PRZEDMIOTY OGÓLNE Technologie informacyjne
1. Budowa komputera – podstawowe elementy, ich funkcje i parametry.
2. Kodowanie informacji w systemach cyfrowych – dane numeryczne, alfanumeryczne, grafika.
3. System operacyjny – poj cia podstawowe oraz funkcje systemu.
4. Aplikacje dla in ynierów.
5. Internet – podstawowe protokoły i usługi sieciowe.
6. Rodzaje urz dze sieciowych i ich typowe zastosowanie.
7. Bazy danych – poj cia podstawowe, zasady tworzenia i wykorzystania.
8. Podpis cyfrowy, infrastruktura klucza publicznego – zasada działania, obszary zastosowa .
9. Zakres liczb, które mo emy zakodowa w komputerze zale y od:
a) liczby bitów przeznaczonych na reprezentacj liczby b) pojemno ci pami ci operacyjnej
c) zło ono ci algorytmu obliczeniowego d) liczby bitów w rejestrach mikroprocesora.
10. Unicode to:
a) standard kodowania znaków
b) sposób kodowania dost pny jedynie w systemie Windows c) format plików zawieraj cych grafik
d) algorytm kompresji stratnej.
11. Grafika rastrowa umo liwia zakodowanie:
a) obrazów o rozdzielczo ci nie wi kszej ni 300 dpi b) maksymalnie 256 kolorów
c) jednego piksela na jednym lub kilku bitach, w zale no ci od liczby kolorów d) obrazów, które mog by dowolnie powi kszane bez utraty jako ci.
12. W relacyjnej bazie danych:
a) wszystkie warto ci atrybutów oparte s na prostych typach danych b) wszystkie warto ci atrybutów oparte s na zło onych typach danych c) nie jest mo liwy współbie ny dost p do danych
d) wielko zbioru danych nie mo e by wi ksza ni pojemno pami ci operacyjnej.
13. Programy typu CAD umo liwiaj :
a) komputerowe wspomaganie projektowania,
b) zaawansowane przetwarzanie tekstu i przygotowanie stron gazet do druku, c) tworzenie oprogramowania systemów pomiarowych
d) obsług poczty elektronicznej.
14. 32 bitowy adres IP, w klasie redniej B (podział adresu 14:16) pozwala na doł czenie:
a) 256 sieci, po 16777216 komputerów b) 4096 sieci, po 16384 komputery
c) 16384 sieci, ka da po 65536 komputerów d) 65536 sieci, ka da po 262144 komputery
15. Parametr RPM dysków twardych okre la:
a) redni czas pomi dzy dwoma kolejnymi odczytami danych zapisanych w ró nych sektorach dysku twardego
b) liczb obrotów talerzy na minut
c) szybko dost pu głowicy do danych zapisanych w szukanym sektorze d) opó nienie obrotowe głowicy
16. Router, to urz dzenie sieciowe słu ce do:
a) ł czenia ró nych rodzajów sieci i okre lania optymalnej trasy dla pakietów b) ł czenia osobnych segmentów sieci ze sob , rozszerzaj c sie poza maksymalne
wymiary pojedynczego segmentu
c) komunikacji ró nych sieci ze sob i tłumaczenia ró nych typów protokołów d) komunikacji wewn trz segmentów sieci lokalnej
17.DES (Data Encryption Standard), to:
a) ameryka ski standard szyfrowania z 56 – bitowym kluczem symetrycznym, b) standard NIST z symetrycznym kluczem 128 bitowym
c) ameryka ski standard szyfrowania z asymetrycznym kluczem 64 bitowym d) ameryka ski standard szyfrowania, wykorzystywany w podpisie cyfrowym 18.Firewall słu y do
a) ochrony sieci wewn trznej przed atakami z zewn trz, zezwalaj c na autoryzowany dost p do danych wewn trznych
b) ochrony sieci wewn trznej przed atakami z zewn trz, zezwalaj c na swobodny dost p do danych wewn trznych
c) ochrony sieci wewn trznej przed atakami z zewn trz, zezwalaj c na modyfikacje dowolnych danych wewn trznych
d) ochrony sieci wewn trznej przed atakami z zewn trz, zezwalaj c na nieautoryzowany dost p do wybranych zasobów
Wst p do filozofii przyrody 1. Granice poznania - sceptycyzm
2. Realizm naukowy
3. Determinizm w fizyce klasycznej 4. Metoda naukowa
5. Emergencja w chemii 6. Prawa przyrody
7. Symetria i zasady zachowania
8. Przyczynowo w mechanice kwantowej
9. Sceptycyzm, to doktryna filozoficzna, zgodnie z któr : a) nasza wiedza jest ograniczona do wiata widzialnego
b) nasza wiedza obejmuje równie w ograniczonym stopniu własno ci wiata niewidzialnego
c) nasza wiedza o wiecie nie mo e by w aden sposób uzasadniona d) nasza wiedza o wiecie jest wiarygodna
10. Korespondencyjna teoria prawdy głosi, e:
a) dane przekonanie jest prawdziwe, je li jest spójne z całym systemem przekona danej osoby
b) dane przekonanie jest prawdziwe, je li reprezentuje/przedstawia to, jakie naprawd s rzeczy s w wiecie rzeczywistym
c) dane przekonanie jest prawdziwe, je li wierzenie w nie jest praktycznie u yteczne d) dane przekonanie jest prawdziwe, je li jego prawdziwo mo na uzasadni w
sposób wiarygodny
11. Realizm naukowy, to pogl d, zgodnie z którym:
a) teorie naukowe dostarczaj nam wiarygodnej wiedzy na temat rzeczywistego wiata
b) teorie naukowe opisuj rzeczywisty wiat taki jaki naprawd jest
c) terminy naukowe opisuj rzeczywiste obiekty, a twierdzenia naukowe s prawdziwe
d) terminy naukowe maj odniesienia przedmiotowe, natomiast twierdzenia naukowe s na ogół, co najmniej cz ciowo prawdziwe
12. Abdukcja jest form wnioskowania, polegaj c na:
a) wybieraniu tej spo ród postawionych hipotez, która najlepiej wyja nia dane zjawisko lub fakt
b) gromadzeniu faktów i wyci ganiu na ich podstawie wniosków c) stawianiu hipotezy i analizie płyn cych z niej konsekwencji
d) formułowaniu zbioru aksjomatów, z których nast pnie wyprowadza si wnioski praktyczne
13. Instrumentalizm jest antyrealistyczn postaw filozoficzn , zgodnie z któr : a) teorie s narz dziami słu cymi przewidywaniu zjawisk, zarówno
obserwowalnych, jak i nieobserwowalnych, a stwierdzenia odno nie obiektów s zdaniami prawdziwo ciowymi
b) teorie s narz dziami słu cymi przewidywaniu obserwowalnych zjawisk, a stwierdzenia odno nie obiektów nieobserwowalnych s bezsensowne
c) teorie s narz dziami słu cymi przewidywaniu zjawisk, a stwierdzenia odno nie przynajmniej niektórych obiektów nieobserwowalnych mog by sensowne d) teorie s narz dziami słu cymi przewidywaniu obserwowalnych zjawisk, ale
stwierdzenia odno nie obiektów nie s zdaniami prawdziwo ciowymi 14. Przyczynowo to:
a) czasowa relacja zakładaj ca wymian energii pomi dzy obiektami lub zdarzeniami b) czasowa relacja pomi dzy zdarzeniami, oparta na do wiadczeniu ka dorazowego
wyst powania dwóch zdarze po sobie
c) relacja pomi dzy zdarzeniami, oparta na stałej koniunkcji zdarze d) relacja pomi dzy jednym zdarzeniem (przyczyn ), a drugim zdarzeniem
(skutkiem), przy czym drugie zdarzenie jest konsekwencj pierwszego 15. Emergencja to:
a) pojawienie si nowych własno ci na skutek oddziaływa pomi dzy obiektami, mo liwych do przewidzenia na podstawie własno ci samych obiektów
b) pojawienie si nowych własno ci na skutek oddziaływa pomi dzy obiektami, niemo liwych do przewidzenia na podstawie własno ci samych obiektów c) tworzenie układów zło onych wskutek oddziaływa pomi dzy prostszymi
elementami, o własno ciach identycznych jak własno ci tych elementów
d) tworzenie układów zło onych wskutek oddziaływa pomi dzy prostszymi elementami, o własno ciach ci le okre lonych na podstawie własno ci obiektów składowych
16. Silny determinizm, to stanowisko filozoficzne, zgodnie z którym:
a) wszystkie działania maj przyczyn i adne działanie nie jest wolne b) wszystkie działania maj przyczyn i niektóre działania s wolne c) niektóre działania nie maj przyczyny i wszystkie działania s wolne d) niektóre działania nie maj przyczyny i niektóre działania s wolne 17. Mechanika klasyczna Newtona:
a) jest teori w pełni deterministyczn
b) jest teori w praktyce deterministyczn , poza nielicznymi przypadkami niefizycznych układów modelowych
c) jest teori indeterministyczn
d) jest teori indeterministyczn , z wieloma praktycznymi przypadkami łamania determinizmu
