì Í Î Ï Í Ð Ñ Ò Ï Ô Ì Í Õ ÏÖ

× ØÙ Ú Û Ü ØÙ Ý Þßà Ü áÚ â áÚ ã Û å æ Ý ç å â Ý æ è â áè é æ áê Ù Ú â áè

Þßë Û Ú â ß å ßØÙ Ý ã ë ì Ú Û å Û å ã ë áâ ÞßØë ç êìí Ù è æ áÚ Øèì à ê à î

− skrócony opis standardu IEEE 1149.1,

− informacje na temat realizacji magistrali w

ë ç ïè Û è ê ð Þê è òå â Ý êð ó

−

å Ü áÞ áã Ü òÚ ã Ú â ßè êì á ôê áÚ õ ç á æ ë ç ïè Û è ê ð ÞÚ Øáá

BCT, wraz z rozkazami

− opis stanowiska laboratoryjnego

−

áâ ÞßØë ç êì í å ö Þïë ÷ á å Ü Øå ÷ Øè ã å æ è â áè

−

å Ü áÞ æ ö ë Û å æ è â Ú ÷ å ì í Ù Ý ç è ßÚ Þßû æ æ Øè Ù Ù Ü ØÙ Ý ç ïè Û è ã á

−

ÞÙ ê Ù Ú ÷ û ïå æ Ý å Ü áÞ Ù è Û è ý Ü å ã áè Øå æ Ý ê ð þ ÿ ! %& ' ( ) + ÿ ÿ %& ' ( 0 ÿ ( ) 2 0 ( 3 ( 0 5 ) 7

andardu IEEE 1149.1, jego

) ÿ > @ 5 7D ÿ ( ! ( ÿ ( 0 F + ! I ( + ( + ) 5M 7 + 2 M ) 2 % 3 > O % ÿ ( ÿ 2 & ÿ ) 2 % UW W W Y Y [ \ >Y > ^ ( ) 2 M + 5 ) 7 ÿ ÿ 5 ÿ ( % %

kodów

rozkazów

EXTEST

i

BYPASS.

Wykorzystywany jest tryb pracy „MIKROKROKI”.

c M ! ) + + ' 3 ) f %) 5 M ÿ 5 ! ) 5 + 5 M ) 2 % > j % ÿ l %M m ) + & ÿ 2 % ÿ ( 0 + ) ' ÿ 5 3 % ÿ 5 M ) & ÿ ÿ 2 % f % ÿ ! p r O % % ! 5 5 ) 2 % t+ ! & ÿ ÿ 3 ( 0 ÿ 7 ' ! M u 5 ( ( 2 ( p w @ p z { >

Weryfikacja nabytej podczas tego zadania wiedzy

polega na

udzieleniu przez studenta odpowiedzi na

! ! ( F t > U ) ) ) + &

ÿ

2 %

ÿ

( 0

wymagane jest aby ze stanu „Shift IR” sterownik TAP

prowad

¡ £ ¥ § © « ¥ ¬ ® ¯ ® ¯ ° £ ³ ° ° §µ µ µ ¯ ¯ ¶ · £ ¯ ³ ¥ ¬ ¸ ¬ º » º » ¼ ¬ £ ¼ °

od

° ¿ ° ¡ À ¬ ¥ ³ Â © ¸ À Â Â ¿ Ä £ ° ° Ä ¿Å Å ° Â Â

ji

Â £ » ° ° ¿ Å ³ £ ° ¿ ¿Å ° Â À Î £ Ï Â ° ³ ° Ð

− konfigu

³ ¿ Ä ¡ ° Ä ° Å

−

Â Â Ä ³

odpowiednich rozkazów do magistrali

i

³

−

°

ektorów

³ Â

−

° ° ¿ Â ¡ ¼ ° Â Ä £

zasady

sprawdzania,

symuluje

uszkodzenia

logiki

¡ ³

°

Â £

Weryfikacja nabytej w tym punkcie wiedzy polega

¡ £ Ù Ä

Å

¿ Ä Â © ¸ À

¡ £ ¼ Å ° ³

µ Þ À µ À Å ¿

scalonego nr 1 wektor danych „10100101”. ).

