www.ptcer.pl/mccm
B
OŻENAB
URTAN1, I
WONAG
RELOWSKA2, J
ANW
ASYLAK2, M
ANUELAR
EBEN2*
1Politechnika Krakowska, Wydział Fizyki, Matematyki i Informatyki, Instytut Fizyki, ul. Podchorążych 1, 30–084 Kraków 2AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki, KSiPA, al. A. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków
*e-mail: manuelar@agh.edu.pl
1. Wprowadzenie
Szkła specjalne mogą przekazywać światło na duże od-ległości, zmieniać częstotliwość padającego na nie promie-niowania i stąd ich zastosowanie w technice światłowodowej i optoelektronice dla telekomunikacji [1-6]. Najistotniejszą z punktu widzenia optoelektroniki cechą szkieł tellurowych jest zakres przepuszczalności w podczerwieni, który sięga do 7 μm [7-8]. Wśród różnych matryc szklistych, szkła z układu TeO2–WO3–PbO są odpowiednim materiałem optycznym,
posiadającym wysoką stabilność termiczną oraz wysoki współczynnik załamania światła [9].
Optyczne i strukturalne badania szkieł tellurowych
z układu TeO
2
–WO
3
–PbO modyfi kowanych
tlenkami lutetu i lantanu
Streszczenie
W artykule przedstawiono badania dotyczące wpływu tlenków lutetu i lantanu na właściwości fi zykochemiczne szkieł tellurowych z układu TeO2–WO3–PbO. Przebieg przemian fazowych, zachodzących podczas ogrzewania szkieł, badano przy pomocy metody DTA, XRD
oraz SEM. Przy pomocy spektroskopii MIR oraz Ramana określono wpływ modyfi katorów w postaci lantanu i lutetu na strukturę szkieł tellurowych. Na podstawie badań optycznych transmisji i odbicia potwierdzono wysoką przepuszczalność szkieł zwłaszcza w środkowej podczerwieni. Przy pomocy badań elipsometrycznych stwierdzono, że modyfi katory w postaci jonów Lu3+ i La3+ obniżają wartość
współ-czynnika załamania światła.
Słowa kluczowe: szkła tellurowe, współczynnik załamania, modyfi kator szkła, La2O3, Lu2O3
OPTICAL, THERMAL AND STRUCTURAL STUDIES OF TERNARY TeO2–WO3–PbO GLASSES MODIFIED
WITH LANTHANUM AND LUTETIUM OXIDES
The goal of this work was to investigate the infl uence of lanthanum and lutetium oxides on physicochemical properties of the TeO2-WO
3--PbO glass matrix. Differential thermal analysis DTA, XRD, SEM measurements have been considered in terms of the La2O3 and Lu2O3
addition. Raman and MIR spectroscopy was used for characterization of glasses. The Raman spectra of the glasses were interpreted in
terms of the structural transformations produced by the modifi ers.The refl ectance, transmittance and ellipsometric measurements have been done. Decreasing of the refractive index of the base glass with the Lu3+ and La3+ ion doping has been found.
Keywords: Tellurite glasses, Refractive index, Glass modifi er, La2O3, Lu2O3
Szkła optyczne modyfi kowane tlenkiem lantanu i tlenkiem lutetu uzyskują nowe specyfi czne właściwości, które wynikają ze struktury elektronowej tych pierwiastków. Szkła tellurowe modyfi kowane tlenkiem lantanu, ze względu na niską ener-gię fononów (750 cm-1), są dobrym kandydatem na bazowe
materiały do budowy wzmacniaczy i urządzeń laserowych.
