• Nie Znaleziono Wyników

STOPNIE I TYTUŁY NAUKOWE

VIII. KATEDRA OPTOELEKTRONIKI I SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH

Katedrę Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych powołano w dniu 1 września 2006 zarządzeniem Rektora PG, w rezultacie połączenia Katedry Metrologii i Systemów Elektronicznych oraz Katedry Optoelektroniki PG.

Kierownik: dr hab. inż. Bogdan B. Kosmowski, prof. nadzw. PG dr hab. inż. Alicja Konczakowska, prof. nadzw. PG

prof. dr hab. inż. Ludwik Spiralski, prof. zw. (0,25 etatu, do 31.08.2006 r.) prof. dr inż. Romuald Zielonko, prof. zw. PG (od 01.07.2006 r. – 0,25 etatu) dr hab. inż. Andrzej Łoziński, ad.

dr inż. Bogdan Bartosiński, ad.

dr inż. Jacek Cichosz, ad.

dr inż. Zbigniew Czaja, ad.

dr inż. Marcin Gnyba, ad. (wykł. do 30.04.2006 r., ad. od 01.05.2006 r.) dr inż. Walerian Gruszczyński, doc.

dr inż. Lech Hasse, st. wykł.

dr inż. Jerzy Hoja, st. wykł.

dr inż. Ryszard Hypszer, ad.

dr inż. Ryszard Kowalik, ad. (0,5 etatu) dr inż. Grzegorz Lentka, ad.

dr inż. Adam Mazikowski, ad.

dr inż. Jerzy Pluciński, ad.

dr inż. Janusz Smulko, ad.

dr inż. Arkadiusz Szewczyk, ad.

dr inż. Wojciech Toczek, ad.

dr inż. Paweł Wierzba, ad.

dr inż. Piotr Wroczyński, ad.

mgr inż. Robert Bogdanowicz, asyst.

mgr inż. Stanisław Galla, asyst.

mgr inż. Małgorzata Jędrzejewska-Szczerska, asyst.

mgr inż. Michał Kowalewski, asyst.

mgr inż. Marek Niedostatkiewicz, asyst.

mgr inż. Marcin Strąkowski, asyst.

Pracownicy inżynieryjno-techniczni:

inż. Elżbieta Gasperowicz, spec.

mgr inż. Leszek Maj, spec.

inż. Marek Sienkiewicz, spec. (0,5 etatu) Anna Iwan, st. tech.

Krzysztof Cykowski, st. tech. (0,5 etatu) Andrzej Malarecki, st. tech.

Agnieszka Michalczyk, st. ref. techn.

Doktoranci:

mgr inż. Ireneusz Bemke mgr inż. Jerzy Chudorliński mgr inż. Emil Kaczmarek mgr inż. Karol Korcz mgr inż. Maciej Maciejewski mgr inż. Sylwia Rydzewska mgr inż. Krzysztof Rogala mgr inż. Barbara Stawarz mgr inż. Romuald Winter mgr inż. Jacek Wyszkowski mgr inż. Dariusz Załęski

Tematyka badań naukowych:

Badania naukowe w Katedrze Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych koncentrują się na optoelektronicznych metodach i systemach pomiarowych, komputerowo wspomaganej metrologii i diagnostyce oraz pomiarowych systemach elektronicznych. Badania są realizowane w trzech zespołach naukowo-badawczych.

Zespół Optoelektroniki (kierownik dr hab. inż. B. Kosmowski, prof. nadzw. PG):

- optoelektroniczne metody i systemy pomiarowe: koherentna tomografia optyczna (OCT), interferometria polaryzacyjna, spektroskopia laserowa (OAS, ramanowska i OES),

- zastosowania optoelektronicznych metod do kontroli procesów technologicznych, badania środowiska oraz w systemach bezpieczeństwa,

- innowacyjne procesy syntezy materiałów optoelektronicznych oraz konstrukcji elementów optoelektronicznych (procesy sol-żel, PA CVD): materiały DLC, elementy polaryzacyjne i dwójłomne,

- optoelektroniczne sensory wybranych wielkości fizycznych (naprężeń, temperatury, para-metrów środowiska).