(5)

åâ ôåë é æ ê äæ ð ñ öæ ó ÷ é ôã æ øë ê ù ã ú ç àá ù é ù ñ ë àá ù ô åæ ê äð

magistrali IEEE 1149.1. Wykorzystany jest tryb pracy

û ü ý þ ß þ ß ë é ù ñ ë ê æ ê äæ á æ ó æ ñ ë ê äâ ã á ê æ î â ôå ë ÷ øê æ á ê æî ë ï ë è á æ äï ç øâ ï â ê åë é æ ê â ë î ò á ù ñ æ ôåàð ñ åð àù í æ ó æ ê âî ã äâ ñ ä ñ ë ê ôåàð ñ ãîæ ð ñ öæ ó ÷ é ôâ àää ß äã ú àë á ñ æ á ÷ é ä ôç ë ôë í ð ó á äæ öæ ê äæ æ ó æ ê äæ ç ë ï äæ àë é â ë í âî ï ð î ! #

−

á æ ç ë á ê æ ê äâ ôäò á â ôåàð ñ åð à! ç øäñ ÷ é åâ ôå÷ é ç ë ç àá â á æ ê æ øäá ò ç àá ù ñ öæ ó ë é ù ã ú ç øäñ ÷ é

−

ë í ô â àé æ ãîò àâ æ ñ ãîä ð ñ öæ ó ÷ é åâ ôåë é æ ê ù ã ú ê æ

poszczególne linie te

ôåð ç àá ù ç àæ ã ù ï â åë ó !

„linia po linii”

−

ôç àæ é ó á æ ê äâ ó á äæ öæ ê äæ é í ð ó ë é æ ê â ë äê åâ àç àâåâ àæ ç ë ç àá â á æ ê æ øäá ò îâ ë àâ æ ñ ãîä ê æ í öò ó ù ç ë îæ é äæî! ã â ôäò é ç øäñ æ ã ú åâ ôå÷ é

−

é ù ô á ð ñ äé æ ê äâ ä ñ ë àâ ñ ãî ò í öò ó ÷ é é åâ ôåæ ã ú ç àá ù ñ öæ ó ë é ù ã ú

−

ç ë á ê æ ê äâ ôç ë ôë í ÷ é åâ ôåë é æ ê äæ ð ñ öæ ó ÷ é ê äâ

po

ô äæ ó æî! ã ù ã ú é í ð ó ë é æ ê âî ï æ äôåàæ øä &( ( (

1149.1

−

àâ æ øäá æ ãî æ é öæ ôê ù ã ú åâ ôå÷ é ä ôç àæ é ó á æ ê äâ äã ú ó á äæ öæ ê äæ æ í ù åâ ð ï äâî òåê ë ã ä ç àë é æ ó á ! ã ù ôç àæ é ó á æ á æ ó æî! ã ç àë í øâ ï ç àæ ñ åù ã á ê ù ó ë àë á é ä! á æ ê äæ + ù ô , û àá ù ñ öæ ó åâ ôåð ó øæ ç ë ó é ÷ îê âî ã á åâ àë é âîã äë é âî

bramki NAND (typ 7440).

ç ë øâ æ è ê æ àâ æ øäá æ ãî ä ç âé ê â ë â 0â ñ åð é äá ð æ øê â ë ê æ ó äë ó æ ã ú é äâ ã ! ã ù ã ú æ àó á äâî á æ æ é æ ê ôë é æ ê ä ôåð ó â ê ã ä ï ë ! åé ë àá ù è åâ ôå ç àë ôåâî í àæ ï ñ ä ß ß 7 ë ôæ ó á ë ê âî é ó ë ó æåñ ë é âî ç ë ó ôåæ é ã â û à á ù ñ öæ ó àë á é ä! á æ ê äæ åæ ñ äâ ë

zad

æ ê äæ ç ë ó æîâ àù ôð ê â ñ , æ ó æ ê äâ åë ë í âîï ë é æ è ï ë â à÷ é ê äâ æ ê æ øäá ò é ù ê äñ ÷ é åâ ôåð < åð ó â ê å ê æ ç ë ó ôåæ é äâ á ê æîë ï ë ã ä åæ í øäã ù ç àæ é ó ù í àæ ï ñ ä ä ë åà á ù ï æ ê ù ã ú é â ñ åë à÷ é é ù ê äñ ÷ é ç ë é äê äâ ê ë ñ àâ øäè ã á ù ð ñ öæ ó ó á äæ öæ ç ë ç àæé ê äâ á äò ñ ä åæ ñ äâ ï ð ç ë ó âî ã äð ç àë é æ ó á ! ã ù é äâ é

ja

ñ äï ôåë ç ê äð ôåð ó â ê å ç ë á ê æö ó á äæ öæ ê äâ ð ñ öæ ó ÷ é ôâ àää ß ä ã á ù àë á ð ï äâ î æ ñ ó á äæ öæî! ç ë ôá ã á â ÷ øê â åàù í ù ç àæ ã ù ã äâ ñ ä í àá â ë é âî

4. PODSUMOWANIE

> æ ñ ç àá â ó ôåæ é äë ê ë è é äã á â ê äâ ë í âîï ð îâ ôá â àë ñ ä á æ ñ àâ ô á æ æ ó ê äâ á é ä! á æ ê ù ã ú á ï æ äôåàæ ø! ôåæ ê ó æàó ð

IEEE 1149.1.