18. Spo ród współczesnych teorii fizycznych, najbardziej deterministyczn teori jest:
a) klasyczna mechanika punktowa Newtona b) szczególna teoria wzgl dno ci
c) ogólna teoria wzgl dno ci d) mechanika kwantowa
PRZEDMIOTY PODSTAWOWE Chemia
1. Powłoki elektronowe w atomach i reguły ich zapełniania.
2. Układ okresowy pierwiastków.
3. Wi zania jonowe, kowalencyjne, kowalencyjne spolaryzowane, metaliczne.
4. Stany skupienia materii – stan stały, ciekły, gazowy.
5. Równowaga w roztworach elektrolitów – stopie dysocjacji, stała dysocjacji, pH.
6. Kwasy i zasady wg teorii Arrheniusa, Bronsteda i Lewisa.
7. Reakcje utleniania i redukcji.
8. Podstawowe prawa i definicje w chemii.
9. Budowa atomu wodoru (stan podstawowy).
10. Podstawowe wła ciwo ci cieczy i gazów. Prawa gazowe. Gazy rzeczywiste.
11. Mechanizm dysocjacji elektrolitycznej. Stopie i stała dysocjacji.
12. Przemiany promieniotwórcze i prawo rozpadu promieniotwórczego.
13. Pierwiastki wchodz ce w skład tej samej grupy w układzie okresowym maj : a. tak sam liczb powłok elektronowych;
b. tak sam liczb elektronów walencyjnych;
c. tak sam energi powłoki walencyjnej;
d. tak sam energi wszystkich powłok elektronowych.
14. Wła ciwo ci chemiczne pierwiastków zmieniaj si okresowo, gdy : e. ich masy molowe rosn za ka dym razem o podobn warto ;
f. liczba izotopów pierwiastków w grupie jest taka sama;
g. decyduje o nich liczba powłok elektronowych;
h. decyduje o nich konfiguracja powłoki walencyjnej.
15. Wi zanie jonowe tworz m.in. pierwiastki, które:
i. maj niski potencjał jonizacyjny i wysokie powinowactwo elektronowe;
j. maj wysoki potecjał jonizacyjny i wysokie powinowatcwo elektronowe;
k. maj wysoki potencjał jonizacyjny i niskie powinowactwo elektronowe;
l. maj niezbyt wysoki potencjał jonizacyjny i niezbyt wysokie powinowactwo elektronowe.
16. W wi zaniu kowalencyjnym spolaryzowanym:
m. wspólna para elektronowa znajduje si dokładnie pomi dzy j drami atomów tworz cych wi zanie;
n. wspólna para elektronowa jest przesuni ta w stron jednego z pierwiastków;
o. wspólna para elektronowa jest przesuni ta w stron obu pierwiastków;
p. wspólna para elektronowa znajduje si przy jednym z pierwiastków.
17. W wi zaniu metalicznym elektrony walencyjne ka dego z atomów:
q. znajduj si w pobli u tego atomu;
r. znajduj si pomi dzy s siednimi atomami;
s. znajduj si w sferze przyci gania wszystkich elektronów;
t. znajduj si w pobli u powierzchni metalu.
18. W stanie gazowym materii:
u. atomy znajduj si daleko od siebie, a ich oddziaływania s silne;
v. atomy znajduj si blisko siebie, a ich oddziaływania s silne;
w. atomy znajduj si daleko od siebie, a ich oddziaływania s słabe;
x. atomy znajduj si blisko siebie, a ich oddziaływania s słabe.
19. W roztworze słabego elektrolitu:
y. stopie dysocjacji jest niski i nie zale y od st enia elektrolitu;
z. stopie dysocjacji jest wysoki i nie zale y od st enia elektrolitu;
aa. stopie dysocjacji jest wysoki i zale y od st enia elektrolitu;
bb. stopie dysocjacji jest niski i zale y od st enia elektrolitu;
20. Wykładnik jonów wodorowych, pH, jest wielko ci charakterystyczn dla:
cc. wodnych roztworów kwasów, zasad i soli;
dd. roztworów kwasów i zasad w rozpuszczalnikach amfiprotycznych;
ee. wodnych roztworów mocnych elektrolitów;
ff. wodnych roztworów słabych elektrolitów.
21. Wg teorii Bronsteda, w reakcji kwasowo-zasadowej:
gg. kwas jest dawc pary elektronowej , a zasada jej akceptorem;
hh. kwas jest dawc protonu, a zasada akceptorem protonu;
ii. zasada jest dawc protonu, a kwas akceptorem protonu;
jj. zasada jest dawc pary elektronowej , a kwas jej akceptorem;
22. W reakcji utleniania i redukcji KMnO4 + HCl KCl + MnCl2+Cl2+H2O po jej uzgodnieniu w oparciu o bilans elektronowy suma współczynników stechiometrycznych wynosi:
kk. 29 ll. 31
mm. 33 nn. 35
23. Prawo stosunków stałych jest spełnione dla:
a. bertolidów b. daltonidów
c. wszystkich zwi zków nieorganicznych d. wszystkich ciał stałych 24. Pierwiastek chemiczny to substancja zbudowana z atomów o takiej samej:
a. liczbie masowej b. masie atomowej
c. liczbie protonów w j drze d. liczbie nukleonów w j drze
25. Dysocjacja elektrolityczna to rozpad cz steczek niektórych zwi zków chemicznych w roztworach na:
a. atomy pod wpływem rozpuszczalnika b. jony pod wpływem pr du elektrycznego c. jony pod wpływem rozpuszczalnika d. jony w trakcie elektrolizy
26. W trakcie przemiany promieniotwórczej α j dra o liczbie atomowej Z i liczbie masowej A powstaje nuklid, którego:
a. liczba masowa = M-2 b. liczba atomowa = Z-4 c. liczba masowa = M+2 d. liczba masowa = M-4
27. Szybko rozpadu promieniotwórczego w chwili t>0 pierwiastka zawieraj cego N(t) j der (w chwili t=0 liczba jader wynosiła N0) jest w ka dej chwili wprost proporcjonalna do:
a. N(t) b. [N(t)]-1
c. N0-N(t) d. N0
28. W stanie podstawowym atomu wodoru prawdopodobie stwo napotkania elektronu w funkcji odległo ci r od j dra P(r):
a. maleje monotonicznie przy wzro cie r b. osi ga warto = 1 dla r λ 52 pm c. osi ga warto 0 dla dla r λ 52 pm d. osi ga maksimum dla r λ 52 pm
29. G sto ρ gazu doskonałego o masie cz steczkowej M znajduj cego si pod ci nieniem p w temperaturze T wyra a wzór (R – stała gazowa):
a. ρ = pMR-1T-1 b. ρ = RT p-1M-1 c. ρ = p T M-1 R-1 d. ρ = RTM p-1
30. Je eli temperatura krytyczna wody wynosi Tk to para wodna spełnia w przybli eniu równanie Clapeyrona, gdy jej temperatura Tw spełnia warunek:
a. Tw < Tk b. Tw > 373 K c. Τw > 273 K d. Tw > Tk
31. Napi cie powierzchniowe cieczy jest wynikiem:
a. istnienia ci nienia hydrostatycznego b. działania siły grawitacji
c. lepko ci cieczy d. oddziaływa mi dzycz steczkowych 32. Iloczyn rozpuszczalno ci Lr zwi zku Ca3(PO4)2·2H2O wyra a równanie:
a. 3[Ca2+]·2[PO43-] b. [Ca2+]3 [PO43-]2
c. [Ca2+]3 [PO43-]2[H2O]2 d. 3[Ca2+]·2[PO43-]·2[H2O]
Chemia nieorganiczna
1. Wi zanie koordynacyjne, zwi zki koordynacyjne, trwało zwi zków koordynacyjnych.
2. Hydroliza soli.
3. Otrzymywanie i wła ciwo ci kwasu siarkowego (VI), H2SO4. 4. Kwas azotowy (V) HNO3 i azotany.
5. Ogólne wła ciwo ci metali.
6. Wła ciwo ci kwasowo-zasadowe zwi zków pierwiastków przej ciowych.
7. Mtody otrzymywania metali i niemetali..
8. Poł czenia pierwiastków z tlenem i wodorem.
9. Liczba koordynacyjna w zwi zku kompleksowym to:
a. liczba ligandów poł czonych z atomem centralnym;
b. liczba wi za , jakie tworzy ka dyz ligandów;
c. liczba wi za , jakie tworzy atom centralny;
d. liczba ligandów poł czonych pomi dzy sob . 10. Stał trwało ci zwi zku kompleksowego to:
e. stała równowagi reakcji rozpadu zwi zku kompleksowego;
f. stała równowagi reakcji tworzenia zwi zku kompleksowego;
g. stała szybko ci reakcji rozpadu zwi zku kompleksowego;
h. stała szybko ci reakcji tworzenia zwi zku kompleksowego;
11. Spo ród poni szych soli wybierz zwi zek, który nie ulega hydrolizie:
i. CH3COONa;
j. NH4Cl;
k. NaH2PO4; l. NaNO3.