2. Opis eksperymentu
Zestawy szkieł tellurowych z układu TeO2–WO3–PbO
mo-dyfi kowane tlenkiem lantanu (La2O3) i tlenkiem lutetu (Lu2O3)
topiono przy użyciu chemicznie czystych surowców: TeO2
(60% mol.), WO3 (27% mol.), PbO (10% mol.), La2O3 (3%
mol.), Lu2O3 (3% mol.). Topienie 25 gramowych zestawów
przeprowadzono w tyglach ze złota z platynową pokrywką w piecu elektrycznym w temperaturze 850 °C w atmosferze powietrza. Stopione zestawy wylano do mosiężnej formy, podgrzanej do temperatury 330 °C. Otrzymane szkła od-prężono w temperaturze w zakresie 320–340 °C. Składy wytopionych szkieł przedstawiono w Tabeli 1.
Tabela. 1. Składy topionych szkieł. Table 1. Chemical composition of glasses.
Nazwa szkła Stężenie [% mol.]
TeO2 WO3 PbO La2O3 Lu2O3
TWP 60 30 10 -
-TWPLa 60 27 10 3
2.1. Metodyka badań
Badania strukturalne szkieł tellurowych z układu TeO2
– WO3 – PbO – La2O3 oraz TeO2 – WO3 – PbO – Lu2O3
przeprowadzono przy użyciu spektroskopii w podczerwieni (MIR – ang. mid-infrared oraz spektroskopii Ramana). Po-miary w obszarze MIR zastały wykonane na spektrometrze fourierowskim Vertex 70v fi rmy Bruker. Widma zarejestro-wano w skali absorbancji w zakresie 4000–400 cm-1, przy
256 skanach i rozdzielczości 4 cm-1.
Pomiary ramanowskie wykonano na spektrometrze Hori-ba Jobin Yvon LabRam HR800. Jako źródła wzbudzającego użyto lasera Ar+ 532 nm. Widma rejestrowano w zakresie
50–4000 cm-1.
Charakterystyczne efekty termiczne zachodzące podczas ogrzewania szkieł tellurowych zbadano przy wykorzystaniu termicznej analizy różnicowej (DTA – ang. differential thermal
analysis) i skaningowej kalorymetrii różnicowej (DSC – ang. differential scanning calorimetry). Amorfi czność otrzymanych
szkieł bezpośrednio po wytopie potwierdzono przy pomocy badań rentgenowskich (XRD – ang. X-ray diffraction).
Pomiary elipsometryczne badanych szkieł tellurowych polegały na wyznaczeniu parametrów Ψ i Δ w funkcji długo-ści fali w zakresie widmowym 190–1700 nm [10]. Pomiary przeprowadzono dla trzech kątów padania, tj. 60°, 65° i 70°, wykorzystując elipsometr spektroskopowy M-2000 fi rmy J.A. Woollam. Znajomość parametrów elipsometrycznych pozwoliła na określenie zależności dyspersyjnych stałych optycznych badanych szkieł, a dodatkowo ich chropowatości [11]. Zarówno do rejestracji danych doświadczalnych, jak i dopasowywania odpowiedniego modelu teoretycznego służyło oprogramowanie CompleteEASE v. 4.1, w jaki elip-sometr M-2000 jest wyposażony.
Ze względu na bardzo słabą absorpcję w obszarze 400–1700 nm, można zastosować model Sellmeiera, po-zwalający na otrzymanie zależności analitycznej dyspersji współczynnika załamania dla badanych szkieł, tym bardziej, że model ten bardzo dobrze opisuje różnego rodzaju szkła, w tym tellurowe, dla których współczynniki załamania wy-znaczono bezpośrednio innymi metodami [12].
Dopasowanie parametrów elipsometrycznych w zakresie 400–1700 nm umożliwiło wyznaczenie dyspersji współ-czynnika załamania n(λ) w oparciu o jedną z wersji modelu Sellmeiera w postaci [13]:
,
)
(
5 , 0 2 2 2 2⎟
⎠
⎞
⎜
⎝
⎛
−
λ
−
λ
λ
+
=
λ
D
C
B
A
n
(1)gdzie A, B, C i D są stałymi dopasowania.