Zespół Komputerowych Systemów Pomiarowych i Diagnostycznych (kierownik prof. dr inż.

R. Zielonko):

- teoria i technika pomiarów oraz diagnostyki układów i elektronicznych systemów pomiaro-wych (metody analityczne, magistrale testujące, testery wbudowane BIST),

- projektowanie, modelowanie i realizacja systemów i mikrosystemów pomiarowych oraz systemów rozproszonych na bazie sieci komputerowych,

- metody i mikrosystemy do precyzyjnych pomiarów impedancji i spektroskopii impedan-cyjnej, w tym dla celów monitorowania zabezpieczeń antykorozyjnych,

- telemetria i telediagnostyka obiektów trudnodostępnych,

- systemy zabezpieczeń obiektów oraz identyfikacji osób i towarów,

Zespół Miernictwa Sygnałów Losowych i Aparatury Pomiarowej (kierownik dr hab. inż. A. Kon-czakowska, prof. nadzw. PG):

- teoria i techniki pomiaru właściwości szumowych elementów, układów i systemów elektro-nicznych,

- metody i układy do pomiaru właściwości elektrofizycznych materiałów, elementów i obiektów przez badanie zjawisk fluktuacyjnych,

- cyfrowe przetwarzanie sygnałów losowych oraz modelowanie zjawisk przypadkowych, - metody i urządzenia do określania kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń,

- ocena niezawodności elementów, układów i urządzeń elektronicznych, w tym na podstawie ich szumów małoczęstotliwościowych,

- projektowanie profesjonalnej aparatury pomiarowej,

- nieniszczące badania obiektów z zastosowaniem spektroskopii szumowej, wskaźników nieli-niowości, emisji akustycznej i spektroskopii ultradźwiękowej.

ARTYKUŁY W CZASOPISMACH Z LISTY FILADELFIJSKIEJ

1. An ultrasonic obstacle detector based on phase beamforming principles / Strąkowski M., Kosmowski B.B., Kowalik R., Wierzba P. // IEEE Sensors Journal - Vol. 6, nr. 1 (2006), s. 179-186

Ultradźwiękowy wykrywacz przeszkód pracujący w oparciu o metodę beamformingu

fa-zowego. AF 74129

2. Bogdanowicz R., Gnyba M., Wroczyński P.: Optoelectronic monitoring of plasma discharge optimized for thin diamond film synthesis // Journal de Physique IV. Proceedings. - Vol. 137 (2006), s. 57-60

35th Winter School on Wave and Quantum Acoustics, Ustroń Poland, 27 February - 3 March, 2006

Optoelektroniczny monitoring wyładowań jarzeniowych na potrzeby syntezy diamentu

cienkowarstwowego. AF 74251

3. Czaja Z.: A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by micro-controllers. // Measurement. Article in Press, Corrected Proof [online]. 30 August. - 2006 [dostęp: 15 December 2006]. Dostępny w World Wide Web: www.sciencedirect.com Digital

Object Identifier: doi:10.1016/j.measurement.2006.07.015 Metoda diagnostyczna częsci analogowych mieszanych sygnałowo systemów sterowanych

mikrokontrolerami. AF 74092

4. Identification of Optocoupler Devices with RTS Noise / Konczakowska A., Cichosz J., Szewczyk A., Stawarz B. // Fluctuations and Noise Letters - Vol. 6, nr. 4 (2006), s. 395-404 Identyfikacja transoptorów generujących szumy wybuchowe AF 75056 5. Jędrzejewska-Szczerska M., Kosmowski B.B., Hypszer R.: Shaping of coherence function of sources used in low-coherent measurement techniques // Journal de Physique IV. Proce-edings. - Vol. 137 (2006), s. 103-106 /por. poz. 2/

