O bliczanie param etrów charakteryzujących analizow aną strukturę na podstaw ie wy
ników przeprow adzonych pom iarów odbyw a się w edług ściśle określonych reguł. Pozwala to na daleko id ącą autom atyzację tego procesu. W w ielu profesjonalnych program ach do analizy obrazu jedynym elem entem tego procesu, gdzie m ożliw a je s t ingerencja człowieka, je s t w ybór zestaw u param etrów , które m ają być w yznaczone. Pozostałe działania przejm uje program . Rów nie sform alizow ane s ą sposoby przedstaw iania w yników badań rutynowych prow adzonych w w arunkach przem ysłow ych. D ecydujący w pływ na form ę raportów z tych badań m ają ustalenia m iędzy producentem a odbiorcą danego w yrobu oraz odpow iednie norm y. Ten stan w ym usza stosow anie przez w szystkich podobnych narzędzi badaw czych, jed n ak utrudnia w prow adzenie do praktyki now oczesnych i now atorskich m etod oceny i opisu struktury oraz sposobów prezentacji uzyskanych w oparciu o nie w yników . Dlatego w badaniach poznaw czych sform alizow ane reguły obow iązujące w praktyce przem ysłow ej zastępow ane są przez kryterium czytelności i użyteczności. O znacza to, że forma p rzedstaw iania w yników ilościow ej oceny struktury pow inna zapew nić [10]:
• pełne w ykorzystanie inform acji o badanej strukturze zaw artych w uzyskanych w ynikach,
• takie zobrazow anie głów nych cech struktury i je j zróżnicow ania w objętości badanego lub liczbę m ierzonych elem entów struktury w różnych klasach w ielkości pola pow ierzchni ich płaskiego przekroju. D ecydujący w pływ na kształt tych rozkładów w yw ierają wyniki uzyskane d la dom inujących liczbowo obiektów. D latego pojaw ienie się w strukturze pojedynczych obiektów naw et bardzo znacznie odbiegających od przeciętnych, które m ogą istotnie zm ieniać w łasności użytkow e, nie znajduje sw ojego odzw ierciedlenia na histogram ie.
Przykładow o, rozkłady pola pow ierzchni ziarna dla istotnie różniących się pod w zględem m orfologii i w łaściw ości struktur pow stałych w w yniku rekrystalizacji pierw otnej (rys. 9 .la) i w tórnej (rys. 9 .Ib ) są praw ie identyczne (rys. 9.2a). D opiero porów nanie rozkładów przedstaw iających udział pow ierzchniow y ziarn o różnym polu pow ierzchni pozw ala na ujaw nienie różnic m iędzy tym i strukturam i (rys. 9.2b).
Rys. 9.1. Struktura pręta 0IO mm ze stali 0H13 po wyżarzaniu rekrystalizującym (a) z widocznym i obszarami, w których zaszła rekrystalizacja wtórna (b)
Fig. 9.1. Structure o f 0H13 steel grade bar, 10 mm in diameter subjected to recrystallization annealing (a) with areas of visible secondary recrystallization (b)
30 100 300 1000 3400
Pole płaskiego przekroju ziarna [ pm2]
10 30 100 300 1000 3400 12000
Pole płaskiego przekroju ziarna [pm2]
Rys. 9.2. Rozkłady częstości (a) i udziału powierzchniowego ziam (b) w funkcji pola powierzchni ich płaskiego przekroju wyznaczone dla próbki przedstawionej na rys. 9.1
Fig. 9.2. Frequency distribution (a) and grain area fraction ( b ) as function o f grains plane section area determined for sample shown in fig. 9.1
141
U średnianie w yników ilościow ej oceny struktury w yrobów charakteryzujących się w yraźną m akrosegregacją prow adzi do utraty szeregu w ażnych inform acji dotyczących charakteru oraz stopnia w ystępującej w tym w yrobie niejednorodności. Przedstawianie w yników oddzielnie dla każdego punktu pom iarow ego lub konstruow anie na ich podstawie
Rys. 9.3. Mapy strukturalne przedstawiające zmianę udziału powierzchniowego eutektyk węglikowych na prze
kroju wzdłużnym wlewka Q900 niemodyfikowanej (a) oraz modyfikowanej (b) stali szybkotnącej SKC [10] globalnych charakteryzujących ilościowo strukturę całego badanego w yrobu. Mapy strukturalne m ożna zatem w ykorzystać zarów no do uściślenia w arunków pobierania prób do badań ilościow ych [10], ja k i i do oceny popraw ności zastosow anego procesu technologicznego.
