• Nie Znaleziono Wyników

3. Adsorpcja na granicy faz ciecz–gaz

4.1. Otrzymywanie mono- i multiwarstw LB

4.3.2. Desorpcja monowarstw

%\áDMX*RW\PPRZD*HZarstwy LB kwasów alifatycznych nanoszone z czystej ZRG\ V PQLHM VWDELOQH QL* ZDUVWZ\ /% QDQRV]RQH ] UR]FLHF]RQHJR ×10–4

M) roztworu CdCl2 (por. p. 4.2.1).:\NRQXMFEDGDQLDVWDELOQRFLQDQLHVLRQ\FKZDUVWZ

kwasu araFKLGRZHJRWHFKQLNVLáSRZLHU]FKQLRZ\FK&ODHVVRQL%HUJVWZLHUG]LOL,*H VLá\ SU]\OHJDQLD PLG]\ JUXSDPL K\GURILORZ\PL D SRGáR*HP V GX*R ZLNV]e w

przySDGNXVXEID]\]DZLHUDMFHM&G&O2 [soli (–COO)2 Cd2+@QL*ZSU]ypadku czystej

wody (czystego kwasu (–COOH)) [243]. JHOL S+ VXEID]\ MHVW PQLHMV]H RG  WR PLG]\ warstwami arachidanu kadmu nie ma odpychania elektrostatycznego.

Kinetyk termicznej desorpcjiZDUVWZ/%ÄNODV\F]Q\FK´F]VWHF]HNDPILILOowych

(np. NZDVyZ WáXV]F]RZ\FK  RSLVXMH VL ]D]Z\F]DM ]D SRPRF UyZQDQLD I U]GX, ale

energia aktywacji ]DOH*\ RG XNáDGX F]VWHF]ND DPILILORZD–SRGáR*H L JUXERFL

ZDr-stwy. Desorpcja ]H]áRWDwarstwy LB zaZLHUDMFHM 12 monowarstw kwasu arachido-ZHJRFKDUDNWHU\]XMHVL np.HQHUJLDNW\ZDFMLH9SRGF]DVJG\energia

aktywa-cji desorpaktywa-cji kwasu stearynowego (6 monowarstw) wynosi 0,2 eV [244]. Reakaktywa-cji I U]GX PR*QD VL VSRG]LHZDü, gdy F]VWHF]NL] konNUHWQHMPRQRZDUVWZ\GHVRUEXM

dopiero wtedy, JG\]GHVRUEXMF]VWHF]NLOH*FHEH]SRUHGQLRQDGQLPL> 246].

aso-cjacji (np. dimeryzacji) i w

SURFHVLHGHVRUSFMLELRUMX*XG]LDáGLPHU\DSURFHVRSi-sywany jest równaniem kinetycznym IIU]GX>@

OGG]LDá\ZDQLDPLG]\F]VWHF]NRZHZZDUVWZDFK/% PR*QDSRG]LHOLüQDRGG]La-

á\ZDQLDYDQGHU:DDOVDPLG]\áDFXFKDPLZJORZRGRURZ\PLLRGG]LDá\ZDQLDHOHk-trostatyczne PLG]\ hydrofiloZ\PL JáyZNDPL 3RQLHZD* Z]JOGQ\ XG]LDá W\FK GZX RGG]LDá\ZD]DOH*\RGGáXJRFLáDFXFKyZZJORZRGRURZ\FKUR]VGQHEG]LH]DáR*e-QLH*HZNZDVLHDUDFKLGRZ\P $$ RGG]LDá\ZDQLDYDQGHU:DDOVDEGVLlQLHMV]HQL* ZNZDVLHVWHDU\QRZ\P 6$ -HOL]DWHPWHPSHratura potrzebna do zerwania wi]DYDQ GHU:DDOVDEG]LHZ\VWDUF]DMFRZ\VRND, aby UR]HUZDüZL]DQLDHOHNWURVWatyczne (AA),

toF]VWHF]NLEGGHVRUERZDüNROHMQRMHGQDSRGUXJLHMzgodnie z równaniem

kinetycz-nym IU]GX-HOLQDWRPLDVWZL]DQLDYDQGHU:DDOVDEG]U\ZDQHZWHPSHUDWXU]HZ NWyUHMZL]DQLDHOHNWURVWDW\F]QHMHV]F]HLVWQLHM (SA), to QDVWSL dimeryzacja i desorpcja