Kształtowanie funkcji koherencji źródeł wykorzystywnaych w niskokoherencyjnych

techni-kach pomiarowych. AF 74126

6. Pluciński J.: Accelerated Monte Carlo method for computation of photon migration by

ma-trix description of photon direction // Optica Applicata. - Vol. 35, nr. 4 (2005), s. 977-983 Faktycznie wydano w 2006

Przyśpieszona metoda Monte Carlo do obliczeń dyfuzji fotonów za pomocą macierzowego

opisu kierunku ich propagacji. AF 74101

7. Smulko J., Darowicki K., Zieliński A.: Evaluation of reinforcement corrosion rate in concrete structures by electrochemical noise measurements // Russian Journal of Electrochemistry. -

Vol. 42, nr 5 (2006), s. 546-550 AF 72925

Ocena szybkości korozji zbrojenia betonu za pomocą techniki szumu elektrochemicznego.

8. Smulko J.: Methods of electrochemical noise analysis for investigation of corrosion proc-esses // Fluctuation and Noise Letters. - Vol. 6, nr 2 (2006), s. R1-R9 AF 73866 Metody analizy szumów elektrochemicznych stosowane do oceny zjawisk korozji.

9. Theoretical and experimental investigation of Optical Coherent Tomography topologies / Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Pluciński J., Kosmowski B.B., Hypszer R. //

Journal de Physique IV. Proceedings. - Vol. 137 (2006), s. 149-152 /por. poz. 2/

Teoretyczna i eksperymentalna weryfikacja konfiguracji koherentnego tomografu

optycz-nego. AF 74127

10. Theoretical and experimental investigation of low-noise optoelectronic system configurations for low-coherent optical signal detection / Jędrzejewska-Szczerska M., Strąkowski M., Kos-mowski B.B., Hypszer R. // Journal de Physique IV. Proceedings. - Vol. 137 (2006), s. 107-110 /por. poz. 2/

Teoretyczna i eksperymentalna weryfikacja konfiguracji niskoszumnego systemu opto-elektronicznego do detekcji optycznych sygnałów. niskokoherentnych. AF 74128 11. Toczek W.: An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop. // Measurement.

Arti-cle in Press, Corrected Proof [online]. 4 July - 2006

[dostęp: 28 November 2006]. Dostępny w World Wide Web: www.sciencedirect.com

Wbudowany tester oscylacyjny z pętlą ARW. AF 73873

12. Wierzba P., Gnyba M.: Modelling of optical components made of liquid crystals and liquid crystalline polymers // Journal de Physique IV. Proceedings. - Vol. 137 (2006), s. 175-178 /por. poz. 2/

Modelowanie elementów optycznych wykonanych z ciekłych kryształów i polimerów

cie-kłokrystalicznych. AF 74183

ARTYKUŁY W INNYCH CZASOPISMACH RECENZOWANYCH

1. An Optical Low-Coherence System for 2-Dimensional Visualization of Thin Polymer Layers / Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Maciejewski M., Hypszer R., Pluciński J., Kosmowski B.B. // W: Proceedings SPIE : Photonics Applications in Astronomy, Communi-cations, Industry, and High-Energy Physics Experiments IV, Wilga, Poland 30 May-5 June, 2006 / ed R. S. Romaniuk. - Bellingham : SPIE, 2006. - (Proceedings SPIE ; Vol. 6159),

s. 61593I-1-61593I-6 AR 74123

Optyczna niskokoherentna tomografia optyczna do obrazowania cienkich warstw polimerów.

2. Arentowicz K., Bartosiński B.: Implementacja mikroserwerowa TCP/IP w systemie diag-nostycznym bazującym na cyfrowej magistrali testujacej IEEE 1149.1 // Pomiary