10. PODSUMOWANIE
m ierzone obiekty zostały praw idłow o ujaw nione w końcow ym obrazie binarnym .W rozpraw ie w ykazano (tabela 4.1), że w przypadku niespełnienia tego w arunku najw iększe błędy p ow stają w trakcie pom iaru realizow anego m eto d ą pow ierzchniow ą. Fakt ten należy uw zględnić przy projektow aniu procesu pom iarow ego szczególnie w tedy, gdy nie m a pew ności, że proces detekcji przeprow adzony je s t praw idłow o. W takiej sytuacji korzystniej je s t oprzeć ilościow y opis struktury na pom iarze liniow ym.
W yniki uzyskane m etodam i m etalografii ilościowej popraw nie charakteryzują analizow aną strukturę tylko wtedy, gdy obrazy, na których pom iar ten realizow ano, są reprezentatyw ne dla całego badanego w yrobu. Poniew aż struktura w szystkich m ateriałów w ytw arzanych w w arunkach przem ysłow ych je s t niejednorodna, istotnego znaczenia nabiera m etodyka pobierania prób do badań. D otyczy to w szczególności ustalenia położenia i liczby zgładów m etalograficznych. W rozpraw ie w ykazano, że dla popraw nego przeprow adzenia tej procedury niezbędna je s t w iedza dotycząca historii technologicznej danego w yrobu.
O braz końcow y analizow anej struktury dziedziczy cechy obrazu uzyskanego w trakcie przygotow ania zgładu oraz procesu traw ienia. O cena jak o ści obrazu w yjściow ego w ym aga skom plikow anych procedur, a w ynik detekcji nie zaw sze m usi być w pełni zadow alający.
O bszary obrazu zajm ow ane przez m ierzone elem enty struktury pow inny ch arakteryzo
w ać się jednolitym poziom em szarości w yraźnie różnym od poziom u szarości n ie pod leg ają płytkow ych analizow anych przy niew ielkich pow iększeniach (rys. 4.17). W tedy granice
143
płytek, leżących bliżej siebie niż w ynosi zdolność rozdzielcza m ikroskopu, są postrzegane ja k o je d e n obszar o innym niż tło poziom ie szarości. N iedogodności tow arzyszące klasycznym m etodom traw ienia m ożna zm inim alizow ać poprzez zastosow anie odpow iednich procedur opartych na analizie obrazu. Przykładow o, popraw na detekcja m ierzonych obiektów wtedy, gdy w trakcie traw ienia ujaw nione zo stają tylko ich granice, je s t m ożliw a dzięki użyciu przekształcenia: w ypełnianie otw orów (rys. 6.24).
G eneralnie jed n a k należy przyjąć, że w przypadku m ikroskopii św ietlnej znacznie lepsze efekty, z punktu w idzenia kom puterow ych m etod pom iaru, d a ją odczynniki w ytw arza
ją c e na pow ierzchni zgładu w arstewki interferencyjne (rys. 4.18, 4.20 - 4.21). Zastosowanie tych technik traw ienia (zw anych często traw ieniem barw nym ) je s t polecane, ponieważ nie p ow odują one pow stania reliefu na pow ierzchni zgładu, który w skrajnych przypadkach m oże doprow adzić do całkow itego w ypaczenia w yników ilościowej oceny struktury. Szersze w ykorzystanie traw ienia barw nego napotyka jed n ak na dw ie bardzo pow ażne bariery.