12. Skutkiem hydrolizy jest zmiana odczynu roztworu. Jaki odczyn w roztworze wodnym b dzie miał roztwór w glanu sodowego:
m. kwa ny;
n. zasadowy;
o. oboj tny;
p. w roztworach st onych oboj tny, a w rozcie czonych kwa ny.
13. Wodór w swoich poł czeniach z innymi pierwiastkami wyst puje na stopniu utlenienia:
q. – I w poł czeniach z niemetalami, + I w poł czeniach z niektórymi metalami;
r. zawsze – I;
s. zawsze +I,
t. + I w poł czeniach z niemetalami, – I w poł czeniach z niektórymi metalami;
14. Jednym z etapów produkcji kwasu siarkowego jest utlenianie SO2 do SO3. W równowadze, która ustala si w tej reakcji:
u. wzrost temperatury i obni enie ci nienia prowadzi do zwi kszenia jej wydajno ci;
v. obni enie temperatury i obni enie ci nienia prowadzi do zwi kszenia jej wydajno ci;
w. wzrost temperatury i podwy szenie ci nienia prowadzi do zwi kszenia jej wydajno ci;
x. obni enie temperatury i wzrost ci nienia prowadzi do zwi kszenia jej wydajno ci;
15. Utleniaj ce wła ciwo ci kwasu azotowego (V) wynikaj z:
y. faktu, e jest on kwasem mocnym;
z. faktu, e azot mo e ulega redukcji;
aa. faktu, e azot mo e ulega utlenieniu;
bb. faktu, e zawiera on atomy tlenu.
16. Metale otrzymuje si z ich rud:
cc. na drodze reakcji redukcji;
dd. na drodze reakcji utlenienia;
ee. przez ich oczyszczanie;
ff. przez ich rozpuszczanie w kwasach.
17. Tlenek metalu rozpuszczony w wodzie:
gg. przejawia wła ciwo ci zasadowe;
hh. przejawia wła ciwo ci kwasowe;
ii. przejawia wła ciwo ci amfoteryczne;
jj. wszystkie powy sze odpowiedzi mog by poprawne.
18. Wraz ze wzrostem stopnia utlenienia wła ciwo ci kwasowo-zasadowe tlenków chromu:
kk. nie ulegaj zmianie, tlenki maj zawsze charakter kwasowy;
ll. nie ulegaj zmianie, tlenki maj zawsze charakter zasadowy;
mm. ulegaj zmianie, tlenki o ni szych stopniach utlenienia maj charakter zasadowy, tlenki o wy szych stopniach utlenienia charakter kwasowy;
nn. ulegaj zmianie, tlenki o ni szych stopniach utlenienia maj charakter kwasowy, tlenki o wy szych stopniach utlenienia charakter zasadowy;
19. Produktami reakcji elaza z kwasem azotowym(V) s :
e. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2 f. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2O
g. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2, NO, NO2 h. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2O, NO, NO2
20. Produktami elektrolizy wodnego roztworu Na2SO4 s :
e. Na i O2 f. NaOH i SO2
g. NaOH, SO2 i O2 h. NaOH i O2
21. Otrzymywanie wodoru z metanu polega na:
e. rozkładzie termicznym metanu f. reakcji metanu z par wodn g. reakcji metanu z w glem h. reakcji metanu z litowcami 22. Wodorki jonowe to zwi zki o budowie (X – atom pierwiastka):
e. (H+)n(Xn-) f. (H+)(X-)
g. (Xn+)(H-)n h. XnHm
23. W ci gu reakcji S + O2 R1; R1 + H2O R2; R2 + Ca(OH)2 R3 + R4 substancjami R1, R2, R3 i R4 s odpowiednio :
e. SO3, H2SO4, CaSO4, H2O f. SO2, H2SO4, CaSO4, H2O g. SO2, H2SO3, CaSO3, H2 h. SO2, H2SO3, CaSO3, H2O 24. Produktami reakcji Cl- + MnO2 + H+ mog by mi dzy innymi :
e. Cl2 i MnO4- f. ClO4- i Mn4+
g. Cl2 i Mn7+ h. Cl2 i Mn2+
25. ZnO w reakcji z HCl daje ZnCl2 a w reakcji z NaOH powstaje Na2[Zn(OH)4]. Tlenek ten jest :
e. amfoteryczny f. oboj tny
g. kowalencyjny h. bertolidem
26. Jon NH4+ w wietle definicji kwasów i zasad Brønsteda jest :
e. zasad f. jonem amfoterycznym
g. kwasem h. oboj tny
27. Je eli L jest ligandem dwufunkcyjnym to liczba koordynacyjna metalu M w jonie kompleksowym [M(L)3]2+ wynosi :
e. 2 f. 3
g. 3+stopie utlenienia M h. 6
28. Skumulowan stał trwało ci Kr kompleksu jonu kompleksowego [Ag(NH3)2] wyra a równanie (nawiasy {} oznaczaj st enia równowagowe):
e. {Ag+}{NH3}2{[Ag(NH3)2]}-1 f. {[Ag(NH3)2]}{Ag+}-1{NH3}-2 g. {{Ag+}+2{NH3}}{[Ag(NH3)2]}-1 h. {Ag+}{NH3}2
Fizyka
1. Zasady dynamiki Newtona: sformułowanie oraz zastosowanie w opisie zjawisk fizycznych.
2. Rodzaje oddziaływa podstawowych (grawitacyjne, słabe, elektromagnetyczne i silne): zasi g i skutki.
3. Zasady zachowania: masy, p du, momentu p du, energii, ładunku.
4. Wła ciwo ci pól elektrycznych i magnetycznych. Ruch ładunku w polu elektrycznym i magnetycznym.
5. Fale elektromagnetyczne: równanie fali, prawa optyki geometrycznej i falowej, oddziaływanie fali z materi .
6. Cz stka o masie zderza si centralnie w zderzeniu niespr ystym z nieruchom cz stk o masie . Po zderzeniu cz stki poruszaj si razem. Jaka cz energii kinetycznej zostaje w tym zderzeniu zamieniona w inne formy energii?
a) b) c) d)
7. Pi dodatnio naładowanych cz stek, ka da o ładunku , rozło onych jest w wierzchołkach pi ciok ta równobocznego wpisanego w okr g o promieniu . Pole elektryczne w rodku tego okr gu wynosi:
a) b) c) d)
8. Na rysunku przedstawiaj cym sferyczne zwierciadło zaznaczono poło enie ogniska (F) i obiektu (O). Wska poło enie obrazu.
a) b) c) d)
9. Kamie został wyrzucony pod k tem 45o do poziomu. Które z przedstawionych wykresów reprezentuj zale no składowych i wektora od czasu. Opór powietrza zaniedbaj.
a) - rys. I; - rys. III b) - rys. II; - rys. I c) - rys. II; - rys. III d) - rys. II; - rys. IV
10. Cewka indukcyjna i kondensator zostały szeregowo poł czone w obwód. Równanie opisuj ce ruch ładunku w tym obwodzie ma posta : Analogiczne równanie opisuje ruch oscylatora harmonicznego o masie , współrz dnej poło enia
i stałej harmonicznej . Dopasuj , i do ich analogów mechanicznych.