Auto-matyka Kontrola. - 2006, nr 9 bis, s. 87-89 AR 75779

MKM'06 : 38 Międzyuczelniana Konferencja Metrologów, Warszawa, 4-6 września, 2006 3. Chobola Z., Hasse L., Spiralski L.: 1/f noise as a diagnostic tool for non-destructive testing

of silicon solar cells // Elektronika. - T. 47, nr. 1 (2006), s. 48-49

Szum 1/f jako narzędzie diagnostyczne badań nieniszczących krzemowych ogniw

słonecz-nych. AR 74458

4. Cichosz J., Konczakowska A., Szatkowski A.: Komputerowy algorytm identyfikacji szumów

RTS // Zesz. Nauk. Wydz. Elektrotech. i Autom. P. Gdań. - 2006, nr. 22, s. 9-18

Zastosowanie Komputerów w Nauce i Technice 2006. XVI cykl seminariów

zorganizowa-nych przez PTETiS, Oddział w Gdańsku. AR 74471

5. Cichosz J., Szatkowski A., Konczakowska A.: A method of identification of RTS compo-nents in noise signals // Mertology and Measurement Systems. - Vol. 13, nr. 4 (2006), s. 373-382

Identyfikacja składowej rts w sygnałach szumowych. AR 75052 6. Czaja Z., Załęski D.: Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów

wbu-dowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego // Zeszyty Naukowe Wydziału ETI PG.

Technologie Informacyjne. - T. 9 (2006), s. 23-30 AR 75645 7. Dispersion compensation in optical coherence tomography / Maciejewski M., Strąkowski M., Pluciński J., Kosmowski B.B. // W: Proceedings of SPIE : Photonics Applications in Astron-omy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments 2006, Wilga, Po-land, 29 May- 4 June 2006 / R.S. Romaniuk. - Bellingham : SPIE, 2006. - (Proceedings SPIE

; Vol. 6347), s. 63471K

Kompensacja dyspersji w optycznej tomografii koherentnej. AR 74124 8. Fiber - optic low-coherence tomography system for visualization of internal structure of

ce-ramic materials / Jędrzejewska-Szczerska M., Strąkowski M., Hypszer R., Kosmowski B.B.

// W: Proceedings SPIE : Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments IV, Wilga, Poland 30 May-5 June 2006, s. 61593H-1-61593H-4 /por. poz. 1/

Światłowodowa niskokoherentna tomografia optyczna do wizualizacji wewnętrznej struktury

materiałów ceramicznych. AR 74122

9. Fluctuation phenomena in semiconductor gas sensors / Hasse L., Smulko J., Spiralski L., Dobkowski J. // Elektronika. - R. 47, nr. 2 (2006), s. 7-9

Zjawiska fluktuacyjne w półprzewodnikowych czujnikach gazu. AR 74457 10. Graczyk J., Wroczyński P., Bogdanowicz R.: Wytłaczanie past ceramicznych - optyczny monitoring poślizgu przyściennego // Ceramika. Polski Biuletyn Ceramiczny. - Vol. 91 (2006), s. 995-1002

Materiały V Konferencji Ceramicznej, Zakopane 2005. AR 72590 11. Hasse L., Šikula J., Blaha M.: Analysis of nonlinear effects as a diagnostic tool // Zeszyty

Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki PG. - 2006, nr. 22, s. 63-71 /por. poz. 4/

Analiza efektów nieliniowych jako narzędzie diagnostyczne. AR 74615 12. Hasse L., Turczyński J., Spiralski L.: Nonlinear and fluctuation phenomena as reliability

predictors for foil capacitors // Elektronika. - R. 47, nr. 1 (2006), s. 45-48

Prognozowanie niezawodności kondensatorów foliowych na podstawie zjawisk nieliniowych

i fluktuacyjnych. AR 74459

13. Hoja J., Lentka G.: Analizator do elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej // Zeszyty Naukowe Wydziału ETI PG. Technologie Informacyjne. - T. 9, nr. 4 (2006), s. 15-22

AR 74582

14. Hoja J., Lentka G.: Analizator do spektroskopii wysokoimpedancyjnej wykorzystujący DFT w detekcji fazoczułej // Pomiary Automatyka Kontrola - 2006, nr. 6, s. 45-47

SP'6 VI Konferencja Naukowa Systemy Pomiarowe w Badaniach Naukowych i Przemyśle,

Łagów, 21-24czerwca 2006. AR 74584

15. Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Kosmowski B.B.: Synthesized light source for opti-cal coherence tomography // W: Proceedings SPIE : Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments IV, Wilga, Poland 30 May-5 June 2006, s. 61593F-1-61593F-6 /por. poz. 1/ AR 74121 Syntezowane źródła optyczne stosowane w optycznej tomografii niskokoherentnej.