P ierw szą są znacznie w yższe koszty niż w przypadku klasycznego traw ienia chem icznego oraz m ała pow tarzalność uzyskiw anych w yników . D ruga w ynika z tego, że pełne w ykorzystanie inform acji zaw artych w obrazach struktury ujaw nionej poprzez warstewki interferencyjne je s t m ożliw e jed y n ie w tedy, gdy dysponuje się sprzętem pow alającym na przypuszczenie, że taka transform acja prow adzi do pogorszenia w arunków detekcji (rys. 5.1).
M ożna tem u zaradzić stosując w trakcie rejestracji obrazu nie św iatło białe, ale m ono
W obrazach struktury zarejestrow anych przy użyciu technik specjalnych m ikroskopii św ietlnej pojaw ia się znaczny szum inform acyjny (rys. 5.8). O brazy te rzadko zatem spełniają w ym agania staw iane im przez kom puterow e m etody pom iaru. W yjątkiem są obrazy zarejestrow ane w św ietle spolaryzow anym oraz m onochrom atycznym . Skuteczność detekcji w oparciu o pierw sze z w ym ienionych obrazów m ożna istotnie zw iększyć dzięki m ikroskopu skaningow ego. K ażde zjaw isko tow arzyszące oddziaływ aniu pierw otnej w iązki elektronów z pow ierzchnią próbki je s t źródłem inform acji o określonych cechach obserw ow anej struktury. Zatem um iejętne ich w ykorzystanie pozw ala na uzyskanie w ystarczającego kontrastu m iędzy analizow anym i obiektam i oraz tłem (rys. 5.10).
O brazy SEI s ą w m ikroskopie skaningow ym podstaw ow ym źródłem informacji 0 strukturze badanej próbki. D otyczy to zarów no klasycznych obserw acji jakościow ych, ja k 1 m etalografii ilościowej z użyciem kom puterow ych m etod pom iaru szczególnie tw orzyw
jednofazow ych (rys. 5.18 - 5.20). W rozpraw ie w ykazano, że najlepsze w arunki rejestracji elektronów sprężyście w stecznie rozproszonych do tw orzenia kontrastow ych obrazów struktury nietraw ionych próbek tw orzyw w ielofazow ych (rys. 5.22, 5.24, 5.25). Poniew aż nowe m ożliw ości detekcji elem entów struktury nierozróżnialnych na obrazach rejestro
w anych za p o m o cą dotychczasow ych m etod akw izycji (rys. 5.12 - 5.14). Jed n ą z przyczyn utrudniających szersze w ykorzystanie w praktyce tych narzędzi je s t ich duża praco- i czaso
chłonność. W prow adzenie do m etody m appingu zm ian zaproponow anych w rozpraw ie pozw oliło na znaczne skrócenie czasu opartej na niej detekcji (rys. 5.30, 5.31).
C elem w szystkich om ów ionych dotychczas w podsum ow aniu działań je s t uzyskanie struktury zarejestrow anych za p om ocą m ikroskopu św ietlnego i elektronow ego skaningow ego (rys. 6.38, 6.39, 6.41).
K lasyczne m etody korekcji cienia oparte na przekształceniach nieliniow ych s ą skuteczne w przypadku m ateriałów jednofazow ych oraz w ielofazow ych zaw ierających niektóre m etody ilościow ego opisu rozm ieszczenia cząstek dyspersyjnych w przestrzeni R<2)
145
(rys. 6.28), rozdzielania sklejonych obiektów (rys. 6.48) oraz technika H ougha ujawniania liniow ych elem entów struktury (rys. 6.36).