dimerów, co EG]LHVLSU]HMDZLDüNLQHW\NIIU]GX>@

6WUXNWXUDáDFXFKyZZJORZRGRURZ\FK

na granicy faz ciecz–gaz i na podáR*DFKVWDá\FK

IzotermaVSU*DQLD izoterma π–A), podstawowe(UyGáo informacji o przyGDWQRFL

substancji do tworzenia nierozpuszczalnych warstw powierzchniowych,SRZLQQDVL VNáDGDü]WU]HFKRGFLQNyZRSLVXMF\FKWU]\VWDQ\ID]RZHZDUVtwy: stan dwuwymia- URZHJRJD]XGZXZ\PLDURZHMFLHF]\LGZXZ\PLDURZHJRFLDáDVWDáHJR)D]\WHZy- UD(QLHVLUy*QLZDUWRFLZVSyáF]\QQLNDFLOLZRFLNWyU\QSGODID]\FLHNáHMVNRn-GHQVRZDQHM /& ZDKDVLPLG]\DLMHVWRNRáRUD]\ZLkszy ni*GOD

ID]\VNRQGHQVRZDQHM 6 :U]HF]\ZLVWRFLREUD]ID]RZ\MHVWGX*REDUG]LHMVNRPSOi-kowany, a PLG]\ fazami LC i SLVWQLHMID]\SRUHGQLH takie MDNID]DFLHNáDQLHXSo-U]GNRZDQD RULHQWDF\MQLH /(  ID]D FLHNáD VNRQGHQVRZDQD RULHQWDF\MQLH

XSRU]d-kowana (CS F]\Z\VRNRFLQLHQLRZDID]DFLHNáD /6, ang. Liquid Superfluid) [248]. )D]DWDFKDUDNWHU\]XMHVLZVSyáF]\QQLNLHPFLOLZRFLWDNPDá\PMDNGODID]\VNRn-GHQVRZDQHMLG]LHVLüUD]\ZLNV]Sá\QQRFLQL*ID]DFLHNáDpod niskimFLQLeniem. &]VWHF]NL XVWDZLRQH V SUDZLH SURVWoSDGOH GR SRGáR*D L PRJ E\ü WUDNWRZDQH MDN

swobodne rotatory [249].

Na rysunkuSRND]DQRZ\LGHDOL]RZDQ\GLDJUDPID]RZ\GáXJRáDFXFKRZ\FK

kwasów alifatycznych, VSRU]G]RQ\ na podstawie wyników wielu pomiarów [250]. 2EHFQRü IDz ,L*2 L2h oraz L2d RSLVDQ\FK QD GLDJUDPLH NXUV\Z wymaga jeszcze

potwierdzenia eksperymentalnego, ale ich istnienie jest ]JRGQH ] WHRUL > @

DaneVWUXNWXUDOQHGRW\F]FHSU]HGVWawionych faz zebrano w tabeli 4 1. Fazy LS, L2, i

L ,

L′2 2′′ &6 ]RVWDá\ zidentyfikowane QD SRGVWDZLH L]RWHUP VSU*ania. Wszystkie te ID]\ D WDN*H ID]\ 2Y L 6 PR*QD WDN*H LGHQW\ILNRZDü ]D pomoc takich technik

optycznych, MDNPLNURVNRSLDSRGNWHP%UHZVWHUDF]\PLNURVNRSLDIOXRUHVFHQF\MQD

PozostDáHID]\– L , 1′ L2d, L2h, S′ i L *2 ]RVWDá\zaproponowane na podstawie badania