16. Kalita W., Spiralski L., Sabat W.: Analiza częstotliwościowa sprzężeń

elektromag-netycznych w układach ścieżek mikroelektronicznego układu hybrydowego // Elektronika. -

R. 47, nr. 1 (2006), s. 39-44 AR 74470

17. Konczakowska A., Barlik R., Zymmer K.: Budowa i badania prototypowych podukładów funkcjonanych elektronicznych i energoelektronicznych, w tym wysokotemperaturowych, wykorzystujących opracowane elementy i przyrządy - zadanie 3. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastosowania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur'' // Elektronika. - R. 47, nr. 9 (2006), s. 12-14 AR 74474 18. Konczakowska A., Cichosz J., Szewczyk A.: A new methof for identification of RTS noise //

Bull. Pol. Acad. Sci. - Vol. 54, nr. 4 (2006), s. 457-460

Nowa metoda identyfikacji szumów wybuchowych. AR 75050 19. Kowalewski M.: Sieć neuronowa z dwucentrowymi radialnymi funkcjami bazowymi do

klasyfikacji uszkodzeń parametrycznych // Zesz. Nauk. Wydz. ETI PG. Technologie

Infor-macyjne. - T. 9 (2006), s. 31-38 AR 72685

20. Kowalik R.: Rola słuchu w życiu człowieka niewidomego. // Praca i Rehabilitacja

Niepeł-nosprawnych. - 2006, s. 34-36 AR 74702

21. Kowalik R.: System informacyjny GDASKON czynnikiem ułatwiającym podjęcie zatrud-nienia przez osoby niepełnosprawne // Aktywizacja Zawodowa Osób Niepełnosprawnych. - T. 1-2, nr. 5-6 (2006), s. 123-131

Ogólnopolska Konferencja Naukowa ''Aktywizacja zawodowa osób niepełnosprawnych'',

Warszawa 21 czerwca 2006. AR 74701

22. Lentka G.: Diagnostyka obiektów trudno dostępnych // Wiadomości Elektrotechniczne. - R.

74, nr. 8 (2006), s. 33-37 AR 75312

23. Mazikowski A.: Verification of multiband system for non-contact emissivity measurements //

W: Proceedings SPIE : Optoelectronic and Eletronic Sensors VI Zakopane, Poland 19-22 June, 2006 / ed T. Pisarkiewicz. - Bellingham, USA : SPIE, 2006. - (Proceedings SPIE ; Vol.

6348), s. 63480L-1 - 63480L-7 AR 74179

Weryfikacja wielopasmowego systemu do bezkontaktowych pomiarów emisyjności.

24. Mazikowski A., Kaczmarek E.: Fluorescence measurements for chemical optical sensor of cobalt // W: Proceedings SPIE : Optoelectronic and Eletronic Sensors VI Zakopane, Poland, 19-22 June, 2006, s. 63480N-1 - 63480N-6 /por. poz. 23/

Pomiary fluorescencji dla opto-chemicznego sensora kobaltu. AR 74180 25. Mazikowski A., Kaczmarek E., Kosmowski B.B.: Optoelektroniczne sensory

fluorescency-jne dla monitoringu zanieczyszczeń środowiska // Zeszyty Naukowe Wydziału ETI PG.

