• Nie Znaleziono Wyników

Sala 4.10 -

N/A
N/A
Protected

Academic year: 2021

Share "Sala 4.10 -"

Copied!
3
0
0

Pełen tekst

(1)

1

Spis ćwiczeń w LPF Sala 4.09 - Elektryczność

43. Pomiar rezystancji (części A i C) (x2)

44. Pomiar zależności oporności metali i półprzewodników od temperatury. (x4) 51. Pomiary oscyloskopowe. (x3)

Stanowisko 1

43AC/1

Stanowisko 2

43AC/2 lub 44/4

Stanowisko 3

51/1

Stanowisko 4

51/2

Stanowisko 8

44/1

Stanowisko 7

44/2

Stanowisko 6

44/3

Stanowisko 5

51/3

Sala 4.10 - Elektryczność i magnetyzm

57. Badanie efektu Halla.

57C. Badanie efektu Halla.(x7)

58. Wyznaczanie podstawowych parametrów ferromagnetyków.

64. Wyznaczanie składowej poziomej natężenia ziemskiego pola magnetycznego. (x2)

Stanowisko 1

57C/4 lub 64/1

Stanowisko 2

57C/5

Stanowisko 3

57C/6 lub 58

Stanowisko 4

57C/7

Stanowisko 8

57

Stanowisko 7

57C/1 lub 64/2

Stanowisko 6

57C/2

Stanowisko 5

57C/3

Sala 4.11 - Mechanika

1. Wyznaczenie momentu bezwładności ciał metodą wahadła fizycznego grawitacyjnego i sprawdzenie twierdzenia Steinera. (x8)

10. Sprawdzenie prawa Hooke’a; wyznaczenie modułu Younga. (x3) 12. Wyznaczenie modułu sztywności metodą dynamiczną. (x4)

Stanowisko przy ścianie 9

10/1

Stanowisko przy ścianie 10

10/2

Stanowisko przy ścianie 11

12/1

Stanowisko przy ścianie 12

12/2

Stanowisko przy ścianie 13

10/3

Stanowisko 1

Waga 1/8

Stanowisko 2

1/7

Stanowisko 3

1/6

Stanowisko 4

1/5

Stanowisko 8

1/1

Stanowisko 7

1/2

Stanowisko 6

1/3 lub 12/3

Stanowisko 5

1/4 lub 12/4

Sala 4.12 - Mechanika

2. Wyznaczanie przyspieszenia ziemskiego za pomocą wahadła rewersyjnego.

8. Wyznaczanie współczynnika lepkości cieczy na podstawie prawa Stokesa. (x8) 17. Wyznaczanie wartości przyspieszenia ziemskiego (x3)

36. Badanie wahadła fizycznego (x4)

W A G I

Stanowisko 1

2 lub 8/1

Stanowisko 2

8/2 lub 17/1

Stanowisko 3

8/3 lub 17/2

Stanowisko 4

8/4 lub 17/3

Stanowisko 8

8/8 lub 36/1

Stanowisko 7

8/7 lub 36/2

Stanowisko 6

8/6 lub 36/3

Stanowisko 5

8/5 lub 36/4

Sala 4.13 - Ciepło

20. Skalowanie termopary i wyznaczanie temperatury krzepnięcia stopu. (x7) 22. Pomiar ciepła właściwego ciał stałych metodą Nernsta.

27. Pomiar przewodności cieplnej i elektrycznej metali 28. Pomiar przewodności cieplnej izolatorów. (x4)

Stanowisko 1

27

Waga

lub 20/1

Stanowisko 2

20/2

Stanowisko 3

20/3

Stanowisko 4

20/4

Stanowisko 8

22 lub 28/4

Stanowisko 7

28/3 lub 20/7

Stanowisko 6

28/2 lub 20/6

Stanowisko 5

28/1 lub 20/5

(2)

2

Sala 4.14 - Ciepło

29. Wyznaczanie współczynnika rozszerzalności cieplnej metodą elektryczną. (x7) 33. Pomiar napięcia powierzchniowego.

A – metodą odrywania (x2), B - ” kapilary,

C - ” stalagmometru (x4), D - ’’ pęcherzykową,

E - ” odrywania metodą Du Nouy’a.(x2)

Stanowisko 1

33E/1 lub 29A/1

Stanowisko 2

33C/4 lub 33A/1 lub 29A/2

Stanowisko 3

Waga 33D

Stanowisko 4

33A/1 lub 29A/3

Stanowisko 8

33E/2 lub 29A/7

Stanowisko 7

33C/3 lub 33B lub 29A/6

Stanowisko 6

33C/1 lub 29A/5

Stanowisko 5

33C/4 lub 29A/4

Sala 4.15 - Optyka ciemna

70. Pomiary fotometryczne. (część A x2 i B x1)

84. Wyznaczanie długości fali świetlnej za pomocą siatki dyfrakcyjnej. (x3) 91. Badanie zewnętrznego zjawiska fotoelektrycznego. (część A i B)

