POPRAWKA do POLSKIEJ NORMY PN-EN :2003/AC

POPRAWKA do POLSKIEJ NORMY

ICS 31.200

PN-EN 61967-4:2003/AC

Wprowadza EN 61967-4:2002/AC:2017-07, IDT IEC 61967-4:2002/AC1:2017, IDT

 Copyright by PKN, Warszawa 2019 nr ref. PN-EN 61967-4:2003/AC:2019-07 Wszelkie prawa autorskie zastrzeżone. Żadna część niniejszej publikacji nie może być zwielokrotniana

jakąkolwiek techniką bez pisemnej zgody Prezesa Polskiego Komitetu Normalizacyjnego

Układy scalone

Pomiar emisji elektromagnetycznych od 150 kHz do 1 GHz

Część 4: Pomiary emisji przewodzonej - metoda sprzężenia bezpośredniego 1 om/150 om

Poprawka do Normy Europejskiej EN 61967-4:2002/AC:2017-07 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz--Part 4: Measurement of conducted emissions--1 ohm/150 ohm direct coupling method ma status

Poprawki do Polskiej Normy

PN-EN 61967-4:2003/AC:2019-07

2

Przedmowa krajowa

Niniejsza poprawka została zatwierdzona przez Prezesa PKN dnia 16 lipca 2019 r.

Komitetem krajowym odpowiedzialnym za poprawkę jest KT nr 60 ds. Energoelektroniki i Przyrządów Półprzewodnikowych.

Istnieje możliwość przetłumaczenia poprawki na język polski na wniosek zainteresowanych środowisk.

Decyzję podejmuje właściwy Komitet Techniczny.

W sprawach merytorycznych dotyczących treści normy można zwracać się do właściwego Komitetu Technicznego lub właściwejRady Sektorowej PKN, kontakt: www.pkn.pl.

Nota uznaniowa

Poprawka do Normy Europejskiej EN 61967-4:2002/AC:2017-07 została uznana przez PKN za Poprawkę do Polskiej Normy PN-EN 61967-4:2003/AC:2019-07.

EUROPEAN STANDARD NORME EUROPÉENNE EUROPÄISCHE NORM

EN 61967-4:2002/AC:2017-07

July 2017

ICS 31.200

English Version

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted

emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz - Partie 4: Mesure des émissions conduites - Méthode par couplage direct 1

ohm/150 ohm (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich

von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1

Ohm/150 Ohm-Kopplung (IEC 61967-4:2002/COR1:2017)

This corrigendum becomes effective on 21 July 2017 for incorporation in the English language version of the EN.

European Committee for Electrotechnical Standardization Comité Européen de Normalisation Electrotechnique Europäisches Komitee für Elektrotechnische Normung

CEN-CENELEC Management Centre: Avenue Marnix 17, B-1000 Brussels

© 2017 CENELEC All rights of exploitation in any form and by any means reserved worldwide for CENELEC Members.

Ref. No. EN 61967-4:2002/AC:2017-07 E

EN 61967-4:2002/AC:2017-07

Endorsement notice

The text of the corrigendum IEC 61967-4:2002/COR1:2017 was approved by CENELEC as EN 61967-4:2002/AC:2017-07 without any modification.

IEC 61967-4:2002/COR1:2017 – 1 –

 IEC 2017

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________

IEC 61967-4 Edition 1.0 2002-04

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz

Part 4:

Measurement of conducted emissions – 1 Ω/150 Ω direct coupling method

IEC 61967-4 Édition 1.0 2002-04

Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz

Partie 4:

Mesure des émissions conduites – Méthode par couplage direct 1 Ω/150 Ω

C O R R I G E N D U M 1

Corrections to the French version appear after the English text.

Les corrections à la version française sont données après le texte anglais.

7.1 General test configuration

Replace the existing Figure 5 by the following new Figure 5:

Figure 5 – General test configuration

IEC

Measuring equipment C5

C1

Gnd V_supply

120 Ω

R3 C4

6,8 nF 51 Ω ZL = 150 Ω

Q I/O C3

C2 R1**

IC Gnd

Gnd

0 V +5 V

** pull up / pull down may be required depending on application Impedance

matching network

Power supply

V_RF Z_L = 50 Ω

R2 ⁵¹

Ω

RF current probe

IC

IEC 61967-4:2002-04/COR1:2017-06 (en-fr)

– 2 – IEC 1967-4:2002/COR1:2017

 IEC 2017 7.1 Configuration générale d'essai

Remplacer la Figure 5 existante par la nouvelle Figure 5 suivante:

Figure 5 – Configuration générale d’essai

IEC

C5 C1

120 Ω

R3 C4

6,8 nF 51 Ω Z_L = 150 Ω

Q I/O C3

C2 R1**

Masse CI

0 V +5 V

V_RF ZL = 50 Ω

R2 ⁵¹

Ω

IC

Appareillage de mesure Masse Valimentation

Masse

** Une résistance de polarisation à l’alimentation/à la masse peut être requise en fonction de l’application

Réseau d’adaptation d’impédance

Alimentation Sonde

courant RF