Z a jed en z najw ażniejszych celów rozpraw y uznano udoskonalenie narzędzi pozw alających na rekonstrukcję granic ziarn. A utor rozpraw y pośw ięcił tem u zagadnieniu szereg w cześniejszych prac. W w yniku tego pow stały zm odyfikow ane, bardziej elastyczne procedury ujaw niające granice ziarn. N ajnow sze z nich nazw ane: segm entacja kontrolowana (rys. 6.48, 6.49) oraz rekonstrukcja warunkow a (rys. 6.50) pozw alają na p opraw ną detekcję granic ziarn w strukturze zarów no tw orzyw jedno-, ja k i w ielofazow ych. R ów nie skuteczne są zaproponow ane w rozpraw ie m etody ujaw niania granic bliźniaków (rys. 6.54 - 6.57), kolonii w ydzieleń płytkow ych (rys. 6.58 - 6.61), odtw arzania rzeczyw istych w ym iarów częściowo przesłoniętych cząstek kulistych (rys. 6.63 - 6.64) oraz strefy kryształów słupkowych i rów noosiow ych we w lew ku (rys. 6.62).
W iększość tych procedur zastosow ano do rozbudow y o kolejne elem enty istniejącego w K atedrze N auki o M ateriałach Politechniki Śląskiej od roku 1994 atlasu przekształceń m orfologicznych w ybranych tw orzyw m etalicznych, ceram icznych i kompozytów.
W zw iązku z coraz ściślejszą w spółpracą z K atedrą Stom atologii Śląskiej Akademii M edycznej w atlasie tym przedstaw iono rów nież m ożliw ości, jak ie w zakresie pomiaru w ielkości szczelin m iędzy szkliw em zęba i w ypełnieniem stw arzają m etody analizy obrazu.
O bszar zainteresow ań naukow ych autora rozpraw y spraw ił jed n ak , że w iększość zawartych w atlasie rozw iązań odnosi się do tw orzyw m etalicznych. Z łożoność procedur zastosow anych w atlasie do rozw iązania określonego zagadnienia uzależniona je s t od jak o ści w yjściowego obrazu szarego. Potw ierdzona została zatem teza o dziedziczeniu przez kolejne obrazy, będące w ynikiem zastosow anych przekształceń, cech obrazu w yjściow ego. Uzyskane we w szystkich przypadkach dobre odw zorow anie m ierzonych obiektów w końcow ym obrazie binarnym , m im o niespełnienia w w ielu przypadkach przez w yjściow y obraz szary podstaw ow ych w ym agań staw ianych mu przez kom puterow e m etody pom iaru, świadczy natom iast o podstaw ow ej roli, ja k ą w procesie pom iarow ym odgryw a analiza obrazu.
Pełne w ykorzystanie m ożliw ości badaw czych analizatorów obrazu oraz specjalisty
cznych program ów do ilościowej oceny struktury m ożliw e je s t tylko w tedy, gdy osoba prow adząca pom iar dysponuje odpow iednią w iedzą inform atyczną oraz m ateriałoznaw czą.
C oraz częściej przew aża przy tym pogląd, że decydującą rolę w tym procesie m o g ą i powinni odegrać m ateriałoznaw cy. Tylko oni bow iem są w stanie popraw nie zinterpretow ać końcowy obraz binarny analizow anych obiektów. Potw ierdzeniem słuszności tego poglądu m oże być fakt pow ierzenia przez tak pow ażną organizację, ja k ą je s t D G M (D eutsche G esellschaft für M aterialkunde), prac nad przygotow aniem atlasu przekształceń m orfologicznych obrazów typow ych struktur nie inform atykom , lecz w łaśnie m ateriałoznaw com .
LITERATURA
[1] A dam iec J.: W pływ energii liniow ej łu k u na strukturę i w łaściw ości spoin w ykonyw anych w ysokoenergetyczną m eto d ą spaw ania M A G . R ozpraw a d o kto rska ,
W ydział Inżynierii M ateriałowej, M etalurgii i Transportu, K atow ice 2000.