Technologie Informacyjne. - T. 9 (2006), s. 117-122 AR 74176 26. Modeling of broadband light source to use with optical coherent tomography system /

Macie-jewski M., Pluciński J., Kosmowski B.B., Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Hyp-szer R. // W: Proceedings SPIE : Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry and Highenergy Physics Experiments IV Wilga, 2006, s. 870-875 / por. poz. 1/

Modelowanie źródeł szerokopasmowych na potrzeby systemów koherentnej tomografii

opty-cznej. AR 74099

27. Pluciński J.: Applying of the optical time-of-flight spectroscopy for the paper and pulp char-acterization // W: Proceedings SPIE : Lightmetry and Light and Optics in Medicine 2004, Warsaw, Poland 20-22 October, 2004 / eds: K. Kolacz, J. Sochacki. - Bellingham : SPIE, 2005. - (Proc. SPIE ; Vol. 6158), s. 615807-1-615807-6

Wykorzystanie optycznej spektroskopii czasu przelotu dla oceny parametrów papieru i

miaz-gi drzewnej. AR 74100

28. Polarization sensitive optical coherence tomography system / Maciejewski M., Pluciński J., Strąkowski M., Kosmowski B.B. // W: Proceedings SPIE : Optoelectronic and Electronic Sensors VI. Wilga, 2006, s. 634803-1-634803-6 /por., poz. 23/

System koherentnej tomografii optycznej czułej na stan polaryzacji. AR 74097

29. Polarization state analysis in optical coherence tomography / Strąkowski M., Pluciński J., Maciejewski M., Kosmowski B.B. // W: Proceedings of SPIE : Photonics Applications in As-tronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments 2006, Wilga, Poland, 29 May- 4 June 2006 / ed. R.S. Romaniuk. - Bellingham : SPIE, 2006. - (Proce-edings SPIE ; Vol. 6347), s. 63471J

Analiza stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii niskokoherentnej. AR 74125 30. Przeprowadzenie prób obejmujących miernictwo i charakteryzację opracowanych

element-tów, przyrządów i prototypowych podukładów funkcjonalnych zgodnie z obowiązującymi normami - zadanie 4. projektu ''Nowe technologie na bazie węglika krzemu i ich zastoso-wania w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i wysokich temperatur'' / Koncza-kowska A., Gwarek W., Napieralski A., Zarębski J. // Elektronika. - R. 47, nr. 9 (2006),

s. 10-12 AR 74475

31. Stawarz B.: Analiza wyników pomiarów szumów m. cz. diod LED transoptorów CNY 17 //

Elektronika. - T. 47, nr. 11 (2006), s. 20-22 AR 74481 32. Stawarz B.: Badanie stacjonarności przebiegów szumowych w transoptorach cny 17 //

Elek-tronika. - 2006, nr 2, s. 15-17 AR 73871

33. Toczek W.: Teoretyczne i praktyczne aspekty zastosowania modulatora sigma-delta w teste-rze wbudowanym BIST // Zesz. Nauk. Wydz. ETI Politech. Gdań. Technologie

Informacy-jne. - 9 (2006), s. 7-14 AR 73636

34. Wierzba P., Mazikowski A.: Modeling of polarimetric sensors using LabVIEW environment // W: Optoelectronic and Electronic Sensors VI, Wilga, 2006, s. 63480O-1-63480O-6 /por.

poz. 23/

Modelowanie sensorów polarymetrycznych za pomocą środowiska LabVIEW. AR 74111 35. Wierzba P.: Modeling of selected transducer designs for optical pressure sensors using

po-larization interferometry // W: Proceedings SPIE : Optoelectronic and Electronic Sensors VI, Zakopane, 2006, s. 634802-1-634802-7 /por. poz.23

Modelowanie wybranych przetworników pomiarowych optycznych czujników ciśnienia wykorzystujących interferometrię polaryzacyjną. AR 74108 36. Wierzba P.: Setups for measurement of thermal time constant of bolometers and resistive layers // W: Proceedings SPIE : Optoelectronic and Electronic Sensors VI Zakopane, 2006,

s. 634809-01-634809-07 /por. poz. 23/ AR 74109

Układy do pomiaru termicznej stałej czasowej bolometrów i warstw rezystywnych.