L C Q
a) b)
c)
I II III IV F O
I II III IV
d)
11. Prostopadło cienn próbk izolatora o stałej dielektrycznej i podatno ci dielektrycznej umieszczono w stałym polu elektrycznym o nat eniu i kierunku prostopadłym do powierzchni próbki. Nat enie pola elektrycznego w próbce wynosi:
a) b) c) d)
12. Człowiek na powierzchni Ziemi wa y 600N. Ile wa yłby ten człowiek na planecie o dwukrotnie wi kszej masie i dwukrotnie wi kszym promieniu?
a) dwa razy mniej b) dwa razy wi cej c) tyle samo
d) cztery razy wi cej 13. Fala elektromagnetyczna to:
a) fala uderzeniowa b) fala poprzeczna c) fala podłu na
d) nało enie fali poprzecznej i podłu nej 14. Interferencja to:
a) zmiana kierunku rozchodzenie fali wskutek odbicia od powierzchni b) zjawisko nakładania si fal prowadz ce do zwi kszania lub zmniejszania
amplitudy fali wypadkowej
c) zmiana kierunku rozchodzenia fali wskutek załamania na kraw dzi d) zmiana kierunku fali na granicy dwóch o rodków
15. Promieniowanie to:
a) wydzielona cz widma elektromagnetycznego b) zjawisko transportu energii na drodze dyfuzji
c) zjawisko transportu energii za po rednictwem fal elektromagnetycznych d) zjawisko nakładania si pola elektrycznego i magnetycznego
Matematyka
1. Zbiory i funkcje liczbowe 2. Funkcja logarytmiczna 3. Pochodna funkcji 4. Badanie funkcji 5. Liczby zespolone 6. Całki nieoznaczone 7. Rachunek wektorowy
8. Zbiorem warto ci funkcji y = x2 +1 okre lonej na zbiorze liczb rzeczywistych jest:
a. zbiór liczb rzeczywistych b. zbiór liczb rzeczywistych ≥ 1
c. zbiór liczb rzeczywistych nieujemnych d. zbiór liczb naturalnych
9. Wyra enie log(ab) mo na przedstawi jako:
a. log(a)log(b) b. log(a) + b c. log(a) + log(b) d. log(a) – log(b)
10. Podstaw logarytmu naturalnego jest:
a. liczba e b. liczba c. liczba 10 d. liczba 2
11. Pochodna dy/dx funkcji y = 2x2 + 5z wynosi:
a. 5 b. x3+5zx c. 4x d. 4x+z
12. Pochodna dy/dx funkcji y = x/(1+x) wynosi:
a. -1/x2 b. 1
c. 1/(x2+2x+1)
d. inna warto ni wymienione w punktach a, b, c 13. W punkcie przegi cia pochodna funkcji osi ga:
a. warto 0 b. ekstremum c. jest nieokre lona
d. d y do niesko czono ci
14. Je eli liczba zespolona przedstawiona jest jako a+bi to jej moduł dany jest wyra eniem:
a. a2+b2 b. a2-b2 c. a2−b2 d. a2+b2
15. Całka nieoznaczona axdx wynosi:
a. a2x + C b. 2ax + C c. ax/lna + C d. ax/lna
16. Iloczyn skalarny wektorów A·B na płaszczy nie dany jest wzorem (gdzie Ax Ay Bx By s składowymi wektorów, A,B jest k tem pomi dzy wektorami):
a. ABsin(A,B) b. AxBx + AyBy
c. AxBy + AyBx
d. AxAy + BxBy
17. Dywergencja wektora A na płaszczy nie dana jest wzorem (gdzie Ax Ay s składowymi wektora, i, j wektorami jednostkowymi odpowiednio na osiach x i y).
a. AxAy
b. y
A x Ay x
∂
−∂
∂
∂
c. y
A x Ax y
∂ +∂
∂
∂
d. ∂
−∂
∂ + ∂
∂
−∂
∂
∂
x A y j A y A x
i Ay x x y
Statystyka
1.
Główne parametry rozkładu zmiennej losowej2.
Estymator- jak mo na go okre li , do czego słu y, wła ciwo ci3.
Poda przykład zmiennej losowej ci głej i dwupunktowej .4.
Co to jest poziom ufno ci, co on okre la?5.
Hipotezy statystyczne, opisa standardowy sposób ich weryfikacji6.
Współczynnik korelacji liniowej, co on okre la?7.
Niepewno ci (bł dy) pomiarowe sposoby ich okre lania oraz zapisu.8.
Zasada metody najmniejszych kwadratów 9. Dystrybuanta rozkładu F(t) okre la:a) prawdopodobie stwo, e zmienna losowa X jest mniejsza od t:
P(X<t)
b) prawdopodobie stwo, e zmienna losowa X wynosi t : P(X=t) c) prawdopodobie stwo, e zmienna losowa X jest zawarta
pomi dzy (-t , t) : P( -t<X< t)
d) prawdopodobie stwo, e zmienna losowa X jest wi ksza od t: P(X
> t)
10. x i y s zmiennymi ci głymi w populacji generalnej , ich współczynnik korelacji liniowej wynosi zero, oznacza to:
a) brak korelacji mi dzy x i y
b) wyst puje silna korelacja mi dzy x a y c) brak korelacji liniowej mi dzy x i y
d) współczynnik korelacji nigdy nie wynosi zero.
11. A eby skróci przedział ufno ci nale y:
a) zwi kszy poziom ufno ci b) zmniejszy liczebno próby c) zwi kszy liczebno próby d) wybra now prób
12. Weryfikacja hipotez statystycznych polega na:
a) sprawdzaniu hipotezy statystycznej b) odrzuceniu hipotezy alternatywnej c) przyj ciu za słuszn hipotez zerow
d) przyj ciu za słuszn hipotez alternatywn 13. Rozkład normalny standaryzowany N(0, 1) to
a) Rozkład zmiennej losowej skokowej
b) Rozkład zmiennej losowej ci głej, zero-parametrowy c) Rozkład zmiennej losowej ci głej, dwu-parametrowy d) Rozkład jedno-parametrowy.
14. Standaryzacja rozkładu normalnego N(µ, ) polega na zmiennej x na zmienn z według wzoru:
a)
b)
c)
d)
15. Metoda najmniejszych kwadratów polega na:
a) wyznaczeniu współczynnika korelacji
b) wyznaczenie równania najlepszej zale no ci funkcyjnej c) wyznaczeniu bł du pomiaru
d) eliminacji bł du systematycznego.
16. Estymatorem warto ci oczekiwanej jest, a) rednia arytmetyczna,
b) wariancja,
c) poziom ufno ci, d) median
17. Prawidłowy zapis wyniku 9,82±0,02148 N ma posta , a) 9,82±0,02 N,
b) 9,82±0,01 N, c) 9,82±0,022 N, d) 9,82±0,0215 N 18. Bł d bezwzgl dny to:
a) ró nica pomi dzy warto ci rzeczywist , a warto ci otrzyman z pomiaru, b) stosunek warto ci rzeczywistej do warto ci otrzymanej z pomiaru, c) klasa dokładno ci przyrz du pomiarowego,
d) liczba cyfr znacz cych w wyniku pomiaru,
Grafika in ynierska
! "
# $
% " " &'
( ) *
+ , - '.
- . /
0" - ' " - 1 -0 2 " - ' " - 1
0 3 2 " - ' " - 1 03 2 " - ' " -
4 5 67
/
0 1
-0 1
0 ' 6 1
0 & 8
" 6 8 . 6 9
6 1 ) 6 " 9 /
0 1
-0 1
0 1
0
$ - - -
" " /
0 " - -& "
" 1
-0 " - -& "
" " 1
0 1
0
: "
& 6 6 6 ; 0
$ 6 8. &
/
0 ;"6 0 " 1
-0 ;"6 0 1
0 ;"6 01 " 1
0 ;"6 0
$ /
$ 6 6 < 6
/
# = /
% $ & /
0 1
-0 1 & '
' 6 & 6 1
0 1
0 1 & '
' 6 & 6
( * / 1
/
+ &' ./
0 -& &'
1
-0 6 67 '.
1 '. > ' 1
0 > - &' 1
0 " - - 1 9
4 ) / 1 91 1
" " 67 /
0 - " 6 - - 6 /
1 - 1 1
" " 1
-0 - - - 6 /
1 - 1 1
" " 1
0 " 6 1 -
1 1 " " 1
0 " 6 1 -
1 1 " "
Informatyka 1. Systemy pozycyjne w komputerach.