[2] A therton T.J., K erbyson D.J.: Size invariant circle detection, Im age a n d Vision G esellschaft f ü r M etallkunde, O berursel 1980.
[7] B ystrzycki J., Przetakiew icz W., K urzydłow ski K.J.: B adania m orfologii bliźniaków alloys, M aterials Characterization, 46(2001), s. 1-6.
[10] C w ajna J.: Ilościow y opis struktury stopów narzędziow ych i je g o zastosow anie, Zeszyty N aukow e P olitechniki Śląskiej, H utnictw o z. 39, 1991.
[11] C zem iaw skij K.S.: S tereologija w m ietałłow iedienii, M ietallurgija, M oskw a 1977 using autom atic polishers, LE C O Corporation, 1994.
[15] E xner H .E., H ougardy H.P.: Einführung in die Q uantitative G efügeanalyse, D G M
[18] Friel J.J., Prestidge E.B., G lazer F.: Standard Technical Publication, 1094/1991. discrim inant criterion, M achine Vision a nd A pplications (1998) 10, s. 331-338.
[24] H ahn U., Stoyan D.: Estim ating local surface area density in gradient m aterials, International C onference Q -M AT'97, Warszawa, 16-19.04.1997, s .19-26.
[25] H entrich, M ., V eit P., Stroppe H.: Z ur M etallographie und Fraktographie des duktilen Bruchs ferritisch-perlitischer Stahle, W issenscliaftliche Z eitsch rift d e r TH M agdeburg, 25 H eft 5, 1980, s. 103 - 108.
[26] H odor K., Z ięba P., O lszow ska-Sobieraj B.: M ateriały gradientow e ja k o nowe m ożliw ości w spółczesnej techniki, Inżynieria M ateriałowa, 6(113) 1999, s. 595-600.
[27] H uebner K.J.: A pplication o f color m etallography o f m icrostructural im ages in research studies, Proceedings o f International C onference on the Q uantitative D escription o f M aterials M icrostructure Q M A T ’97, W arszaw a 1997, s.299-305.
[28] H utchinson B., Ryde L., Lindth E.: M etallurgical applications o f electron back- scattering patterns, Sw edish Institute f o r M etals R esearch (praca niepublikow ana).
[29] Immerkaer J.: Som e rem arks on the straight line H ough transform , P attern R ecognition Letters, 19, 1998, s .1133-1135.
[30] Jeulin D ., K urdy M.: D irectional m athem atical m orphology fo r oriented im age Potentiostatcn, A rchiv fiir das Eisenhiittenwesen, 42 (11), 1971, s. 795-798.
[36] M aliński M ., C w ajna J., M okry W.: Procedure for determ ination m inim al num ber o f m easurem ents and for testing results repeatability in quantitative evaluation o f m aterials m icrostructure, P roceedings o f Sixth International Conference
“Stereology an d Im age A nalysis in M aterials S c ie n c e ” ST E R M A T 2000, K raków 20-23.09.2000, s. 259-264.
[37] N air P.S., Saunders A.T, Jr: H ough transform based ellipse detection algorithm . Pattern R ecognition Letters, 17, 1996, s. 777-784.
[38] N old E., O ndracek G.: G askontrastieren von m ehrphasigen W erkstoffen m ikrostruktury stopów odlew niczych, M etalografia'99 II K rajow a K onferencja M etalograficzna pt. : P rzem ysłow e Laboratorium M etalograficzne, U stroń-Zaw odzie, kw iecień 1999, s. 53-61.
[45] R idler T.W ., C alvard S.: Picture T hresholding U sing an Iterative Selection M ethod, SM C(8), No. 8, A u g u st 1978, s. 629-632.