Rys. 4.32. W\NUHVID]RZ\NZDVyZDOLIDW\F]Q\FK*UXEHFLJáHOLQLHZ\]QDF]RQo

z pomiarów rentgenowVNLFKRSW\F]Q\FKL]SRPLDUXL]RWHUPVSU*DQLD

Cienkie linie FLJáHZ\]QDF]RQH]SRPLarów optycznych i rentgenowskich,

cienkie przerywane ]D z pomiarów rentgenowskich. 2EHFQRüID]/2h oraz L2d,

FKRFLD*Z\PDJDSRWZLHUG]HQLDQLHjest sprzeczna]]áR*Hniami teoretycznymi

Tabela 4.1. Charakterystyka strukturalna warstw Langmuira

GáXJRáDFXFKRZ\FKNZDVyZDOLIDW\Fznych, faz pokazanych na rysunku 4.32e . Faza Rodzaj sieci 8SRU]GNRZDQLH áDFuchów

(skala T)

NaFK\OHQLHáDcuchów

(skala π) LS heksgonalna nieSRU]GHNURWDF\MQ\ SURVWRSDGáH

Ov SURVWRNWQDKHNVDJRQDOQDa QLHSRU]GHNURWDF\MQ\ NNNf L2d SURVWRNWQDKHNVDJRQDOQDa QLHSRU]GHNURWDF\MQ\ NN 1 L SURVWRNWQDKHNVDJRQDOQDa QLHSRU]GHNURWDF\MQ\ NNNNN S SURVWRNWQD QLHSRU]GHNVWDW\cznyb SURVWRSDGáH * 2 L SURVWRNWQD XSRU]GNRZDQLHUyZQROeJáHc NNN L2h SURVWRNWQD XSRU]GNRZDQLHUyZQROeJáHa NN CS SURVWRNWQDXNRQDd XSRU]GNRZDQLHFKRLQNowe SURVWRSDGáH S SURVWRNWQDXNRQDd XSRU]GNRZDQLHFKRLQNowe NNN 2 L′′ SURVWRNWQDXNRQDd XSRU]GNRZDQLHFKRLQNowe NN a&]VWHF]NLWZRU]JVWRXSDNRZDQVLHüKHNVDJRQDOQZSáDV]F]\(QLHSURVWRSaGáHMGRLFKGáXJLFKRVL b:ND*G\PZ(OHVLHFLV]NLHOHWáDFXFKDSRVLDGDGZLHUyZQRFHQQHRULHQWDFMH c6]NLHOHW\áDFXFKyZVXSRU]GNRZDQHUyZQROHJOHGRVLHELH d1LHMHVWSHZQHF]\XSRU]GNRZDQLHFKRLQNRZHáDFXFKyZWZRU]\VLQDED]LHVLHFLSURVWRNWQHMF]\XNRQHM e.XUV\Z]D]QDF]RQRSURSRQRZDQHID]\NWyU\FKLVWQLHQLHQLH]RVWDáRMHV]F]HSotwierdzone.

fNN oznacza QDMEOL*V]\FKVVLDGyZ, a NNN – QDVWSQ\FKQDMEOL*V]\FKVVLDGyZ.

:]DOH*QRFLRGFLQLHQLDSRZLHU]FKQLRZHJRLWHPSHUDWXU\ZZDUVWZLH/DQJPu-

MDNL,,U]GXMR*QDSU]\Mü*HMHOLSU]HNUyMK\GUo-ILORZHMJáyZNLF]VWHF]NLMHVWPQLHMV]\QL*SU]HNUyMáDFXFKDZJORZRGRURZHJR QS

dla grupy OH), to pod wysokim FLQLHQLem powierzchniowym (ZLNV]\P QL* 30

mN⋅m–1  QD V\PHWUL XNáDGX ZSá\ZD JáyZQLH KHNVDJRQDOQD V\PHWULD XNáDGX áDFu- FKyZ-HOLQDWRPLDVWSU]HNUyMJáyZNLMHVWZLNV]\QL*SU]HNUyMáDFXFKD,WRZXNáa-

G]LHáDFXFKyZSRMDZLDVLVZRERGDUXFKX LURWDFML FRSRZRGXMH*HPLPR]DFKo-wania heksagoQDOQHJR XNáDGX JUXS K\GURILORZ\FK QDSRZLHU]FKQLVWUXNWXUDXNáDGX áDFXFKyZWUDFLV\PHWUL áDFXFK\PRJVLnachylDü ,DXNáDGWDNLPR*QDQD]ZDü XNáDGHP SVHXGRKHNVDJRQDOQ\P : SU]\SDGNX GáXJRáDFXFKRZ\FK ]ZL]NyZ

DOLIa-tycznych obszary plateau Z\VWSXMFHQDL]RWHUPDFKREUD]XMSU]HPLDQ\VWUXNWXUDOQH ]DFKRG]FH Z SáDV]F]\(QLH ZDUVWZ\, QS SU]HMFLH RG ID]\ KHNVDJRQDOQHM GR ID]\ SVHXGRKHNVDJRQDOQHM]DJLFLDL]RWHUPREUD]XMnatomiast

]PLDQQDFK\OHQLDáDFu-chów [252].