2. Zapisywanie algorytmów za pomoc schematów blokowych.
3. Najwa niejsze ró nice pomi dzy funkcjami a procedurami.
4. Narz dzia programistyczne: Debuggery, kompilatory i interpretery.
5. Ró nice pomi dzy algorytmami iteracyjnymi a rekurencyjnymi.
6. Typy danych w komputerach.
1. Liczba 68 w systemie binarnym wynosi:
A. 1000100 B. 0100100 C. 1000000 D. 1010100
2. Iloczyn liczb binarnych 11 * 1001 w systemie binarnym wynosi:
A. 10100 B. 11010 C. 11111 D. 11011
3. Typ danych przechowuj cych warto ci zmiennoprzecinkowe to:
A. Byte B. Double C. Long D. Boolean
4. Ile razy wykona si poni sza p tla For i = 1 To 20 Step 2
i = i + 2 Next i
A. 1 raz B. Ani raz C. 5 razy D. 10 razy
5. Debugger to program słu cy do:
A. dynamicznej analizy programów, w celu odnalezienia i identyfikacji zawartych w nich bł dów.
B. pisania programów
C. automatycznego tłumaczenia kodu napisanego w jednym j zyku (j zyku ródłowym) na równowa ny kod w innym j zyku (j zyku wynikowym) D. zbierania informacji o komputerze
6. Metoda ró nic sko czonych to metoda:
A. Dokładnego rozwi zywania równa ró niczkowych B. Przybli onego rozwi zywania równa algebraicznych C. Przybli onego rozwi zywania równa ró niczkowych D. Rozwi zywania układów równa algebraicznych 7. Poni sze wyra enie
( ) ( ) 2
f x x f x x x
+ ∆ − − ∆
∆
pozwala obliczy przybli on warto :
A. Pierwszej pochodnej funkcji f w punkcie x B. Drugiej pochodnej funkcji f w punkcie x C. Pierwszej pochodnej funkcji f w punkcie x+ ∆x D. Warto ci funkcji f w otoczeniu punktu x
8. Dane s dwie zmienne A i B. Uzupełnij poni szy algorytm w ten sposób, aby w zmiennej A znalazła si pocz tkowa warto zmiennej B,
natomiast w zmiennej B ma si znale pocz tkowa warto zmiennej
A. C = B
....
A = C A. B=A
B. B=C C. C=A D. A=B
9. co wypisze poni szy algorytm:
A. 18 B. 29 C. 21 D. 20
10. Program wypisuje wyrazy ci gu an = (n+4)/(n-3) od wyrazu ax do ay, gdzie X, Y s wczytywane z klawiatury. Co powinno si znale w polu INSTR.
START
C <N
STOP tak
nie C = A + B
A = B N = 20
A = 3 B = 4
WYPISZ: A B = C
A. i=i+1 B. X=X+1 C. i=Tmp D. Y=Y-1
Bezpiecze stwo techniczne
1) Ile lat trwaj roszczenia za ceramiczny produkt wadliwy z tytułu r kojmii (z wył czeniem budynków) ?
a) 1 b) 2 c) 3 d) 5
2) Aprobata techniczna dla wyrobu ceramicznego udzielana jest na wniosek:
a) importera, b) producenta, c) sprzedawcy
d) producenta i sprzedawcy
3) Czy rodki ochrony indywidualnej oraz ubrania robocze podlegaj certyfikacji?
a) tak
b) tylko rodki ochrony indywidualnej c) tylko ubrania robocze
d) nie
4) Ilo i stopie skomplikowania a tak e konsekwencje bł dnych decyzji wpływaj na:
5) Klasa odporno ci po arowej budynku zale y od:
a) rodzaju i kategorii strefy po arowej a tak e grupy wysoko ci budynku b) no no ci ogniowej, izolacyjno ci ogniowej i szczelno ci ogniowej c) obecno ci sygnalizacji po arowej (SAP) i instalacji głosowej (DSO) d) powierzchni strefy po arowej
6) Bezpiecznym miejscem dla celów ewakuacji jest:
a) pomieszczenie wyposa one w stałe urz dzenia ga nicze (tryskaczowe), b) korytarze i wymkni ta klatka schodowa drzwiami w klasie EI 30 CS, c) inna strefa po arowa, oddymiana klatka schodowa z drzwiami EI 30 CS,
miejsce na zewn trz budynku
d) pozioma i pionowa droga ewakuacyjna oraz miejsce na zewn trz budynku
7) Zasoby odnawialne to mi dzy innymi:
a) woda, zbiorowiska ro linne, łowiska, zasoby genetyczne i w giel brunatny b) w giel kamienny, rudy miedzi oraz zasoby le ne
c) przede wszystkim surowce energetyczne i surowce mineralne d) zbiorowiska ro linne, łowiska, zasoby genetyczne oraz powietrze 8) Odpady przemysłowe niebezpieczne to:
a) przede wszystkim odpady z produkcji, przygotowania, obrotu i stosowania zwi zków nieorganicznych a tak e przeróbki ropy naftowej i procesów hydrometalurgicznych
b) produkty fermentacji cukrów
c) zwi zki chemiczne biodegradowalne d) piaski i iły
Elektrotechnika z elektronik 1. Obwód elektryczny i jego analiza.
2. Podstawowe sygnały elektryczne i ich pomiar.
3. Obwody pr du sinusoidalnego, analiza obwodu metod liczb zespolonych.
4. Stany dynamiczne w obwodach elektrycznych pierwszego i drugiego rz du – równania i przebiegi czasowe.
5. Transformator elektryczny, silnik i pr dnica – budowa i zasada działania.
6. Realizacja podstawowych elektronicznych układów analogowych w oparciu o wzmacniacz operacyjny.
7. Podstawowe bramki logiczne w elektronicznych układach cyfrowych.
8. Jakie warto ci maj pr dy gał ziowe w obwodzie, którego schemat przedstawia rysunek?
Dane: E=9V, R1=1Ω, R2=6Ω, R3=3Ω.
a) I1= 3A, I2= 1A, I3= 2A b) I1= 3A, I2= 2A, I3= 1A c) I1= 9A, I2= 6A, I3= 3A d) I1= 1A, I2= 2A, I3= 3A
9. Elektroniczny układ przedstawiony na schemacie, zbudowany w oparciu o wzmacniacz operacyjny to:
+ R1 -
UWE
UWY
C UZ+
UZ-
R1
R2 R3
E
I2 I3
I1
a) wzmacniacz odwracaj cy b) układ kondensatorowy c) układ całkuj cy d) układ ró niczkuj cy
10. Jak moc wskazuje watomierz w obwodzie pr du sinusoidalnego w stanie ustalonym o napi ciu zasilaj cym e(t) i impedancji obci enia Z ? Dane:
e(t)=Emsin(ωt), Em=200 2 V, Z=(8+j6)Ω.
a) 1000W b) 600W c) 800W d) 1400W
11. Który z metali ma najwi ksz przewodno elektryczn wła ciw w temperaturze pokojowej (jest najlepszym przewodnikiem elektryczno ci)?
a) złoto b) srebro c) mied d) aluminium
12. Odbiornik (opór R0) dopasowano do ródła napi cia tak, aby na nim wydzielała si energia z maksymalna moc . Ile wynosi moc odbiornika P0 ? Dane: E = 12V, RW=3Ω
a) P0 =4W b) P0 =12W c) P0 =24W d) P0 =6W
W e(t)
E
R
R
13. Zasada superpozycji obowi zuje tylko w:
a) obwodach pr du stałego b) obwodach liniowych
c) obwodach pr du sinusoidalnego d) obwodach nieliniowych
14. Amperomierz cyfrowy True RMS ustawiony w tryb pracy AC przy pomiarze pr du okresowego wska e:
a) A = Ti t dt I T
0
) 1 (
b) A = Ti t dt I T
0
)2
1 (
c) A = Ti t dt I T
0
)2
1 (
d) A = Ti t dt I T
0
) 1 (
15. Jak funkcj logiczn realizuje układ cyfrowy?
a) y=x2⋅x3⋅x1
b) y=x2⋅x3+x1
c) y=x2+x3+x1
d) y=(x2+x3)⋅x1
16. W jakim układzie elektrycznym odpowied na skok napi cia zasilaj cego da przebieg czasowy przedstawiony na oscyloskopie?
a) układ RC b) układ RLC c) układ RL
i(t)=i(t+nT) A
Amperomierz
True RMSx3 x2 x1
y
d) układ LC
17. W symetrycznych układach trójfazowych przy poł czeniu tego samego odbiornika w gwiazd i w trójk t obowi zuje zale no mi dzy mocami:
a) Ptrójk ta= 3 Pgwiazdy
b) Ptrójk ta= 3Pgwiazdy
c) Pgwiazdy = 3Ptrójk ta
d) Pgwiazdy = 3 Ptrójk ta
Zarz dzanie jako ci 1. Poj cie jako ci
2. Klient i jego rola w systemach jako ci 3. Koszty jako ci
4. Normy i normalizacja
5. Dokumentacja systemu zarz dzania jako ci 6. Narz dzia zarz dzania jako ci
7. W nauce o jako ci przez jako produktów i usług rozumiemy:
a. maestri w wykonaniu
b. stopie spełnienia oczekiwa klienta
c. mo liwo zastosowania produkcji wieloseryjnej
d. posiadanie przez organizacj produkcyjn /usługow znaku towarowego TM 10. Klient bezpo redni to:
a. mieszkaniec terenów w pobli u zakładu b. pracownik przedsi biorstwa
c. wiadomy odbiorca oferowanych wyrobów/usług
d. internauta odwiedzaj cy stron internetow predsi biorstwa 11. Do kosztów utraconych mo liwo ci nale :
a. utracone rynki zbytu i zamówienia b. koszty braków naprawialnych c. koszty szkole pracowników
d. koszty spraw s dowych i odszkodowa
12. Podstawowa norma zarz dzania jako ci wdra ana w przedsi biorstwie to:
a. PN/ISO 9000 b. PN/ISO 9001 c. PN/ISO 18025 d. GLP
13. Standardowa procedura operacyjna opisuje:
a. polityk jako ci przedsi biorstwa b. system zarz dzania przedsi biorstwem c. odpowiedzialno zarz du przedsi biorstwa
d. w sposób szczegółowy rutynowe czynno ci 14. Wykres Pareto pozwala na:
a. okre lenie zale no ci mi dzy zmiennymi
b. identyfikacj czynników powoduj cych najwi ksze odst pstwa od jako ci.