[46] R oskosz S., C w ajna J.: M ethodology fo r obtaining repeatable results o f profilom etric analysis o f sintered carbides fractures, P roceedings o f Sixth International C onference
“Stereology a n d Inuige A nalysis in M aterials S cien c e" S T E R M A T 2000, processing, Course on U niversität Politécnica de C atalunya B arcelona, H iszpania, 10-12. 05. 1993.
[51] Serra J., V incent L.: L ecture notes on m orphological filtering, L es C ahiers du Centre de M orphologie M athém atique de F ontainebleau, 1989.
[52] Soo-C hang Pei, Ji-H w ei H omg: C ircular arc detection based on H ough transform , Pattern R ecognition Letters, 16, 1995, s.615-625
[53] Stone I.C., T sakiropoulos P.: C haracterization o f spatial distribution o f reinforcem ent in pow der m etallurgy route A l/S iC p metal m atrix com posites, Part 1 - T echniques
[58] V ander V oort G.F.: T he W orld Beyond B rightfield llum ination, B uehler Tech-Notes, 1997, volum e 1, issue 3.
[59] V enables J.A ., H arland C.J.: Electron B ack-Scattering Patterns: A N ew Technique for O btaining C rystallographic Inform ation in the Scanning Electron M icroscope, Phil. M ag. 27(1973), s .l 193-1200.
[60] V oss K., Süße H.: Praktische B ildverarbeitung, C arl H anser Verlag M ünchen, Wien 1991.
[61] W ergin W .P., E rbe E.F.: Increasing resolution and versatility in low tem perature conventional and field em ission scanning electron m icroscopy, Scanning M icroscopy, 1991, s.927-936.
[68] l-l B uehler D ialog - M icrostructural A nalysis R eference M anual, 1993.
[69] /-/ G rundlagen der B ildanalyse, Leco Instrum ente GmbH, s. 1-28.
[70] /-/ M essen von Einschlüssen in Stahl, IB A S Applikationslabor, Januar, 1983, s. 1-16.
[71] l-l M orphopericolor im age processing system, Num elec, 1988.
[72] l-l O RK ID A nalysis o f Sheet Steel, Noran Instrum ents A pplication Note
[K7] http://galaxy.uci.agh.edu.pl/~ w m iim /zm m p/pracow nie/pracow nia7/
m etalografiailosciow a.htm l
[K8] http://cs-alb-pc3.m assey.ac.nz/notes/59318/111 .html [K9] http://w w w .agcic.csiro.au/projects/3015C 0/hough
[K10] http://w w w .phys.rug.nl/m k/research/98/interfaces_lasers.htm l
[K l 1] http://w w w .lept-ensam .u-bordeaux.fr/ecs2001/contest.htm l
[W l] C w ajna J., C hrapoński J., M aliński M., Szala J.: Factors affecting the accuracy and precision o f grain size evaluation, International C onference S 4G, Prague, 21.-26.06.1999, (referat zam ówiony).
[W 2] C w ajna J., M aliński M ., Szala J.: A ktualny stan i uw arunkow ania rozw oju m etalografii ilościowej, Inżynieria M ateriałowa, 6(89) 1995, s. 159-171.
[W 3] C w ajna J., M aliński M., Szala J.: Q uantitative M etallography o f H igh-Speed Steels, properties o f conventional and nonledeburitic high-speed steel, A cta Stereol., 1991, 10/1, s. 63-71.
[W7] C w ajna J., Szala J., Jagiełko W.: M etody ilościow ej oceny niejednorodności rozm ieszczenia cząstek fazy dyspersyjnej, I K rajow a K onferencja: "Stereologia w badaniach m ateriałoznaw czych", K raków -W isła 1983, s. 37-46.
[W 8] C w ajna J., Szala J., M aliński M.: Im age processing and image analysis in m aterials skaningu system atycznego i analizy w ariancyjnej do oceny niejednorodności rozm ieszczenia cząstek fazy dyspersyjnej, II K rajow a K onferencja: "Stereologia w badaniach m ateriałoznaw czych", R udy R aciborskie 1986, s. 115-124.