W celu wyznaczenia transmisji oraz odbicia, próbki zostały poddane badaniom na dwuwiązkowym spektrofoto-metrze JASCO V-570, pracującym w zakresie długości fal 190–2500 nm, tj. w obszarze nadfi oletu, światła widzialnego i bliskiej podczerwieni (UV – Vis – NIR).
Widma współczynnika absorpcji wyznaczono uwzględ-niając wielokrotne odbicia w próbkach o grubości d, współ-czynnik załamania, odbicie od i transmisję przez górną i dolną powierzchnie próbek, które opisują współczynniki Fresnela [14].
Sumując natężenia wiązek opuszczających górną powierzchnię warstwy uzyskujemy całkowite odbicie R,
natomiast sumując natężenia wiązek opuszczających dolną powierzchnię otrzymujemy całkowitą transmisję T. Dla do-wolnego kąta padania, wzory są bardzo skomplikowane [15], natomiast przy padaniu normalnym (0 = 1 = 0) i przy
zało-żeniu, że warstwa o grubości d, współczynniku załamania n i współczynniku ekstynkcji k, jest otoczona przez powietrze (tj. n = 1), otrzymuje się wzory, które można przedstawić w zwartej postaci jako [15]:
ϕ
τ
+
ϕ
τ
−
τ
ρ
+
τ
−
ρ
+
=
2
sin
)
Im(
2
2
cos
)
Re(
2
1
]
)
Re(
2
1
[
2 2 2 2 2 2r
r
r
T
(2)ϕ
τ
+
ϕ
τ
−
τ
ρ
+
ϕ
τ
ρ
−
τ
+
ρ
=
2
sin
)
Im(
2
2
cos
)
Re(
2
1
2
cos
2
)
1
(
2 2 2 2 2r
r
R
(3) gdzieτ
=
exp(
−
a
d
)
,λ
π
=
ϕn
d
a
2
, r – współczynnikodbicia Fresnela, Re i Im - części rzeczywista i urojona liczby zespolonej r2.
Obecność członów trygonometrycznych w powyższych wzorach sprawia, że zależności T(λ) i R(λ) mają, w obszarze słabej absorpcji, charakter oscylacyjny, przy czym maksi-mom interferencyjnym w transmisji odpowiadają minima w odbiciu i odwrotnie. W miarę wzrostu grubości warstwy, liczba ekstremów interferencyjnych w określonym przedziale długości fali rośnie i w przypadku, kiedy zdolność rozdzielcza aparatury mierzącej T i R staje się mniejsza niż odległość między ekstremami, następuje ich uśrednienie, co prowadzi do uzyskania gładkich widm T(λ) i R(λ). Takie uśrednienie można przeprowadzić matematycznie, w wyniku czego wspomniane powyżej wzory przybierają następującą, prostą postać [15-16]:
)
1
(
T
R
=
ρ
+
τ
, (4) gdzie 2 2 21
)
1
(
τ
ρ
−
ρ
−
τ
=
T
i 2 2 2 2)
1
(
)
1
(
k
n
k
n
+
+
+
−
=
ρ
.Wielkość opisuje odbicie od górnej powierzchni próbki, bez uwzględnienia odbić wielokrotnych i jest związana ze współczynnikiem odbicia Fresnela r relacją:
2 2
1
1
k
i
n
k
i
n
r
−
+
+
−
=
=
ρ
(5)3. Dyskusja i omówienie wyników
Zarejestrowane widma Ramana szkieł z układu TeO
2--WO3-PbO modyfi kowanych tlenkiem lantanu i lutetu,
przed-stawione na Rys. 1a, charakteryzują się obecnością trzech grup intensywnych pasm absorpcyjnych, położonych w za-kresach 300–560 cm-1, 550–850 cm-1 oraz 850–1000 cm-1
[17]. Pasma z maksimami przy ok. 475 cm-1, 665 cm-1 oraz
720 cm-1 przypisywane są wiązaniom Te–O–Te i O–Te–O
i odpowiadają drganiom rozciągającym Te-O, występującym zarówno w trójkątnych bipiramidach [TeO4], jak również
Słabo widoczne przegięcie, występujące przy ok. 675 cm-1,
przypisywane jest trójkątnym piramidom [TeO3], podczas gdy
pasmo leżące przy ok. 725 cm-1 przypisywane jest
wiąza-niom typu Te-Oeq, występującym w zniekształconej trójkątnej
bipiramidzie [TeO4] [18].