c. kompleksow ocen statystyczn jako ci produktu d. stworzenie nowej koncepcji zarz dzania
PRZEDMIOTY KIERUNKOWE
Chemia organiczna
1. Izomeria zwi zków organicznych i jej rodzaje.
2. Typy reakcji i reagentów organicznych.
3. Alkany, alkeny, alkiny - budowa, nazewnictwo, charakterystyczne reakcje.
4. Zwi zki aromatyczne - rodzaje, charakterystyczne cechy budowy, typowe reakcje chemiczne, wpływ podstawników w pier cieniach aromatycznych na te reakcje.
5. Halogenki alkilów i arylów - budowa, charakterystyczne reakcje.
6. Alkohole i fenole - budowa, charakterystyczne reakcje, wła ciwo ci kwasowo-zasadowe.
7. Aldehydy i ketony - nazewnictwo, charakterystyczne reakcje.
8. Kwasy karboksylowe - nazewnictwo, moc; pochodne kwasów karboksylowych - rodzaje, nazewnictwo.
9. Izomery geometryczne mo e tworzy :
a) heks-3-yn; b) but-2-en; c) oktan; d) pent-1-en.
10. Izomerem kwasu pentanowego jest:
a) kwas 2-metylopentanowy; b) propanian etylu; c) 2-metylobutan-2-ol, d) propanian 2-metyloetylu.
11. W trakcie bromowania etanu przebiegaj cego w podwy szonej temperaturze podczas na wietlania mieszaniny reakcyjnej promieniowaniem nadfioletowym powstaj :
a) nadtlenki; b) elektrofile; c) nukleofile; d) wolne rodniki.
12. Głównym produktem reakcji 2-metylobut-2-enu z HCl jest:
a) 2-chloro-2-metylobutan; b) 1-chloro-2-metylobut-2-en; c) 2-chloro-3-metylobutan;
d) 1-chloro-2-metylobutan.
13. Alkohol powstaj cy w wyniku reakcji 3-chloro-3-metyloheksanu z NaOH nie wykazuje czynno ci optycznej, gdy :
a) nie zawiera asymetrycznego atomu w gla;
b) w czasie tej reakcji ma miejsce odwrócenie (inwersja) konfiguracji podstawników przy asymetrycznym atomie w gla;
c) produktem reakcji jest mieszanina racemiczna;
d) reakcja przebiega według mechanizmu SN2.
14. Reakcja nitrowania przebiega łatwiej ni w przypadku benzenu, gdy poddaje si jej:
a) aldehyd benzoesowy; b) aminobenzen; c) keton fenylowo-metylowy; d) nitrobenzen.
15. Reakcja tworzenia hemiacetalu z propanalu i etanolu jest reakcj :
a) addycji elektrofilowej; b) substytucji wolnorodnikowej; c) addycji nukleofilowej;
d) substytucji nukleofilowej.
16. Spo ród podanych zwi zków z HCl reaguje:
a) 2-metylobutan; b) 2-metylobutan-2-ol; c) 2-metylo-2-chlorobutan; d) chlorobenzen.
17. Spo ród podanych zwi zków najsilniejsze wła ciwo ci kwasowe wykazuje:
a) kwas octowy; b) kwas dichlorooctowy; c) kwas chlorooctowy; d) kwas trichlorooctowy.
18. Wszystkie atomy le w jednej płaszczy nie w cz steczce:
a) metylobenzenu; b) naftalenu; c) etanu; d) propenu.
Podstawy mechaniki i konstrukcji maszyn
1. Rodzaje wi zów i uwalnianie od nich elementów maszyn lub konstrukcji.
2. Warunki równowagi płaskich układów sił i przykłady ich zastosowania.
3. Proste przypadki wytrzymało ciowe.
4. Do wiadczalne podstawy okre lania wła ciwo ci mechanicznych materiałów budowlanych oraz ceramicznych.
5. Wymiarowanie zł czy nierozł cznych.
6. Dobór elementów zł czy rozł cznych.
7. Rodzaje przekładni mechanicznych i ich znaczenie w układach nap dowych maszyn.
8. Podpor przegubow przesuwn zast puje si sił reakcji, której kierunek jest:
a) prostopadły do kierunku ruchu, b) równoległy do kierunku ruchu,
c) nieznany i dlatego rozkłada si j na 2 składowe, d) tworzy z kierunkiem ruchu k t 45º.
9. Warto reakcji w punktach A oraz B elementu przedstawionego na schemacie wynosi:
a) RA = 15 kN, RB = 5 kN, b) RA = 5 kN, RB = 10 kN, c) RA = 10 kN, RB = 10 kN, d) RA = 5 kN, RB = 15 kN.
10. Warunkiem koniecznym równowagi płaskiego dowolnego układu sił jest:
a)
= n =
i Pix 1
0,
= n =
i Piy 1
0,
= n =
i Mio 1
0,
b)
= n =
i Pix 1
0,
= n =
i Piy 1
0,
c)
= n =
i Piy 1
0,
= n =
i Mio 1
0,
d)
= n =
i Pix 1
0, ,
= n =
i Mio 1
0.
11. Odkształcenie bezwzgl dne pr ta przedstawionego na schemacie wynosi:
a) 2,38 [mm], b) 0,238 %, c) 0,152 [mm], d) 0,0152 %.
12. Sztywno elementu zginanego zale y m.in. od:
a) jego długo ci, b) obci enia,
c) maksymalnej strzałki ugi cia, d) wymiarów przekroju poprzecznego.
13. Wytrzymało na zginanie materiału budowlanego lub ceramicznego okre lona w sposób eksperymentalny stanowi warto :
a) siły niszcz cej próbk ,
b) maksymalnego momentu zginaj cego,
c) napr enia zginaj cego w przekroju złamania próbki, d) napr enia cinaj cego w przekroju złamania próbki.
14. Długo obliczeniowa lobl ka dej ze spoin pachwinowych przedstawionych na schemacie wynosi:
a) 50 mm, b) 100 mm, c) 35 mm, d) 70 mm.
k’st = 50 MPa, g = 10 mm, P = 70 kN 15. Warto granicy plastyczno ci stali, z której wykonana jest ruba M16x80-6.8-A wynosi:
a) 48 MPa, b) 14 MPa, c) 80 MPa, d) 480 MPa.
16. ruba lu na w prawidłowo wykonanym zł czu rozł cznym powinna by poddana:
a) cinaniu, b) rozci ganiu, c) zginaniu, d) skr caniu.
17. Przekładnie mechaniczne redukuj ce obroty słu m.in. do:
a) zwi kszenia mocy u ytecznej, b) zwi kszenia momentu obrotowego,
c) zwi kszenia obrotów na wyj ciu z przekładni, d) zmniejszenia momentu na wyj ciu przekładni.