3RGVWDZRZD Uy*QLFD PLG]\ ZDUVWZ ]QDMGXMF VL QD SRZLHU]FKQL ZRG\ L QD

powierzchni ID]\VNRQGHQVRZDQHMSROHJDQDVLOHRGG]LDá\ZDQLDF]VWHF]NLDPILILOo-ZHM]SRGáR*HP:SU]\SDGNXZDUVWZ/%MHVWRQRZLNV]HQL*ZSU]\SDGNXZDUVWZ

Langmuira,WDN*HQDZHWMHOLURWDFMDáDFXFKyZDOLIDW\F]Q\FKZZDUVWZDFK/%MHVW PR*OLZDWRSURZDG]LRQD]Dzwyczaj do powstania, kosztem energii ok. 20–30 kJ/mol, ZL]DW\SXgauche [253]18

i usztywnienia struktury.

6]F]HJyáRZ\FK LQIRUPDFMLVWUXNWXUDOQ\FKRSRáR*HQLuLRULHQWDFMLF]VWHF]HNOXE

grup chemicznych w warstwie LB  GRVWDUF]DM takie techniki, jak ugicie promieni

Roentgena [32, 254], dyfrakcja neutronów [255] lub dyfrakcja elektronów [256]. Wprawdzie zgodQRüGRSDVRZDQLDWHRUHW\F]QHJRGRU]HF]\ZLVW\FKUHIOHNVyZ%UDJJD

jest dla elektronów PQLHMV]DQL*GODSURPLHQL5RHQWJHQD, to jednak G]LNLPR*OLZRci

badania SRMHG\QF]\FK PRQRZDUVWZ QD SRGáR*DFK R GX*HM SRZLHU]FKQL U]GX NLONX

cm2 WHFKQLNDWD>@MHVWUyZQLHF]VWRVWRVRZDQDMDNWHFKQLNDXJLFLDSUomieni X. '\IUDNFMHOHNWURQyZ po raz pierwszy zastosowano do badania pojedynczych warstw /%NZDVyZDOLIDW\F]Q\FKLLFKVROLMX*Zroku [258]. Obecnie stosXMHVL

tech-nikdyfrakcji transmisyjnej (TED, ang. Transmission Electron Diffraction) i WHFKQLN

odbiciow wysokoenergetycznych elektronów (RHEED, ang. Reflection High-Energy

Electron Diffraction). Technika transmisyjna wymaga specjalnego przygotowania

próbek –QDQLHVLHQLDLFKQDSRNU\WZJOHPVLDWNPLNURVNRSRZNajpierw osadza VLZDrVWZQDDQRGRZRXWOHQLRQ\PSRGáR*XDOXPLQLRZ\P,DQDVWSQLHZ\WUDZLDVL

aluminLXP Z UR]WZRU]HFKORUNXUWFL,ZDUVWZ]Dprzenosi VLQDVLDWNPLNURVNo-SRZ >@ 'OD PDWHULDáyZ NWyUH VXEOLPXM pod QLVNLP FLQLHQLem SDQXMF\P Z

mikroskopie elektronowym, zaproponowano, aby warstwy LB umieszczaü PLG]\

cienkimi foliami octanu celulozy [260]. THFKQLND 5+((' QLH MHVW WDN Z\PDJDMFD

pod wzgldem przygotowania próbek jak technika TED i PR*OLZH MHVW badanie ZDUVWZQDQLHVLRQ\FKQDUR]PDLWHSRGáo*D>@