[ W l l ] D uszyk B., Szala J., W iśniew ski A.: N iekonw encjonalne m ożliw ości badaw cze autom atycznego analizatora struktury Q TM 720, II K rajow a K onferencja:
"Stereologia w badaniach m ateriałoznaw czych", R udy R aciborskie 1986, s. 349-355.
[W 12] G rosm an F., H adasik E., Paw licki J., Szala J.: Z astosow anie autom atycznej analizy
[W 15] R ichter J., C w ajna J., Szala J.: Q uantitative assessm ent o f new high-speed steel substrate and PV D w ear-resistant coatings, M aterials Characterization, 46(2001), s .137-142.
"Stereologia w badaniach m ateriałoznaw czych", K raków -W isla 1983, s. 246-255.
[W 20] Szala J., B orow iecka A., Podolski P.: Półautom atyczny analizator struktury technik elektronow ej m ikroskopii skaningow ej dla potrzeb m etalografii ilościowej, Inżynieria M ateriałowa, N r 6 (95) 1996, s. 220-223.
[W 25] Szala J., C w ajna J.: Z astosow anie m etody liniowej do w yznaczania liczby płaskich przekrojów cząstek sferoidalnych na pow ierzchni jednostkow ej zgładu m etalograficznego, Inżynieria M ateriałowa, N r 6, 1984, s. 176-179.
[W26] Szala J.: Instrukcja obsługi program u M et-Ilo, K atow ice 1999 (praca on Spheroidal C ast Iron, Proceedings o f Sixth International C onference “Stereology a n d Im age A nalysis in M aterials S cie n c e ” S T E R M A T 2000, K raków 20-23.09.2000,
[W31] Szala J., O lszów ka-M yalska A.: A pplication o f SEM to Q uantitative E valuation o f M ultiphase M aterials M icrostructure, Proceedings o f International C onference on the Q uantitative D escription o f M aterials M icrostructure Q M A T ’97, W arszawa 1997, s. 523-528.
[W32] Szala J.: P rogram M orfo - instrukcja obsługi, P olitechnika Śląska, K atow ice 1995 (praca niepublikow ana).
[W33] S z a la J., R ichter J.: D idactic PC com puter program : im age processing and im age analysis, STE RM A T'94 IV International C onference "Stereology a n d Im age A nalysis in M aterials Science", P roceedings, B e sk id Śląski, 3 -6 .1 0 .1994, s. 129-134.
[W34] Szala J., R ichter J.: M ethods o f the shading correction in the tw o-phase m aterial structure im ages, Proceedings o f International C onference on the Q uantitative D escription o f M aterials M icrostructure Q M A T ’97, W arszaw a 1997, s.535-540.
[W35] Szala J., R oskosz S.: M ethods o f the autom atic tw in boundaries detection, P roceedings o f International C onference on the Q uantitative D escription o f M aterials M icrostructure Q M A T ’97, W arszawa 1997, s.529-534.
[W 36] Szala J.: S praw ozdanie z pracy BK -209/RM -7/98 na tem at „M etody stereologiczne w badaniach i projektow aniu m ikrostruktury m ateriałów w ielofazow ych” , K atow ice 1998 (praca niepublikow ana).
[W 37] Szala J.: W ykorzystanie m etod analizy obrazu w m ikroskopii, Inżynieria M ateriałow a, N r 3-4 (110-111) 1999, s. 103-111.
[W 38] Szala J.: Zastosow anie m etod analizy obrazu w nauce o m ateriałach i inżynierii m ateriałow ej, Raport z projektu badaw czego K B N N r 7T08A 02509, K atow ice 1998 (praca niepublikowana).
[W 39] V eit P., Szala J., C w ajna J., M aliński M .: M ethode zur Q uantifizierung des G efüges m ehrphasiger W erkstoffe, W issenschaftliche Z eitschrift d er T U "Otto von G uericke"
M agdeburg, 32, H eft 4, 1988, s. 14-20.