Chemia fizyczna 1. Termodynamika przemian gazowych
2. Termodynamika przemian fazowych
3. Równowaga chemiczna, czynniki wpływaj ce na stał i stan równowagi
4. Równowaga w układach wielofazowych i wieloskładnikowych, diagramy fazowe 5. Czynniki wpływaj ce na kinetyk reakcji chemicznej
6. Kryteria samorzutno ci procesów w przyrodzie 7. Ogniwa chemiczne, zasada działania, przykłady 8. Prawa elektrolizy, praktyczne wykorzystanie 9. Je li entalpie podanych reakcji s znane,
to entalpia reakcji utleniania siarki do SO2 w kJ mol-1
wynosi:
a) -297, b) +297, c) -493, d) +493
10. Które stwierdzenie jest prawdziwe dla reakcji endotermicznych?
a) wi zania w produktach s silniejsze ni w substratach b) wi zania w substratach s silniejsze ni w produktach c) entalpia produktów jest ni sza od entalpii substratów
d) reakcja jest samorzutna w niskich temperaturach i niesamorzutna w wysokich temperaturach
11. Które z poni szych stwierdze jest prawdziwe w odniesieniu do reakcji z udziałem katalizatora:
a) zmiana entalpii dla reakcji z udziałem katalizatora jest mniejsza ni dla reakcji bez katalizatora
b) zmiana entalpii dla reakcji z udziałem katalizatora jest wi ksza ni dla reakcji bez katalizatora
c) zmiana entalpii dla reakcji z udziałem katalizatora jest taka sama jak dla reakcji bez katalizatora
d) energia aktywacji dla reakcji z udziałem katalizatora jest wi ksza ni dla reakcji bez katalizatora
12. W zbiorniku o stałej obj to ci w temperaturze 350 oC, ustala si stan równowagi dla reakcji:
Które stwierdzenie jest prawdziwe?
a) obni enie temperatury spowoduje zwi kszenie ilo ci produktu b) zwi kszenie obj to ci spowoduje zwi kszenie ilo ci produktu c) podwy szenie temperatury spowoduje zwi kszenie ilo ci produktu d) dodanie katalizatora spowoduje zwi kszenie ilo ci produktu 13. Bior c pod uwag podane standardowe potencjały półogniw
rozstrzygn , która warto odpowiada sile elektromotorycznej ogniwa [V], w którym zachodzi samorzutnie reakcja redoks:
a) +1, 69, b) +1,39, c) +0,92, d) +62
14. W oparciu o nast puj ce reakcje zachodz ce samorzutnie
rozstrzygn , która para reagentów stanowi zestawienie najsilniejszego utleniacza z najsilniejszym reduktorem:
a) Ag(s), Zn(s); b) Ag+(aq), Zn(s); c) Zn2+(aq), Ag(s); d) Zn(s), Ag+(aq)
15. Do reaktora o obj to ci 1 dm3 wprowadzono po 6,0 moli reagentów P i Q. Po osi gni ciu stanu równowagi liczba moli produktu R wynosiła 4,0 moli.
Stała równowagi reakcji
) ( ) ( ) ( )
(g Q g R g S g
P + ⇔ +
wynosi:
a) 0,11; b) 0,25; c) 0,44; d) 4,0
16. Dla której z podanych reakcji zmiana entropii jest najwi ksza?
17. Dla rakcji A → B szybko tworzenia produktu B jest proporcjonalna do st enia substanci A [A]. Które z ponizszych równa opisuje kinetyk tej reakcji?
kt A A d
A kt c A
A kt b A
kt A a
=
−
=
−
=
=
] [ ] )[
] [
1 ] [ ) 1
] [
] ln[ )
] )[
0 0 0
18. Dla prostego układu eutektycznego (2 składniki) prawdziwe jest stwierdzenie:
b) maksymalna liczba współistniej cych faz wynosi 2 c) maksymalna liczba stopni swobody wynosi 4
d) poni ej punktu eutektycznego współistniej dwie fazy stałe e) powy ej punktu eutektycznego istnieje wył cznie faza ciekła
Fizykochemia ciała stałego 1. Defekty punktowe w zwi zkach stechiometrycznych.
2. Defekty punktowe w zwi zkach niestechiometrycznych.
3. Domieszki i ich wpływ na defekty samoistne.
4. Samodyfuzja.
5. Metoda Darkena.
6. Stała zdefektowania Schottky’ego w MO2 jest równa:
[ ] KS=[Mi4•][Oi2’]2. [ ] KS=[Mi4•]2[Oi2’].
[ ] KS=[VM4’]2[VO2•].
[ ] KS=[VM4’][VO2•]2.
7. Zdefektowanie w kierunku niedomiaru metalu w M2O3 opisuje reakcja:
[ ] 3O2 = 2VM3’ + 6h• +6OO. [ ] 3O2 = 4VM3’ + 12h• +6OO. [ ] 3O2 = VM3’ + 3h• +6OO. [ ] 1/2O2 = 2VM3’ + 6h• +OO.
8. Stała równowagi zdefektowania w kierunku nadmiaru utleniacza w MO jest równa:
[ ] K=[Mi2•][e’]2pO21/2. [ ] K=[VM2’][h•]2pO2-1/2. [ ] K=[Oi2’][h•]2pO2-1/2. [ ] K=[VO2•][e’]2pO21/2.
9. W celu podwy szenia st enia wakancji po metalu w stechiometrycznym M2O3 nale y wprowadzi na pozycje M domieszk :
[ ] jednowarto ciow . [ ] dwuwarto ciow . [ ] trójwarto ciow . [ ] adn z powy szych
10. Wprowadzenie trójwarto ciowej domieszki na pozycje M w stechiometrycznym MO2
powoduje wzrost st enia:
[ ] wył cznie VO2•. [ ] wył cznie Mi4•. [ ] VO2• oraz Oi2’.
[ ] VO2• oraz Mi4•.
11. W przypadku dyfuzji up hill kierunek strumienia:
[ ] Przynajmniej jednego ze składników jest zgodny z gradientem koncentracji.
[ ] Przynajmniej jednego ze składników jest przeciwny do gradientu koncentracji.
[ ] Wszystkich składników jest zgodny z gradientem koncentracji.
[ ] Wszystkich składników jest przeciwny do gradientu koncentracji.
12. W układzie Cu-Zn zale no wsp. dyfuzji DCuZn od ułamka molowego jest dana równaniem:
[ ] DCuZn = yCu DZn + yCu DCu. [ ] DCuZn = yCu DZn + (1-yCu) DCu. [ ] DCuZn = yZn DZn + yZn DCu. [ ] DCuZn = yZn DZn + (1-yZn) DCu.
13. Eksperyment Kirkendalla potwierdził wyst powanie nast puj cego mechanizmu dyfuzji:
[ ] Wymiany
[ ] Pier cieniowego.
[ ] Wakansowego.
[ ] adnego z powy szych.
14. Warstwy A i B (o równych grubo ciach oraz stosunku wsp. dyfuzji ciepła αB /αA =5) rozdzielaj obszary o temperaturach 10 i 40 °C. Temperatura na granicy warstw w stanie stacjonarnym b dzie równa:
[ ] 20 °C.
[ ] 25 °C.
[ ] 30°C.
[ ] 35°C.
15. Prawo Fouriera opisuje strumie ciepła dla nast puj cego mechanizmu wymiany:
[ ] Promieniowania.
[ ] Przewodzenia.
[ ] Konwekcji.
[ ] adnego z powy szych.
Metody badania składu chemicznego 1. Budowa instrumentu pomiarowego
2. Sygnał analityczny
3. Sposób przedstawiania wyniku analizy 4. Etapy procesu analitycznego
5. Parametry metod analitycznych 6. Kalibracja metody analitycznej 7. Metody elektrochemiczne – podstawy
8. Metody optyczne (spektroskopowe) – podstawy
9. Do pomiaru nat enia promieniowania elektromagnetycznego słu y:
a. elektroda pracuj ca b. fotoogniwo
c. detektor konduktometryczny d. sensor gazowy
10. Sygnał analityczny niesie informacj o:
a. nat eniu promieniowania b. masie próbki
c. składzie chemicznym próbki d. u ytego do pomiaru instrumentu
11. Prawidłowo przedstawiony wynik analizy chemicznej to:
a. oznaczone st enie (zawarto ) +/- niepewno oznaczenia b. oznaczone st enie (zawarto )
c. wynik oznaczenia z dokładno ci dwóch miejsc po przecinku d. st enie ladowe pierwiastka w próbce w ppm
12. Czuło metody analitycznej to:
a. najmniejsze st enie mo liwe do wykrycia dan metod b. pierwsza pochodna funkcji pomiarowej
c. najmniejsze st enie mo liwe do oznaczenia dan metod d. pierwsza pochodna funkcji analitycznej
13. Kalibracja metody analitycznej polega na:
a. dodaniu roztworu wzorcowego do próbki b. kondycjonowaniu elektrody pomiarowej
c. wyprowadzeniu zale no ci teoretycznej odpowiedzi sensora d. eksperymentalnym wyznaczeniu funkcji pomiarowej
14. Bł d systematyczny mo na wykry poprzez:
a. u ycie odczynników o wysokiej czysto ci
b. analiz certyfikowanego materiału referencyjnego
c. wyci gni cie redniej z co najmniej trzech wyników analizy d. dobranie odpowiedniej strategii pobierania próbki
15. Eliminacja lub redukcja bł du przypadkowego jest mo liwe poprzez:
a. u ycie estymatora nieobci onego (np. redniej) b. zastosowanie czystych odczynników
c. zastosowanie certyfikowanych materiałów odniesienia d. u ycie cyfrowego odczytu wyniku pomiaru
16. W metodzie konduktometrycznej mierzy si a. pr d
b. napi cie
c. przewodnictwo elektryczne d. absorbancj
17. Pomiar potencjometryczny realizowany jest w warunkach:
a. galwanostatycznych b. potencjostatycznych
c. stałej temperatury i ci nienia d. bezpr dowych
18. Metod fotometrii płomieniowej mo na oznacza : a. wszystkie metale
b. metale alkaliczne c. wszystkie niemetale
d. tylko lantanowce
19. W metodzie atomowej spektrometrii absorpcyjnej ródłem promieniowania jest:
a. płomie palnika
b. lampa deuterowa lub lampa wodorowa c. lampa z katod wn kow lub bezelektrodowa d. lampa jodowa lub ksenonowa
PRZEDMIOTY SPECJALNO CIOWE Krystalografia i krystalochemia 1. Teoria sieci krystalicznej.