__________ 18

7\SRZD ZDUWRü HQHUJLL XUXFKRPLHQLD URWDFML Z ZDUVWZLH ZJORZRGRUyZ DOLIDW\F]Q\FK QD

%DGDQLDG\IUDNF\MQHSRND]Dá\*HXSDNRZDQLHLXSRU]GNRZDQLHZZDUVWZDFK/%

w znaczn\PVWRSQLX]DOH*\ od rodzaju VXEVWDQFMLLZDUXQNyZ FLQLHQLD QDQRV]HQLD

C]VWHF]NL R GáXJLFK QLHVNRF]RQ\FK  áDFXFKDFK PRJ WZRU]\ü Z ZDUVWZDFK /% WU]\VWUXNWXU\RUWRURPERZ 5 MHGQRVNRQ 0 LWUyMVNRQ 7 RSUDZLHMHGQDNo-ZHMJVWRFLXSDNRZDQLDF]VWHF]HN*G\áDFXFK\VNUyWV]HPR*OLZHMHVWLVWQLHQLH NLONXRGPLDQV\PHWULLSRGVLHFLFKDUDNWHU\]XMF\FKVLUy*Q\PLZVND(QLNDPL0LOOHUD SáDV]F]\]QPLG]\ warstwami czasteczek. SWUXNWXUD0  R]QDF]DVWUXNWXUMHGQo-VNRQ R SáDV]F]\(QLH   UyZQROHJáHM GR SRGáR*D ,QWHUHVXMFH ]HVWDZLHQLH Go-SXV]F]DOQ\FKIRUPXSDNRZDQLDRUD]NWyZPLG]\QRUPDOQGRSRGáR*Da normalQ GRSáDV]F]\]Q\  RUD]RVLáDFXFKDGODGáXJRáDFXFKRZ\FK]ZL]NyZDOLIDW\Fz-Q\FKSRGDM3HWHUVRQL5XVVHO>@$XWRU]\ZEDGaniach struktury warstw LB

kwa-su 22-WULNR]HQRZHJRSRVáXJLZDOLVL]DUyZQRWHFKQLN7(', jak i RHEED i doszli do ZQLRVNX *H ZDUVWZ\ WHJR NZDVXE\á\ZLVWRFLHSROLPRUILF]QHDLFKVWUXNWuUDGRü Z\UD(QLH]DOH*DáDRGwarunków eksperymentalnych nanoszenia warVWZ\1DMF]FLHM VSRW\NDQVWUXNWXURND]aáDVLVWUXNWXUD5  

1DU]G]LHPbardzo przydatnym w badaniach strukturalnych warstw LB, a

]ZáDVz-cza RULHQWDFMLZ\Uy*QLRQ\FKIUDJPHQWyZáDFXFKyZDOLIDW\F]Q\FKRUD]JUXSIXQNF\j-Q\FKF]VWHF]HNDPILILORZ\FKwzglGHPSRZLHU]FKQLSRGáR*D, jest UyZQLH*spektro-VNRSLDZSRGF]HUZLHQL>@8*\FLHVSRODU\]RZDQHJRSURPLHQLRZDQLD,5XPR*OLZLD EDGDQLHV]F]HJyáyZRULHQWDFMLQDZHWSRV]F]HJyOQ\FKZL]DFKHPLF]Q\FK,SRQLHZD* DEVRUSFMD SURPLHQLRZDQLD SRGF]HUZRQHJR R F]VWRFL ]EOL*RQHM GR F]VWRFL GUJD ZáDVQ\FKF]VWHF]NL]DOH*\RGZ]DMHPQHMRULHQWDFMLZHNWRUDHOHNWU\F]QHJRIDOLHOHk-WURPDJQHW\F]QHMLPRPHQWXGLSRORZHJR PRPHQWXSU]HMFLD F]VWHF]NL7HRUetyczne

podstawy absorpcji liniowo spolaryzowanego promieniowania IR przez czsteczki

w RUJDQLF]Q\FK FLHQNLFK ZDUVWZDFK SRGDá &KROOHW >@ 3RGREQLH MDN Z G\IUDNFML HOHNWURQRZHMVWRVXMHVLGZLHWHFKQLNL

badawczeWUDQVPLV\MQLZLHORNURWQHJRRGEi-cia ATR (ang. Attenuated Total Reflection).