[W 40] W iśniew ski A ., Szala J., C w ajna J.: T he System atic S canning and V ariance A nalysis M ethod for Evaluation o f C luster Structures, A cta Stereologica, P roceedings o f The Eighth International Congress f o r Stereology, vol. 11, F ebruary 1992, s. 617-623.
ZAŁĄCZNIKI
Z ałącznik 1.
Z estaw ienie najw ażniejszych param etrów stosow anych w m etalografii ilościow ej [41]
Symbol W ymiar *' Definicja
P Liczba punktów użytych do pom iaru w m etodzie punktowej lub liczba punktowych elem entów struktury
Pp Ułamek punktów „trafiających” w m ierzone elem enty struktury Pl m m '1 Liczba punktów przecięć na jednostkow ej długości linii testującej Pa m m '2 Liczba elem entów punktowej na pow ierzchni jednostkow ej Pv m m '3 Liczba elem entów punktowych w objętości jednostkow ej
L mm Długość elem entu liniowego struktury lub długość linii testującej Ll U dział liniowy analizowanych elem entów struktury
La m m /m m 2 D ługość względna; długość elem entów liniowych na powierzchni jednostkowej
Ly m m/m m 3 D ługość elementów liniowych w objętości jednostkow ej
A m m 2 Pole analizy lub pole płaskich przekrojów analizow anych elementów struktury
S m m 2 Pole powierzchni niepłaskich
Aa Udział pow ierzchniow y analizowanych elem entów struktury Sv m m 2/m m 3 Pow ierzchnia w zględna (właściwa) granic
V m m 3 Objętość analizowanej przestrzeni lub objętość analizow anych elementów struktury
V v Udział objętościowy analizowanych elem entów struktury
N Liczba analizowanych obiektów
Nl m m '1 Liczba analizowanych elem entów struktury na jednostkow ej długości linii testującej
Na mm'2 Liczba analizowanych elem entów struktury na powierzchni jednostkow ej N v m m '3 Liczba analizowanych elem entów struktury w objętości jednostkow ej Kl m m '1 Średnia krzywizna linii
Ka m m '2 K rzywizna względna krzywych zam kniętych Ks m m '1 Średnia krzywizna powierzchni
Kv m m '2 Całkow ita krzyw izna względna powierzchni L mm Średni obwód analizowanych elem entów struktury
A mm2 Średnia powierzchnia płaskiego przekroju analizow anych elem entów struktury
S mm2 Średnia powierzchnia analizowanych elem entów struktury V m m 3 Średnia objętość analizowanych elem entów struktury r mm Średnia cięciw a analizowanych elem entów struktury
*’ W tej kolumnie zamieszczono wymiary- definiowanych wielkości najczęściej używane w stereologii.
C harakterystyka program u M et-llo p rzeznaczonego do analizy obrazu w m etalografii ilościowej
W trakcie ponad dw udziestoletniej pracy naukow ej w zakresie m etalografii ilościowej autor rozpraw y zetknął się z różnym i urządzeniam i w spom agającym i proces pom iarow y.
Z w yjątkiem pierw szych dostępnych w K atedrze N auki o M ateriałach analizatorów obrazu M 0 P - A M 0 3 [W 20] oraz E piąu an t [W 22] w szystkie później zainstalow ane urządzenia (Q T M 720. P erico lo r, M orph opericolor) sterow ane były kom puterow o w oparciu o specjali
Z w yjątkiem pierw szych dostępnych w K atedrze N auki o M ateriałach analizatorów obrazu M 0 P - A M 0 3 [W 20] oraz E piąu an t [W 22] w szystkie później zainstalow ane urządzenia (Q T M 720. P erico lo r, M orph opericolor) sterow ane były kom puterow o w oparciu o specjali