2. Symetria punktowa kryształów.
3. Symetria sieci przestrzennej.
4. Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego na sieci krystalicznej.
5. Krystalochemia oparta na krystalografii strukturalnej.
6. Podstawowe typy struktur krystalicznych.
7. Wska niki (hkl) płaszczyzny jednoznacznie okre laj :
a) Nachylenie płaszczyzn łupliwo ci kryształu w stosunku do cian komórki elementarnej,
b) Nachylenie dowolnej płaszczyzny sieciowej wzgl dem trzech osi krystalograficznych,
c) Ilo płaszczyzn sieciowych symetrycznych odpowiednio do kierunków X, Y i Z, d) Odległo ka dej płaszczyzny sieciowej od w zła 0,0,0.
8. Komórka elementarna dowolnej sieci krystalicznej ma zawsze kształt:
a) Sze cianu,
b) Prostopadło cianu,
c) Graniastosłupa o podstawie rombu, d) Równoległo cianu.
9. Parametry sieciowe: a=b ≠c, α = β = γ =90o jednoznacznie charakteryzuj układ krystalograficzny:
a) Jednosko ny, b) Tetragonalny, c) Regularny, d) Trójsko ny.
10. Z prawa równoległo ci cian wynika, e
a) Naturalne zewn trzne ciany kryształu (je eli s wykształcone) s zawsze prostopadłe do płaszczyzn sieciowych,
b) Naturalne zewn trzne ciany kryształu (je eli s wykształcone) s zawsze równoległe do cian komórki elementarnej,
c) Naturalne zewn trzne ciany kryształu (je eli s wykształcone) s zawsze równoległe do płaszczyzn sieciowych,
d) Proste sieciowe s zawsze równoległe do naturalnych zewn trznych cian kryształu (je eli ciany s wykształcone).
11. Obj to komórki elementarnej danej sieci krystalicznej mo na obliczy znaj c wył cznie:
a) Parametry komórki elementarnej,
b) Odległo ci mi dzypłaszczyznowe dla wszystkich jej płaszczyzn sieciowych,
c) Wska niki płaszczyzn sieciowych,
d) Układ krystalograficzny i grup przestrzenn .
12. W krystalografii klasycznej dopuszczalne s nast puj ce krotno ci osi symetrii:
a) 1, 2, 3, 6, b) 1, 2, 3, 4, 6, 8, c) 2, 3, 4, 6, 8, d) 1, 2, 3, 4, 6.
13. Elementami symetrii, jakie mog wyst pi w układzie jednosko nym s : a) Osie dwukrotne oraz jednokrotne wła ciwe lub inwersyjne, b) Płaszczyzny symetrii oraz osie czterokrotne i dwukrotne, c) Wył cznie centrum symetrii,
d) Wszystkie dozwolone w krystalografii elementy symetrii.
14. Zapis mi dzynarodowy klasy symetrii 6mm jest równowa ny z zapisami wg. Schoenfliesa oraz Kreutza- Zaremby:
a. C6v oraz L6zPy, b. D6h oraz L6zPy, c. C6v oraz L6zL2yC, d. D6h oraz L6zL2yC.
15. Poło enia w złów w sieci płasko centrowanej (typ F) mo na opisa (w najkrótszy sposób) jako:
a) 0,0,0; ½,½,0; ½,0,½; 0,½,½,
b) 0,0,0; ½,½,0; ½,0,½; 0,½,½; ½,½,½, c) 0,0,0; ½,½,½,
d) 0,0,0; ½,½,0.
16. Symbol grupy przestrzennej w zapisie mi dzynarodowym zawiera:
a) Wielk liter alfabetu oznaczaj c układ krystalograficzny oraz trójpozycyjn sekwencj cyfr i/lub liter (małych) oznaczaj cych sekwencj charakterystycznych elementów symetrii tej sieci,
b) Wielk liter alfabetu oznaczaj c typ sieci Bravais’a oraz trójpozycyjn sekwencj cyfr i/lub liter (małych) oznaczaj cych sekwencj charakterystycznych elementów symetrii tej sieci,
c) Wył cznie trójpozycyjn sekwencj cyfr i/lub liter (małych) oznaczaj cych sekwencj charakterystycznych elementów symetrii tej sieci,
d) Ci g cyfr i liter okre laj cych kształt i rozmiary komórki elementarnej tej sieci.
17. Na podstawie danych z Mi dzynarodowych Tablic Krystalograficznych (tzw. Tablic Wyckoff’a – International Tables for X-ray Crystallography) mo emy okre li m.in.:
a. Rozmiary komórek elementarnych dla ró nych struktur, b. Ilo odmian polimorficznych,
c. Mo liwe pozycje atomów w komórce elementarnej,
d. Odległo ci mi dzypłaszczyznowe charakterystyczne dla danej fazy krystalicznej.
18. Dane uzyskane na podstawie pomiarów XRD jednoznacznie identyfikuj dan substancj krystaliczn dzi ki mo liwo ci obliczenia oraz porównania z danymi z kart identyfikacyjnych (JCPDS ICDD):
a) Długo ci fali stosowanego promieniowania rentgenowskiego, b) Rz du refleksów,
c) Zarówno długo ci fali stosowanego promieniowania rentgenowskiego jak i rz du refleksów,
d) Odległo ci mi dzypłaszczyznowych dla poszczególnych rodzin płaszczyzn sieciowych.
19. Współczesna dyfraktometria rentgenowska (XRD) umo liwia wykonanie:
a) Analizy fazowej jako ciowej i ilo ciowej wielofazowych materiałów polikrystalicznych,
b) Analizy fazowej jako ciowej i ilo ciowej wył cznie wielofazowych materiałów monokrystalicznych,
c) Wył cznie analizy fazowej jako ciowej materiałów jednofazowych polikrystalicznych,
d) Analizy chemicznej jako ciowej i ilo ciowej wielofazowych materiałów polikrystalicznych.
20. Stwierdzeniem nieprawdziwym jest:
a) Polaryzacja wi zania kowalencyjnego prowadzi do powstania wi zania jonowego,
b) Delokalizacja wi zania kowalencyjnego prowadzi do powstania wi zania metalicznego,
c) Polaryzacja wi zania jonowego prowadzi do powstania wi zania kowalencyjnego,
d) Tylko jedna z powy szych odpowiedzi jest nieprawdziwa.
21. W oparciu o skal elektroujemno ci Paulinga jako jonowe okre lamy wi zanie, dla którego ró nica elektroujemno ci pierwiastków tworz cych wi zanie wynosi:
a) Dokładnie 0, b) Nie wi cej ni 1, c) Wi cej ni ok. 1,7,
d) Wi cej ni 1, ale mniej ni 1,7.
22. Przykładem polimorfizmu mog by :
a) KCl oraz KBr poniewa ró nica promieni jonowych anionów wynosi tu zaledwie ok.8%,
b) SiO2 oraz BeF2 ,
c) Kwarc i krystobalit – odmiany SiO2,
d) Ka da z powy szych odpowiedzi jest prawdziwa.
23. Szkło, w odró nieniu od kryształu charakteryzuje brak uporz dkowania:
a) Dalekiego zasi gu,
b) Bliskiego i dalekiego zasi gu, c) Bliskiego zasi gu,
d) Brak uporz dkowania nie odró nia szkła od kryształu.
24. W przypadku struktur krystalicznych dwóch odmian alotropowych w gla wyst puj odpowiednio wi zania:
a) Wył cznie jonowe w diamencie; kowalencyjne i oddziaływania sił dyspersyjnych w graficie,
b) Wył cznie kowalencyjne w diamencie; kowalencyjne i oddziaływania sił dyspersyjnych w graficie,