0LPR*H w spektroskopii IRVGRVWSQH zaDZDQVRZDQHWHFKQLNLREUyENLV\JQDáX,

takie jak np. szybka tranformata Fouriera, w badaniach bardzo cienkich warstw nadal

SUREOHPHP MHVW EUDN V\JQDáX RG ]ELRUX F]VWHF]HN R OLF]QRFL PQLHMV]HM QL* 16

. Z tego powoduZDUVWZ\/%QDQRVLVLF]VWRz dwu stron na germanowSáDVNRUyw-QROHJáSá\WN i rejestruje widmo ATR, które przypomina widmo transmisyjne, z tym *HSDVPDDEVRUSFMLPDMznacznie PQLHMV]LQWHQV\ZQRü1Drysunku 4.33 pokazano

schemat eksperymentu ATR oraz widma IR kwasu stearynowego otrzyPDQHWHFKQLN WUDQVPLV\MQL$75>@ 3RQLHZD*RVLJQLFLHSRODU\]DFMLLGHDOQLHSURVWRSaGáHMGR SRZLHU]FKQLSá\WNLJHUPDQXQLHMHVWPR*OLZHZLFSRPLDUNWDPLG]\RVLF]VWHFz-NLDSRGáR*HPtechnik ATR jest obarczonyGRüGX*\PEáGHP7DNHQDNDLLQ[264] SRGDM *H Z\]QDF]RQ\ SU]H] QLFK NW nachylenia F]VWHF]HN NZDVX VWHDUynowego Z]JOGHP QRUPDOQHM GR SRZLHU]FKQL SRGáR*D wynosi 24–35°. BDGDQLH SRáR*Hnia

i LQWHQV\ZQRFLSDVPDEVRUSFML]ZL]DQ\FK]GUJDQLDPLZL]DD]ZáDV]F]D drganiami UR]FLJDMF\Pi CH (2800–3000 cm–1

GUJDQLDPLVNUFDMF\PLLZDKDGáRZymi grup –

CH2– (1100–1500 cm–1), D WDN*H GUJDQLDPL UR]FLJDMFymi grup C=O (ok. 1700 cm–1

pozwala na precyzyjne RNUHOHQLH XVWDZLHQLD F]VWHF]HN Z ZDUVWZLH /% Z]JOGHP

podáR*D>@

Rys. 4.33. Widmo IR warstwy LB (33 monowarstwy) kwasu stearynowego.

/LQLDFLJáD– widmo ATR, linia przerywana – Rœœ, linia kropkowana – R [256]

Wyniki te ]RVWDá\SRWZLHUG]RQHZFDáHMUR]FLJáRFLWHFKQLNG\IUDNFMLSURPLHQL

Roentgena – NEXAFS (ang. Near Edge X-Ray Fine Absorption Structure) [265], na podstawie której PR*QD Z\SURZDG]Lü Z]yU RNUHODMF\ naFK\OHQLH áDFXFKyZ Z

glowodorowych w warstwie LB: D R n -= tg

gdzie Φ MHVW NWHP naFK\OHQLD áDFXFKD Z]JOGHP QRUPDOQHM GR Sowierzchni, R –RGOHJáRFLGUXJLFKVVLHGQLFKDWRPyZZJODZáDFXFKX R = 0,252 nm), a D jest UyZQRZDJRZ RGOHJáRFL YDQ GHU :DDOVD PLG]\ áDFXFKDPL D = 0,424 nm [266]).

Zgodnie z podanym równaniemNW\nachylHQLDáDFXFKyZSRZLQQ\SU]\ELeUDüZDUWRFL

0, 30,7°, 49,9° itd. Nachylenie bywa QD RJyá VSU]*RQH ] UoWDFM áDFXFKD GRRNRáD RVL F]VWHF]NLZLFREVHUZRZDQ\NWnachylHQLDPR*HE\üQLHFRLQQ\QL*RF]ekiwany.