Dodanie tlenków La2O3 oraz Lu2O3 powoduje uwypuklenie
pasma, któremu przypisywane są drgania Te-O w jednostce [TeO3]. Natomiast obserwowane zmniejszenie
intensywno-ści pasma związanego z drganiami Te-Oeq, występującego
w zniekształconej jednostce [TeO4], może świadczyć o
wbu-dowywaniu się jonów Ln do struktury szkieł poprzez
zamia-nę wiązań O–Te–O, czy Te–O–Te na wiązania Ln–Te–O, Ln–O–Te czy O–Ln–O. Intensywne pasmo, widoczne przy ok. 911 cm-1, jest charakterystyczne dla jonów wolframu
występujących w jednostce [WO6] i [WO4]. Pasma przy ok.
470 i 350 cm-1 przypisywane są wiązaniom Te-O-W i Te-O-Te
(470 cm-1) i W-O-W w [WO
6] i Pb-O w PbO4. [17].
Na Rys. 1b przedstawiono zestawienie widm MIR bada-nych szkieł. Na widmie szkła wyjściowego (nie zawierającego jonów La i Lu) widoczne są cztery pasma lub przegięcia przy ok. 926 cm-1, 843 cm-1, 774 cm-1 i 662 cm-1. Pasma te
związane są z drganiami rozciągającymi W-O (925 cm-1)
w [WO4] i [WO6], drganiami połączeń W-O-W, drganiami
Te-Oeq (775 cm-1) w [TeO4] i Te-Oax (660 cm-1) w [TeO4] [19].
Podobny układ pasm zaobserwowano na widmach szkieł zawierających jony La i Lu. Pewne różnice uwidaczniają się tylko w przypadku głównego pasma położonego przy ok. 662 cm-1. Widoczne jest znaczące przesunięcie tego pasma
w kierunku niższych liczb falowych (650–655 cm-1), co jest
charakterystyczne dla wiązań Te-O-. Fakt ten wskazuje, że
wprowadzenie jonów La i Lu doprowadza do zrywania most-ków Te-O-Te i/lub Te-O-W i pojawienia się wiązań Te-O-Ln.
Na podstawie analizy krzywych DSC, które przedstawio-no na Rys. 2, oraz obliczonych wartości zmian parametrów termicznych, towarzyszących pojawiającym się efektom, potwierdzono wpływ modyfi kacji składu wyjściowego TWP szkieł tellurowych na przebieg zmian zachodzących w trak-cie ogrzewania omawianych szkieł. Najmniejsza wartość zmiany ciepła molowego Cp (0,371 Jg-1C-1) szkła TWPLa
wskazuje na wzrost trwałości więźby tellurowej utrudniającej krystalizację, a przez to efekt krystalizacji pojawiający się w przypadku szkła TWP bez dodatku tlenku lantanu, ulega zanikowi (Rys. 2). Rozważając wpływ zawartości poszcze-gólnych składników badanych szkieł na ich charakterystykę termiczną stwierdzono, że modyfi kacja składu podstawo-wego szkła TWP tlenkiem lutetu kosztem zmniejszenia zawartości WO3 powoduje wzrost skokowej zmiany ciepła molowego Cp od 0,376 Jg-1C-1 (TWP) do 0,419 Jg-1C-1
(TWPLu) (Tabela 2). Zgodnie z prawidłowością, według której
Cp jest wskaźnikiem wzrostu entropii konfi guracyjnej [18],
obserwowana największa wartość skokowej zmiany ciepła molowego świadczy o zwiększonej ilości zerwanych wiązań chemicznych w trakcie przemiany stanu szklistego. Zjawisku temu towarzyszy wzrost tendencji szkła do krystalizacji, przejawiający się obniżeniem temperatury krystalizacji w sto-sunku do szkła podstawowego TWP oraz zmniejszeniem wartości parametru stabilności termicznej T = 117 C dla szkła TWPLu, (T = 161 C dla szkła podstawowego TWP). Obecność krystalizujących faz TeO2 i WO3, powstałych po
obróbce termicznej szkieł TWP oraz TWPLu w temperaturze krystalizacji potwierdzono rentgenografi cznie, co przedsta-wiają Rys. 3a i Rys. 3b.