37. Zastosowanie optycznej tomografii niskokoherentnej do 2-wymiarowego obrazowania cien-kich warstw polimerów / Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Maciejewski M., Hyp-szer R., Pluciński J., Kosmowski B.B. // Elektronika. - Vol. 47, nr. 5 (2006), s. 67-68

AR 74131

38. Łoziński A., Wierzba P., Rydzewska S.: Optimization of working conditions of thick-film LSFO bolometers // W: Proceedings SPIE : Optoelectronic and Electronic Sensors VI Za-kopane, 2006, s. 63480B-01-63480B-07 /por. poz. 23/

Optymalizacja punktu pracy bolometrów grubowarstwowych wykonanych z LSFO.AR 74110 MONOGRAFIE I PODRĘCZNIKI AKADEMICKIE

1. Konczakowska A.: Szumy z zakresu małych częstotliwości - Metody pomiaru, zastosowanie do oceny jakości przyrządów półprzewodnikowych / ed. L. Bolc. - Warszawa : Akad. Ofic.

Wydaw. EXIT, 2006. - 189 s. MK 74482

2. Smulko J.: Problemy pomiarów i analizy szumów elektrochemicznych / Janusz Smulko ; Politechnika Gdańska/ - Gdańsk : Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, 2006. - Monografie

/ Politechnika Gdańska ; 77. - 130 s. MK 73864

ROZDZIAŁY W MONOGRAFIACH I PODRĘCZNIKACH AKADEMICKICH

1. Pluciński J., Strąkowski M.: Advanced OCT techniques for biomedical applications - theo-retical ideas versus technical restriction // W: Optical Methods in Medical Diagnosis War-saw, October 2005 / eds: R. Maniewski, G. Nilsson, H. Rinneberg - Warsaw : International Centre of Biocybernetics Polish Acad. Sci., 2006. - (Lecture Notes of the ICB Seminar ; Vol.

72). - S. 85-91

Zaawansowane techniki OCT w zastosowaniach biomedycznych - rozważania teoretyczne

a ograniczenia techniczne. MCM 74102

PATENTY, WZORY UŻYTKOWE

1. Opis patentowy ; PL 191318 B1. Układ zasilania niskociśnieniowych lamp wyładowczych.

Tlaga W., Hoja J., Gysell B., Palmquist B. // / PLS SYSTEMS I HESTRA AB, Hestra, SE (PL) ; wynalazca: W. Tlaga, J. Hoja, B. Gysell, B. Palmquist. - Polska. - Zgłosz. nr. 342405 z 17.02.1999. - Opubl. WUP nr 04 z 28.04.2006, 8 s. : 4 rys. , 2006. Q 74586 PROJEKTY BADAWCZE MINISTERSTWA NAUKI I SZKOLNICTWA WYŻSZEGO:

Projekty badawcze zakończone

„Bolometryczne detektory podczerwieni wykorzystujące tlenkowe warstwy przewodzące systemu LSCOi LSFO”

Kierownik i główny wykonawca badań: A. Łoziński.

(Projekt badawczy nr 4T11B 049 25)

„Ocena właściwości szumowych oraz jakości transoptorów”

Kierownik i główni wykonawcy badań: A. Konczakowska, J. Cichosz, A. Szewczyk.

(Projekt badawczy nr 3T10C 026 28). Z 74473

„Technika wykrywania mieszanin gazów za pomocą zjawisk fluktuacyjnych w czujnikach gazów”

Kierownik i główni wykonawcy badań: J. Smulko, L. Hasse, L. Spiralski, J.T. Dobkowski.

(Projekt badawczy nr0T00A 008 28). Z 073863

„Metody i mikrosystemy pomiarowe do testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych i obiektów technicznych modelowanych obwodami elektrycznymi”

Kierownik i główni wykonawcy badań: R. Zielonko, J. Hoja, W. Toczek.

(Projekt badawczy nr 4T10C 028 25)

„Systemy Ramanowskie do diagnostyki procesów syntezy cienkowarstwowych materiałów elektronicznych i optycznych”

Kierownik i główny wykonawca badań: B. B. Kosmowski, M. Gnyba (Projekt badawczy nr 4T11B 06225).