Do je

ë é ù ñ ë ê æ ê äæ ?øð í îâ ë ã á ò ã ä@ ï ë â ç àá ù ôå! ç äè á æ à÷ é ê ë ë ôë í æ ç ë ôäæ ó æî ! ã æ î â ó ù ê äâ ç ë ó ôåæ é ë é ù á æ ñ àâ ô é äâ ó á ù ë ï æ äôåàæ øä î æ ñ à÷ é ê äâ í æ àó á äâî á æ æ é æ ê ôë é æ ê ù ð ù åñ ë é ê äñ û ë ó ôð ï ë é ð î! ã ôåé äâ àó á äè ï ë ê æ â è é äã á â ê äâ ç ë á é æ øæ ó ë í à á â ë ç æ ê ë é æ è ç ë ó ôåæ é ù ó á äæ öæ ê äæ

magistrali

&( ( ( D D E F D ë àæ á ï â åë ó åâ ôåë é æê äæ ð ñ öæ ó ÷ é ã ù 0àë é ù ã ú á î âî ð ù ã äâ ï H é äã á â ê äâ ç ë ë ó ç ë é äâ ó ê äï ð á ð ç â öê äâ ê äð ôç àá ò åð ç ë ï äæ àë é â ë ï ë â ôåæ ê ë é äè í æ á ò ó ë é ç àë é æ ó á â ê äæ á æ æ ó ê äâ á é ä! á æ ê ù ã ú á åâ ôåë é æ ê äâ ï ð ñ öæ ó ÷ é ï äâ ôá æ ê ù ã ú ôù ê æ öë é ë ä é ù ç ë ôæ ë ê ù ã ú é ï æ äôåàæ øò &( ( ( D D E F E > æ ñ ç ë é äâ ó á äæê ë é æ àåù ñ ð øâ ö÷ é ê ù ê æ ã äôñ é ë ç àë àæ ï ë é æê äð á ë ôåæö ç ë öë ë ê ù ê æ î â ë ã á ò è â ó ð ñ æ ã ùîê ! îâ ó ê æñ ï ë øäé â îâ ôå é ù ñ ë àá ù ôåæê äâ

stanowiska do celów praktycznych –

åâ ôåë é æ ê äæ é ï æ öâî 0äàï äâ í àæ ê ù â øâ ñ åàë ê äã á ê âî < öð ù è åð ï ë

e tryb pracy

æ ð åë ï æ åù ã á ê âî ê äâ í ò ó ! ã ù ã á ò ã ä! è é äã á â ê äæ øæí ë àæåë àù îê â ë î â ó ê æ ñ ï ë ! ã ù é ã ú ë ó á äè ó ë á æ ó æ ê æ ó ë í ë é ä! á ñ ë é ù ã ú ç àë ç ë ê ë é æ ê ù ã ú ôåð ó â ê åë é ä

LITERATURA

OP R S U V W U Z \ S ^ _ ` a b Zc d e f g hi d jk l m n opq m r m jt pjm n k l ok v q xk r y n z { |}m n { z ~ n { m pk m l { z ~ n

magistra

ot t t h i m ol j f e

-1 & XXXIV

e i }m z xk n

[2]

[3] YOUNG

J.,

JTAG/IEEE

1149.1

Design

Considerations, Texas Instruments 1996.

[4] IEEE Standard Test Access Port and Boundary- Scan

Architecture, Institute of Electrical and

Electronics Engeeners, New York, 1990.

[5] SN74LVT8980 Embedded Test-Bus Controllers,

IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP Masters with 8- bit

generic host interfaces. Texas Instruments, 1997.

7 4 B C T 8 2 4 1

7 4 L S 4 0

T C K

T M S T D O T D I

D O

T E S T E R A

¿ À Â ¿ Ã Ä Æ À È

P O B U D Z E N I E

É ÊËÌ Í Î ÏÐ Ñ Í Ò Ó Ô Õ Ó Ö