Przedstawione na Rys. 4. zależności dyspersyjne współ-czynnika załamania dla badanych szkieł tellurowych są bar-dzo podobne. W obszarze fal długich, wielkość współczyn-nika załamania mieści się w zakresie 2,09 – 2,12 i wzrasta do 2,32 – 2,38 przy 400 nm. W wyniku dopasowania do z góry założonego modelu, otrzymano wartości parame-trów Sellmeiera, a także wartość współczynnika załamania dla standardowej długości fali 633 nm oraz chropowatość badanych próbek (Tabela na Rys. 4).
a)
b)
Rys. 1. Widma Ramana (a) i widma w podczerwieni (MIR) (b) szkieł tellurowych z układu TeO2-WO3-PbO (TWP), modyfi kowanych tlen-kami lantanu (TWPLa) oraz lutetu (TWPLu).
Fig. 1. Raman spectra (a) and infrared spectra (MIR) (b) tellurite glasses from the TeO2-WO3-PbO system (TWP) modifi ed with lan-thanum oxide (TWPLa) and lutetium oxide (TWPLu).
Wyniki pomiarów spektrofotometrycznych dla szkieł tellu-rowych TWP, TWPLa oraz TWPLu przedstawiono na Rys. 5. W oparciu o widma transmisji i odbicia określono zależności dyspersyjne współczynnika absorpcji, które przedstawiono na Rys. 6.
Przepuszczalność szkieł TWP i TWPLu w zakresie 900– 2500 nm jest podobna – na poziomie ok. 70%. Odbicie szkła TWP wynosi poniżej 20%. Dodatek tlenku lantanu do szkła TWP polepsza przepuszczalność, która jest na poziomie ok. 75% w zakresie 900-2500 nm, przy odbiciu na poziomie ok. 25%. W obszarze słabej absorpcji suma (T+R) dla szkła TWPLa wynosi ok. 98%, co świadczy o tym, że rozpraszanie światła przez powierzchnię i w objętości próbki jest bardzo niewielkie, a tym samym, że szkło jest jednorodne optycznie. Celem uwypuklenia różnicy między matrycą TWP, TWPLa i TWPLu w zakresie fal krótkich, na Rys. 6 przedstawiono zależności spektralne współczynnika absorpcji α w funkcji energii fotonów.
Podstawowa różnica między obiema matrycami polega na tym, że krawędź absorpcji w przypadku szkieł TWPLa i TWPLu jest przesunięta w stronę wyższych energii w sto-sunku do szkła TWP o ok. 0,1 eV, a ponadto zależność dys-persyjna współczynnika absorpcji dla szkieł TWP i TWPLu jest wyższa i wykazuje dodatkową absorpcję w zakresie 1,5–2,2 eV niewiadomego pochodzenia. Porównanie to po-kazuje, że dodanie La2O3 do szkła TWP wyraźnie poprawia
przepuszczalność, co ma duże znaczenie w perspektywie ewentualnych zastosowań szkła TWPLa jako matrycy dla aktywnych optycznie jonów lantanowców.
a) Position [°2Theta] 20 30 40 50 60 70 Counts 0 60 80 100 2_553C Peak List 00-052-1005; Tellurium Oxide; Te O2 b)
Rys. 3. Dyfraktogramy szkieł poddanych obróbce termicznej: a) szkło TWP wygrzane w temperaturze krystalizacji 548 oC przez 2 h, b) szkło TWPLu wygrzane w temperaturze krystalizacji 528 oC przez 2 h.