Spektroskopia w podczerwieni, a ]ZáDV]F]DWHFKQLND$75]SRZRG]HQLHPVáX*\GR

badania procesu polimeryzacji w warstwach LB [12, 203, 264]. RHJXODUQHXáR*HQLHF]

VWHF]HN]SHZQQLHZLHONVZRERGURWDFML]QDF]QLHSU]\VSLHV]DV]\ENRüUHDNFMLSROLPe-ryzacji. 3U]HELHJD ZLF RQD Z ZDUVWZDFK /DQJPXLUD ]QDF]QLH áDWZLHM L V]\EFLHM QL*

w wielowarstwowych strukturach LB [267@0R*QDZLFVG]Lü*HRSWymalne upakowanie F]VWHF]HNPRQRPHUXZZDUVWZLHNWyUDPDE\üSRGGDQDSROLPHU\]DFML, powinno przy-SRPLQDüXáR*HQLHF]VWHF]HNFLHNáHJRNU\V]WDáXZID]LHVPHNW\Fznej.

PRPRFQLF] WHFKQLN XáDWZLDMF EDGDQLH VWUXNWXU\ ZDUVWZ /% EDrwników, jest

spektroskopia Ramana, a ]ZáDV]F]DVSHNWURVNRSLD]WUDQVIRUPDW)RXULHUD3RQLHZD*

rozpraszanie Ramana jest z natury PDáRLQWHQV\QHZLF]DVWRVRZDQLHWHMWHFhniki do

o QDMZ\*V]HM F]XáRFL GHWHNFML ] NDPHU &&' XPR*OLZLD WDN*H otrzymanie

nie-wzmocnionego widma ramanowskiego [268]. Jednak zazwyczaj RVLJD VL wzmoc-QLHQLH V\JQDáX (powierzchniowe wzmocnienie Ramana) przez naniesienie warstwy /% QD SRZLHU]FKQL PHWDOu szlachetnego – ]áRWa lub srebra. 0LPR *H mechanizm

wzmocnienia nie jest jeszcze dobrze poznany teoretycznie, powszechnie uznaje si*H JáyZQMHJRSU]\F]\QMHVWSRORZHZ]PRFQLHQLHLQWHQV\ZQRFLSURPLHQLRZDQLDSa-GDMFHJRLUR]SURV]RQHJR>@QDQLHUyZQRFLDFKSRwierzchni. Wymaga to

specjal-nego sposobuSU]\JRWRZDQLDSRZLHU]FKQLPHWDOXV]ODFKHWQHJRQDNWyU\SU]HQRVLVL ZDUVWZ0HWRGIRWROLWRJUDILF]QQDQRVLVLQDQLUHJXODUQHQLHUyZQRFLZSostaci

„rys”, WDN*HSU]\SRPLQDRQDVLDWNG\IUDNF\MQ3RND]DQR*HQDW*HQLHV\JQDáX5a-PDQDQLH]DOH*\RGJUXERFLZDUVWZ\, co potwierdza*H pochodzi on od F]VWHF]HN

warstwy zlokalizowanych na poZLHU]FKQLSRGáR*D

=HZ]JOGXQDWR*HZ]EXG]HQLHF]VWHF]NLSURPLHQLRZDQLHP z zakresu bliskiego

IR nie powoduje wzmocnienia Ramana, zastosowanie transformaty Fouriera pozwala

QD REVHUZDFM GUJD QLH ]ZL]DQ\FK ] SU]HMFLDPL HOHNWURQRZ\PL Z F]VWHFzce

chromoforu [270].

%H]SRUHGQL L QDW\FKPLDVW RVLJDQ LQIRUPDFM R VWUXNWXU]H ZDUVWZ /% PR*QD WDN*HRWU]\PDüSU]H]LFKREVHUZDFM

PLG]\VNU]\*RZDQ\PLSRODU\]DWRUDPLSRGPi-kroskopem optycznym [271]. Jednak badanaZDUVWZD/%SRZLQQDPLHüGRü]QDF]Q JUXERüok. 500 nm, a wówczas jest QDRJyáZLGRF]QD tylko jedna orientacja krystali-WyZ NWyUD SU]\QDMPQLHM F]FLRZR MHVW Z\PXV]RQD przez warunki nanoszenia

i VWUXNWXU SLHUZV]HM QDQLHVLRQHM ZDUVWZ\ 7DNL HSLWDNVMDOQ\ VSRVyE Sowstawania

warstw LB E\á REVHUZRZDQ\ ]DUyZQR Z SU]\SDGNX QDQRV]HQLD NZDVyZ

WáXV]F]o-wych [270, 271], MDN L EDUZQLNyZ >@ -HOL MHGQDN SLHUZV] warstw osadzono PHWRG FKHPLVRUSFML to epitaksjalne uáR*HQLH NROHMQ\FK ZDUVWZ QLH Z\VWSRZDáR.