Stanowisko przy ścianie 9

70B

Stanowisko 1

84/1

Stanowisko 2

70A/1

Stanowisko 3

70A/2

Stanowisko 4

Stanowisko 8

84/2

Stanowisko 7

91/1

Stanowisko 6

91/2

Stanowisko 5

84/3

Sala 4.16 - Optyka jasna

75. Wyznaczanie współczynnika załamania metodą refraktometru i za pomocą mikroskopu.(x2) 81. Wyznaczanie promienia krzywizny soczewki i długości fali świetlnej za pomocą pierścieni

Newtona. (x8)

88. Pomiary naturalnej aktywności optycznej.

89. Pomiary wymuszonej aktywności optycznej.

Stanowisko 1

75/1 lub 81/5

Stanowisko 2

81/6

Stanowisko 3

81/7 lub 89

Stanowisko 4

81/8 lub 88

Stanowisko 8

75/2 lub 81/1

Stanowisko 7

81/2

Stanowisko 6

81/3

Stanowisko 5

81/4

Sala 4.21 - Optyka ciemna

77. Pomiar odległości ogniskowych soczewek cienkich. (x4)

76. Wyznaczanie współczynnika załamania szkła za pomocą spektrometru. (x3) 72A. Analiza spektralna i pomiary spektrofotometryczne (x3)

Stanowisko 3

72/3

Stanowisko 10

77/1

Stanowisko 6

77/2

Stanowisko 2

72/2

Stanowisko 8

76/2

Stanowisko 9

76/3

Stanowisko 5

77/3

Stanowisko 1

72/1

Stanowisko 7

76/1

Stanowisko 4

77/4

(3)

3

Sala 4.22 - Elektryczność i magnetyzm

53. Prawo Ohma dla prądu zmiennego. (x7)

54. Badanie zjawiska rezonansu elektromagnetycznego. (x7)

52. Wyznaczanie ładunku właściwego elektronu (metodą Thomsona i metodą podłużną). (x2) 65. Badanie procesów ładowania i rozładowania kondensatora. (x3)

Stanowisko 7

53,54 /2

Stanowisko 8

53,54/1

Stanowisko 5

65/2 lub 53,54/4

Stanowisko 6

53,54/3

Stanowisko 3

65/1 lub 53,54/5

Stanowisko 4

53,54/6

Stanowisko 1

52/2

Stanowisko 2

53,54/7

Sala 4.23 - Fizyka współczesna

30. Pomiar temperatury pirometrem. (x3) 31. Sprawdzenie prawa Stefana-Boltzmanna.

32. Wyznaczanie stałej Stefana-Boltzmanna.(x2)

48. Wyznaczanie stałej Plancka na podstawie charakterystyk diod elektroluminescencyjnych.(x7) 107. Wyznaczanie stałej Plancka na podstawie prawa Plancka promieniowania ciała doskonale

czarnego.

Stanowisko 8

107 lub 48/2

Stanowisko 7

48/1 lub 30/3

Stanowisko 6

32/2 lub 48/4

Stanowisko 5

48/3 lub 31

Stanowisko 4

48/6

Stanowisko 3

30/2 lub 48/5

Stanowisko 2

32/1 lub 48/7

Stanowisko 1

30/1

Stanowisko 9

65/3

Stanowisko 10

52/1

Cytaty

Powiązane dokumenty

Światło można traktować zarówno jako zbiór cząstek (fotonów) wylatujących ze źródła światła i poruszających się po liniach prostych (korpuskularna teoria

Patrząc przez lunetkę należy uzyskać ostry obraz tej szczeliny (prążek żółty) co oznacza, że wiązka światła wychodząca z kolimatora jest wiązką równoległą. Można

Kulka tocząc się porywa ze sobą warstewki cieczy w wąskiej szczelinie, jaka istnieje między kulką i ścianką rurki, występuje poślizg warstewek i pojawia się opór lepkości F l

Przez obrót śruby mikroskopu przesuwać stolik do momentu uzyskania maksymalnie ostrego obrazu brzegu rysy znajdującej się na dolnej powierzchni płytki.. Przesunąć stolik

Punkt O’ jest pozornym obrazem punktu O, zaś h jest pozorną grubością widzianą przez tego obserwatora.. Jest ona mniejsza od rzeczywistej grubości

Wyznaczanie współczynnika załamania metodą refraktometru i za pomocą mikroskopu.(x2) 81.. Wyznaczanie promienia krzywizny soczewki i długości fali świetlnej za

WYZNACZANIE WSPÓŁCZYNNIKA ZAŁAMANIA ŚWIATŁA METODĄ POMIARU POZORNEJ GRUBOŚCI PŁYTKI ZA PO- MOCĄ MIKROSKOPU ORAZ ZA POMOCĄ REFRAKTOMETRU ABBEGO DLA CIECZY.. Cel

Dobrym sposobem obserwowania zjawiska interferencji jest zestaw złożony z płytki szklanej i soczewki płasko-wypukłej.. Za pomocą takiego zestawu można uzyskać na przemian jasne