Fig. 3. X-ray diffraction patterns of glasses after heat treatment for 2 h: a) glass TWP at 548 oC, b) glass TWPLu at 528 oC.
Rys. 4. Zależność dyspersyjna współczynnika załamania światła dla szkła TWP, TWPLa oraz TWPLu.
Fig. 4. Dispersion relations, n(λ), of TWP, TWPLa and TWPLu glasses.
Rys. 2.Krzywe DTA szkieł tellurowych.
Fig. 2. DTA curves of tellurite glasses.
Tabela 2. Charakterystyka termiczna przemian fazowych zachodzą-cych w trakcie ogrzewania szkieł tellurowych.
Table 2. Thermal characteristics of tellurite glasses.
Szkło Tg [C] ∆Cp [Jg-1C-1] Tmax kryst. [C] ∆Hkryst.. [Jg-1] ∆T= Tmax.kryst. – Tg [C] TWP 387 0,376 548 54,483 161 TWPLa 405 0,371 – – – TWPLu 411 0.419 528 17,204 117
4. Podsumowanie
W oparciu o badania termiczne określono parametr stabilności termicznej badanych materiałów amorfi cznych oraz wartości charakterystycznych dla szkieł temperatur. Stwierdzono, że wzrost temperatury transformacji Tg,
ob-serwowany w przypadku szkła tellurowego modyfi kowanego tlenkiem lantanu oraz mniejsze zmiany ciepła molowego ΔCp, towarzyszące zakresowi transformacji, są dowodem na wzrost wytrzymałości, jak również elastyczności tego szkła. Ponadto dodatek tlenku lantanu do podstawowej matrycy szkła tellurowego powoduje zanik egzotermicznego efektu krystalizacji związanego z krystalizacją faz TeO2 i WO3.
Opierając się na wynikach badań spektroskopowych w podczerwieni ustalono, że dodanie tlenków La2O3 lub Lu2O3
do szkła o składzie TeO2-WO3-PbO (TWP) doprowadza do
zrywania mostków Te-O-Te i/lub Te-O-W i pojawienia się wiązań Te-O-La (Lu), a największa energia drgań sieci nie przekracza 1000 cm-1.
Badania elipsometryczne wykazały, że badane szkła tellurowe posiadają bardzo wysoki współczynnik załamania światła (powyżej 2), a jego dyspersja w obszarze słabej
absorpcji (400-1700 nm) może być opisana zależnością
Sellmeiera.
Na podstawie badań spektrofotometrycznych stwierdzo-no, że dodanie tlenku lantanu (La2O3) do szkła TWP zwiększa
ich przepuszczalność, a tym samym przesuwa krawędź absorpcji w stronę wyższych energii natomiast zastąpienie La2O3 przez Lu2O3 pogarsza przepuszczalność matrycy.
Podziękowanie
Praca sfi nansowana z działalności statutowej Wydziału Inżynierii Materiałowej i Ceramiki, Akademii Górniczo-Hut-niczej nr 11.11.160.365 za rok 2013.
Literatura
[1] El-Mallawany, R. A .H.: Tellurite Glasses: Physical Properties and Data, CRC Press, Boca Raton, Florida, 2002.
[2] Yamauchi, H., Senthil Murugan, G., Ohishi ,Y.: Optical
proper-ties of Er3+ and Tm3+ ions in a tellurite glass, J. Appl. Phys., 97,
(2005), 043505.