PodNUHODWRRF]\ZLVW\IDNW*HVWUXNWXUDMHGQRZDUVWZRZ\FKSRNU\üSRZVWDá\FKSU]H] FKHPLVRUSFMQLHPDQLFZVSyOQHJR]HVWUXkWXUZDUVWZ\/%>@

ZGROQRüVXEVWDQFMLWZRU]Fych warstwy LB do akomodaFMLLOLQLRZHJRXNáDGDQLD F]VWHF]HN FLHNáHJR NU\V]WDáX PR*H E\ü wykorzystana do badania zdefektowania ZDUVWZ/%:WHMWHFKQLFHZDUVWZD/%VáX*\MDNRMHGQD]HFLDQHNZNRPyUFHFLe-NáRNU\VWDOLF]QHM L MHVW REVHUZRZDQD Z ZLHWOH RGELW\P OXE SU]HFKRG]F\P SRG Pi- NURVNRSHPSRODU\]DF\MQ\P>@7HFKQLNDWDV]F]HJyOQLHGREU]HQDGDMHVLGRV]\b-NLHM RFHQ\ XV]NRG]H ZDUVWZ /% R GX*HM SRZLHU]FKQL SRZVWDMF\FK Z WUDNFLH

nanoV]HQLD]ZáDV]F]D*HEDGDQDZDUVWZD/%QLHPXVLE\üJUXED

'RVNRQDá\RSLVWHFKQLNGRW\F]F\FKEDGDQLDVWUXNWXU\ZDUVWZSRZLHU]FKQLowych oraz SURFHVyZ]DFKRG]F\FKQDSRZLHU]FKQLRSXEOLNRZDOLRVWDWQLR0öbius i Miller [274].

4.4. 3RPLDUJUXERFLZDUVWZ/DQJPXLUD–Blodgett

3HUVSHNW\ZD ]DVWRVRZDQLD ZDUVWZ /% L EXGRZ\ XNáDGyZ ] warstw

mono-molekularnych

[76], jednak F]ü ] QLFK QLH GDMH EH]SRUHGQLHJR wyniku i wymaga zastosowania

dodatkowych technik pomiarowych. W kilku metodach optycznych potrzebna jest np. znajoPRü ZVSyáF]\QQLND ]DáDPDQLD ZLDWáD PDWHULDáX D Z PHWRG]LH HOHNWU\F]QHM SROHJDMFHMQD pomiarzeSRMHPQRFL]QDMRPRüSRGDWQRFLHOHNWU\F]QHM'RNáDGQRü

metody interferHQF\MQHM Z\VWDUF]DMFD dla warstw o JUXERFL NLONXG]LHVLciu nm, VWDMHVLzbytPDáD, gdy VWRVXMHVLMGRSRPLDUXJUXERFL cienkich warstw

monomo-lekularnych. Z D]Z\F]DMRNUHODVLMSU]H]EDGDQLHVWDQXSRODU\]DFMLEG(LQWHQV\w-QRFLVSRODUyzowanej liniRZRIDOLZLHWOQHMRGELWHMRGZDUVWZ\/%:rozdziale tym

omówiono PHWRG\SRPLDURZHNWyU\FKSRGVWDZWHRUHW\F]QVWDQRZLNRQZHQFMRQDl-QDWHRULDRGELFLDSáDVNLHMIDOLHOHNWURPDJQHW\F]QHMRGRURGNDFKDUDNWHU\]XMFHJRVL VWUXNWXUZDUVWZRZ1LH]Z\NOHLVWRWQHMHVW*HEDGDQHZDrVWZ\PDMJUXERüGX*R PQLHMV]RGGáXJRFLIDOLZLDWáDX*\WHJRZHNVSHU\PHQFLH,JG\*XPR*OLZLD to

zasto-sowanie metod perturbacyjnych do analizy problemu odbicia.