[3] Kaminskii, A. A.: Achievements of modern crystal-laser physics,
Ann. Phys., Paris, 16, (1991), 639-706.
[4] Kaminskii, A. A.: Laser crystals, Springer-Verlag, Berlin, 1990. [5] Lobbett, R., Wyatt, R., Eardley, P., Whitley, T. J., Smyth, P., Szebsta, D., Carter, S. F., Davey, S. T., Millar, C. A., Briefl y, M. C.: System characterization of high gain and high saturated output power Pr3+-doped fl uorozirconate fi ber amplifi ers at 1.3
μm, Electron. Lett. 27, (1991), 1472.
[6] Romaniuk, R., Dorosz, J.: Przegląd materiałów dla techniki światłowodowej w średniej podczerwieni, Szkło i ceramika, 44, (1983), 49-55.
[7] El-Mallawany, R. A. H.: The optical properties of tellurite glas-ses, J. Appl. Phys., 72, (1992), 1774-1777.
[8] El-Mallawany, R. A. H.: Tellurite Glasses Handbook, Physical
Properties and Data, CRC Press, Boca-Raton (USA), 2010.
[9] Ryba-Romanowski, W.: Effect of temperature and activator concentration on luminescence decay of erbium-doped tellurite glass, J. Lumin., 46, (1990), 163.
[10] Jellison, G. E.: Spectroscopic ellipsometry data analysis: me-asured versus calculated quantities, Thin Solid Films, 313-314, (1998), 33.
[11] Reben, M., Wasylak, W., Jaglarz, J.: Changes of refractive index of tellurite glass, Photonics Letters of Poland, 2, 1, (2010), 13-15.
[12] Mito, T., Fujino, S., Takebe, H., Moringa, K., Todoroki, S., Sakaguchi, S.: Refractive index and material dispersions of multi-component oxide glasses, J. Non-Cryst. Solids, 210, (1997), 155-162.
[13] Liu, J., Cano-Torres, J. M., Esteban-Betegon, F., Serrano, M. D., Cascales, C., Zaldo, C., Rico, M., Griebner, V., Petrov, V.:
Opt. Laser Techn., 39, (2007), 558.
[14] Heavens, O. S.: Optical properties of thin solid fi lms, Dover Publ., New York, 1965.
[15] Cunsolo, S., Dore, P., Varsamis, C. P.: Refractive index of crystals from transmission and refl ection measurements: MgO in the far-infrared region, Appl. Opt., 31, (1992), 4554-4558. [16] Nicolau, V. P., Balen, F. J.: Spectral radiative properties of glass
samples, High Temp. High Press., 33, (2001), 533-541. [17] Sharaf El-Deen, L. M., Al Salhi, M. S., Elkholy, Meawad M.: IR
and UV spectral studies for rare earths-doped tellurite glasses,
J. Alloys Compd., 465, (2008,) 333–339.
[18] Upender, G., Sathe, Vasant G., Mouli, V. Chandra: Raman spectroscopic characterization of tellurite glasses containing heavy metal oxides, Physica B, 405, (2010), 1269–1273. [19] Munoz-Martin, D., Villegas, M.A., Gonzalo, J.,
Fernandez-Na-varro, J. M.: Characterisation of glasses in the TeO2-WO3-PbO
system, J. Eur. Ceram. Soc., 29, (2009) 2903-2913.
Otrzymano 10 października 2013, zaakceptowano 22 stycznia 2014 Rys. 5. Widma transmisji i odbicia dla szkieł TWP, TWPLa i TWPLu.
Fig. 5. Transmittance and refl ection spectra of TWP, TWPLa and TWPLu glasses.
Rys. 6. Widmo współczynnika absorpcji α(E) dla szkieł tellurowych TWP, TWPLa i TWPL u.
